【技术实现步骤摘要】
一种双包层光纤纤芯损耗的测试装置及方法
本专利技术涉及光纤测量
，具体涉及一种双包层光纤纤芯损耗的测试装置及方法。
技术介绍
在光纤激光器中，将高能泵浦激光注入到仅有数十微米的纤芯中非常困难，这限制了光纤激光器的进一步发展。上世纪90年代，研究人员提出了双包层光纤结构，将高能泵浦激光注入到内包层中，泵浦激光在内包层传输的过程中穿过纤芯，从而被纤芯中的增益离子吸收进而激光被放大。目前，双包层光纤已经成为高能光纤激光器的主要器件，并推动光纤激光器的快速发展，光纤激光器的单模激光输出已达到了10kW。在高功率光纤激光器中，激光在传输过程中的损毁会以热的形式释放在光纤中，造成光纤温度升高，并引发一系列不利的光学现象(例如：模式劣化，模式不稳定阈值下降等)，严重的甚至会引起光纤激光器烧毁。因此，双包层光纤的纤芯损耗是双包层光纤的关键参数，纤芯损耗的精确测试是双包层光纤研发和使用的重要条件。纤芯损耗的测试一般采用截断法的测试方法，通过对比截断前后的功率值，进而分析由于被截断的这一段光纤产生的功率衰减，从而计算出光纤...
【技术保护点】
1.一种双包层光纤纤芯损耗的测试装置，包括光源发生装置(1)和能够检测并记录信号光功率的光电探测器(12)，其特征在于：还包括包层光滤除组件，所述包层光滤除组件包括前置单包层传能光纤(5)和后置单包层传能光纤(9)；所述前置单包层传能光纤(5)一端接收光源发生装置(1)发出的信号光形成注入端，另一端与待测双包层光纤(7)的始端连接形成连接端；所述后置单包层传能光纤(9)一端向光电探测器(12)传递信号光形成输出端，另一端与待测双包层光纤(7)的末端连接形成连接端。/n
【技术特征摘要】
1.一种双包层光纤纤芯损耗的测试装置，包括光源发生装置(1)和能够检测并记录信号光功率的光电探测器(12)，其特征在于：还包括包层光滤除组件，所述包层光滤除组件包括前置单包层传能光纤(5)和后置单包层传能光纤(9)；所述前置单包层传能光纤(5)一端接收光源发生装置(1)发出的信号光形成注入端，另一端与待测双包层光纤(7)的始端连接形成连接端；所述后置单包层传能光纤(9)一端向光电探测器(12)传递信号光形成输出端，另一端与待测双包层光纤(7)的末端连接形成连接端。
2.如权利要求1所述的双包层光纤纤芯损耗的测试装置，其特征在于：所述前置单包层传能光纤(5)的连接端通过前置熔接点(6)与待测双包层光纤(7)始端熔接，所述后置单包层传能光纤(9)的连接端通过后置熔接点(8)与待测双包层光纤(7)末端熔接；所述前置熔接点(6)和后置熔接点(8)处涂覆有高折射率胶水，所述高折射率胶水的折射率大于待测双包层光纤(7)石英包层的折射率。
3.如权利要求1或2所述的双包层光纤纤芯损耗的测试装置，其特征在于：所述前置单包层传能光纤(5)和后置单包层传能光纤(9)的长度不少于1米。
4.如权利要求1所述的双包层光纤纤芯损耗的测试装置，其特征在于：所述光源发生装置(1)与前置单包层传能光纤(5)之间设有单色仪(2)，所述单色仪(2)接收光源发生装置(1)发出的宽带信号光，从中提取某一波长的单色信号光，并将提取的单色信号光传递给前置单包层传能光纤(5)的注入端；所述单色仪(2)能够对宽带信号光中不同波长的单色信号光分别进行提取。
5.如权利要求1所述的双包层光纤纤芯损耗的测试装置，其特征在于：还包括前置光纤夹具(4)和调整前置光纤夹具(4)位置的前置调整支架(3)；所述前置单包层传能光纤(5)的注入端限制于前置光纤夹具(4)，所述前置调整支架(3)调节前置光纤夹具(4)的位置，使信号光注入到前置单包层传能光纤(5)的纤芯中。
6.如权利要求1所述的双包层光纤纤芯损耗的测试装置，其特征在于：还包括后置光纤夹具(10)和调整后置光纤夹具(10)位置的后置调整支架(11)；所述后置单包层传能光纤(9)的输出端限制于...
【专利技术属性】
技术研发人员：张立华，姜蕾，代江云，高聪，刘念，沈昌乐，
申请(专利权)人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心，
类型：发明
国别省市：四川;51
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