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本发明公开了一种双包层光纤纤芯损耗的测试装置及方法，涉及光纤测量技术领域，双包层光纤纤芯损耗的测试装置包括光源发生装置、待测双包层光纤、光电探测器和包层光滤除组件，所述包层光滤除组件包括前置单包层传能光纤和后置单包层传能光纤；所述前置单包层...
该专利属于中国工程物理研究院激光聚变研究中心所有，仅供学习研究参考，未经过中国工程物理研究院激光聚变研究中心授权不得商用。

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