一种多通道Y波导器件的直流相位漂移参数测试系统技术方案

本发明专利技术公开了一种多通道Y波导器件的直流相位漂移参数测试系统，涉及测量及光电检测技术领域，其中该系统的光电开关单元包括m个光电开关模组；每个光电开关模组均包括n路光电开关，且n路光电开关共用一个输入端；每个光电开关模组均包括n个输出端。在该系统中，光源与光纤耦合器的第一端连接，光纤耦合器的第二端与一个光电开关模组的输入端连接，剩余的光电开关模组的输入端与光纤延时环连接；所有光电开关模组的输出端用于连接多通道Y波导器件；光纤耦合器的第三端通过光电探测器与信号处理调制模块的输入端连接，信号处理调制模块输出端用于连接多通道Y波导器件。本发明专利技术能够达到多通道连续快速测量直流相位漂移参数的目的。

【技术实现步骤摘要】
一种多通道Y波导器件的直流相位漂移参数测试系统
本专利技术涉及测量以及光电检测
，特别是涉及一种多通道Y波导器件的直流相位漂移参数测试系统。
技术介绍
Y波导相位调制器(简称Y波导)是一种多功能集成光学器件，是光纤陀螺系统光路部分的核心部件，也是集成光学的典型应用之一。Y波导的基本工作原理：在波导两侧加入电极，通过电极改变施加在波导两侧的电场来改变波导的折射率，使通过波导的光波产生相位差，从而实现对顺、逆两束光相位的动态调制。其评价参数主要包括光学参数(Y分支的插入损耗、分光比和偏振串音等)、电学参数(半波电压、残余强度调制等)。其中，半波电压参数之后更深层次的直流相位漂移参数是影响高精度光纤陀螺系统准确度和稳定性的重要电光响应参数之一。直流相位漂移也称为波形斜度，指的是波导器件在直流或在低频调制电场作用下，光信号的相位差漂移量与相位差的比值。由于Y波导的两侧电极施加调制电压时，铌酸锂衬底、缓冲层中的自由移动电荷(OH-、K+、Na+等碱性金属离子)会形成与外加电压相反方向的空间感应电场，造成原本施加在晶体上的有效电场强度减小，从而造成加在波导上的有效电压随时间而变化，这种现象便是所谓的直流相位漂移。目前，对于Y波导的制作已经有了较为成熟的工艺，尤其在如何提高性能的方面，众多学者对于Y波导的半波电压测试也进行了实验研究，但对于Y波导的直流相位漂移参数的自动化检测技术方面还有较大欠缺。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种多通道Y波导器件的直流相位漂移参数测试系统，以达到多通道连续快速测量直流相位漂移参数的目的。为实现上述目的，本专利技术提供了如下方案：一种多通道Y波导器件的直流相位漂移参数测试系统，包括：光源、光纤耦合器、光电开关单元、光纤延时环、光电探测器以及信号处理调制模块；其中，所述光电开关单元包括m个光电开关模组；每个所述光电开关模组均包括n路光电开关，且n路所述光电开关共用一个输入端；每个所述光电开关模组均包括n个输出端；所述光源与所述光纤耦合器的第一端连接，所述光纤耦合器的第二端与一个所述光电开关模组的输入端连接，剩余的所述光电开关模组的输入端与所述光纤延时环连接；所有所述光电开关模组的输出端用于连接多通道Y波导器件；其中，所述多通道Y波导器件的通道数为n；且工作时，所述光电开关模组的输出端与所述多通道Y波导器件的端口一一对应连接；所述光纤耦合器的第三端与所述光电探测器的输入端连接，所述光电探测器的输出端与所述信号处理调制模块的输入端连接，所述信号处理调制模块的第一输出端与所述光电开关模组连接，所述信号处理调制模块的第二输出端用于连接所述多通道Y波导器件。可选的，还包括：光纤隔离器；所述光源通过所述光纤隔离器与所述光纤耦合器的第一端连接。可选的，还包括：第一消偏光纤；所述光纤耦合器的第二端通过所述第一消偏光纤与所述光电开关模组的输入端连接。可选的，还包括：安装在所述光电开关模组的输出端上的连接法兰；工作时，所述光电开关模组的输出端通过所述连接法兰与所述多通道Y波导器件连接。可选的，还包括：第二消偏光纤；所述光纤延时环通过所述第二消偏光纤与所述光电开关模组的输入端连接。可选的，所述光纤延时环的数量为一个或者多个。可选的，当所述光纤延时环的数量为(m-1)/2时，所述多通道Y波导器件的直流相位漂移参数测试系统还包括第二消偏光纤和第三消偏光纤；其中，m≥3，m为所述光电开关模组的数量且为奇数；第一光纤延时环通过所述第二消偏光纤与一个所述光电开关模组的输入端连接，所述第一光纤延时环通过所述第三消偏光纤与另一个所述光电开关模组的输入端连接；其中，一个所述光电开关模组与另一个所述光电开关模组为相邻的光电开关模组；所述第一光纤延时环为所有所述光纤延时环中的一个。可选的，所述信号处理调制模块的第一输出端用于为所述光电开关模组供电；所述信号处理调制模块的第二输出端用于为所述多通道Y波导器件提供调制信号。根据本专利技术提供的具体实施例，本专利技术公开了以下技术效果：本专利技术采用光电开关模组对待测的多通道Y波导器件的光路进行控制通断，不用反复进行单只Y波导器件的实验性插拔。与单只Y波导器件的直流相位漂移参数测试系统相比，本专利技术能够有效地减少测试时间，极大提高测试效率，减少人工测试成本较高、测试误差大等问题，拓展了自动化测试系统应用前景。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术一种多通道Y波导器件的直流相位漂移参数测试系统的结构框图；图2为本专利技术一种多通道Y波导器件的直流相位漂移参数测试系统的结构示意图；图3为本专利技术一种多通道Y波导器件的直流相位漂移参数测试系统的具体实例图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。本专利技术的目的是提供一种多通道Y波导器件的直流相位漂移参数测试系统，以达到多通道连续快速测量直流相位漂移参数的目的。为使本专利技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本专利技术作进一步详细的说明。目前，现有测试系统的测试通道单一，效率低，且无法连续监测；而国内外也没有对Y波导器件的直流相位漂移参数进行多通道的连续、快速测量的自动化测试仪器。鉴于此，本专利技术提供了一种多通道Y波导器件的直流相位漂移参数测试系统，涉及测量以及光电检测
，特别是Y波导器件的多通道半波电压、直流相位漂移参数测量方向。本专利技术基于Sagnac干涉光路测试方案，利用具有互易结构的Sagnac光纤干涉仪来测量Y波导器件的直流相位漂移参数，展开多通道自动测试系统的研究。本专利技术采用光电开关模组(例如：3*3n路光电开关)对待测多通道Y波导器件的光路进行控制通断，不用反复进行单只Y波导器件的实验性插拔。与单只Y波导器件直流相位漂移参数测试系统相比，本专利技术能够有效地减少测试时间，极大提高测试效率，减少人工测试成本较高、测试误差大等问题，拓展了自动化测试系统应用前景。实施例一如图1所示，本实施例提供的多通道Y波导器件直流相位漂移参数测试系统主要包括：光源、光纤耦合器、光电开关单元、光纤延时环、光电探测器以及信号处理调制模块；其中，所述光电开关单元包括m个光电开关模组；每个所述光电开关模组均包括n路光电开关，且n路所述光电开关共用一个输入端；每个所述光电开关模组均包括n个输出端。所述光源与所述光纤耦合本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种多通道Y波导器件的直流相位漂移参数测试系统，其特征在于，包括：光源、光纤耦合器、光电开关单元、光纤延时环、光电探测器以及信号处理调制模块；其中，所述光电开关单元包括m个光电开关模组；每个所述光电开关模组均包括n路光电开关，且n路所述光电开关共用一个输入端；每个所述光电开关模组均包括n个输出端；/n所述光源与所述光纤耦合器的第一端连接，所述光纤耦合器的第二端与一个所述光电开关模组的输入端连接，剩余的所述光电开关模组的输入端与所述光纤延时环连接；/n所有所述光电开关模组的输出端用于连接多通道Y波导器件；其中，所述多通道Y波导器件的通道数为n；且工作时，所述光电开关模组的输出端与所述多通道Y波导器件的端口一一对应连接；/n所述光纤耦合器的第三端与所述光电探测器的输入端连接，所述光电探测器的输出端与所述信号处理调制模块的输入端连接，所述信号处理调制模块的第一输出端与所述光电开关模组连接，所述信号处理调制模块的第二输出端用于连接所述多通道Y波导器件。/n

