一种基于复合相位超构表面的多维度成像方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术所提供的一种基于复合相位超构表面的多维度成像方法及装置，所述方法包括：扫描基于超构表面的单元结构，得到扫描结构参数；根据所述扫描结构参数确定所述单元结构对应相位的传输相位和旋转角；将所述传输相位和所述旋转角编码在所述超构表面，得到多维度图像。本发明专利技术通过对偏振光施加不同混合图像的相位分布，并结合空间频率复用，能够时实现复合相位的联合调控。

【技术实现步骤摘要】
一种基于复合相位超构表面的多维度成像方法及装置
本专利技术涉及微纳光学器件设计
，尤其涉及的是一种基于复合相位超构表面的多维度成像方法及装置。
技术介绍
二维超构表面(以下简称超构表面)是近年来被广泛研究的人工光学材料，其通常由亚波长尺度的周期性谐振单元构成，是一种平面化的超构材料。其中，超构表面对光波的波长和偏振敏感，因而可通过超构表面感知的波长和偏振信息以实现光学应用。目前，超构表面的特性能够实现对光场单一维度和多维度的独立调控和复用，若要实现对不同光场的调控和复用，则需基于超构表面构造不同的单元结构。此种方式一方面存在空间范围的局限，另一方面由于单元结构的设计复杂度和加工难度，造成超构表面难以在光学方面广泛应用。因此，现有技术存在缺陷，有待改进与发展。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种基于复合相位超构表面的多维度成像方法及装置，旨在解决现有技术中的超构表面存在复用维度少及信息存储容量少的问题。本专利技术解决技术问题所采用的技术方案如下：本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于复合相位超构表面的多维度成像方法，其特征在于，包括：/n扫描基于超构表面的单元结构，得到扫描结构参数；/n根据所述扫描结构参数确定所述单元结构对应相位的传输相位和旋转角；/n将所述传输相位和所述旋转角编码在所述超构表面，得到多维度图像。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于复合相位超构表面的多维度成像方法，其特征在于，包括：
扫描基于超构表面的单元结构，得到扫描结构参数；
根据所述扫描结构参数确定所述单元结构对应相位的传输相位和旋转角；
将所述传输相位和所述旋转角编码在所述超构表面，得到多维度图像。


2.根据权利要求1所述的基于复合相位超构表面的多维度成像方法，其特征在于，所述扫描基于超构表面的单元结构，得到扫描结构参数之后，还包括：
根据所述扫描结构参数确定目标混合图像对应单元结构的长度和宽度。


3.根据权利要求2所述的基于复合相位超构表面的多维度成像方法，其特征在于，所述扫描基于超构表面的单元结构，得到扫描结构参数，包括：
基于水平方向偏振光和垂直方向偏振光分别扫描所述单元结构，得到目标混合图像及对应的所述扫描结构参数，所述扫描结构参数包括：水平相位分布和对应的水平透过率、垂直相位分布和对应的垂直透过率，所述水平方向偏振光入射下的所述水平相位分布的范围为0-2π，所述垂直方向偏振光入射下的所述垂直相位分布的范围为0-2π。


4.根据权利要求3所述的基于复合相位超构表面的多维度成像方法，其特征在于，所述扫描基于超构表面的单元结构，得到扫描结构参数之后，还包括：
从所述扫描结构参数中筛选出满足半波片条件参数的对应单元结构组成半波参数集合，所述半波条件参数包括：所述水平相位分布和垂直相位分布的相位差等于π。


5.根据权利要求4所述的基于复合相位超构表面的多维度成像方法，其特征在于，所述从所述扫描结构参数中筛选出满足半波片条件参数的对应单元结构组成半波参数集合之后，还包括：
将相位划分成8个相位梯度；
从所述半波参数集合中筛选出在各相位梯度中均具有最高透过率的所述水平相位分布或所述垂直相位分布对应的单元结构并组成梯度参数集合。


6.根据权利要求5所述的基于复合相位超构表面的多维度成像方法，其特征在于，所述根据所述扫描结构参数确定目标混合图像对应单元...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈书青，廖世康，贺炎亮，谢智强，陈学钰，刘俊敏，苏明样，李瑛，范滇元，
申请(专利权)人：深圳大学，
类型：发明
国别省市：广东;44