【技术特征摘要】
1.一种多通道Y波导器件的直流相位漂移参数测试系统，其特征在于，包括：光源、光纤耦合器、光电开关单元、光纤延时环、光电探测器以及信号处理调制模块；其中，所述光电开关单元包括m个光电开关模组；每个所述光电开关模组均包括n路光电开关，且n路所述光电开关共用一个输入端；每个所述光电开关模组均包括n个输出端；
所述光源与所述光纤耦合器的第一端连接，所述光纤耦合器的第二端与一个所述光电开关模组的输入端连接，剩余的所述光电开关模组的输入端与所述光纤延时环连接；
所有所述光电开关模组的输出端用于连接多通道Y波导器件；其中，所述多通道Y波导器件的通道数为n；且工作时，所述光电开关模组的输出端与所述多通道Y波导器件的端口一一对应连接；
所述光纤耦合器的第三端与所述光电探测器的输入端连接，所述光电探测器的输出端与所述信号处理调制模块的输入端连接，所述信号处理调制模块的第一输出端与所述光电开关模组连接，所述信号处理调制模块的第二输出端用于连接所述多通道Y波导器件。


2.根据权利要求1所述的一种多通道Y波导器件的直流相位漂移参数测试系统，其特征在于，还包括：光纤隔离器；
所述光源通过所述光纤隔离器与所述光纤耦合器的第一端连接。


3.根据权利要求1所述的一种多通道Y波导器件的直流相位漂移参数测试系统，其特征在于，还包括：第一消偏光纤；
所述光纤耦合器的第二端通过所述第一消偏光纤与所述光电开关模组的输入端连接。


4.根据权利要求1所述的一种多...

【专利技术属性】
技术研发人员：肖金根，肖浩，李建光，刘凡，王强龙，刘东伟，刘博阳，雷军，
申请(专利权)人：北京世维通光智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11