【技术实现步骤摘要】
一种透镜检测用干涉条纹仪
本技术涉及干涉条纹仪设备
，具体为一种透镜检测用干涉条纹仪。
技术介绍
干涉仪是很广泛的一类实验技术的总称，其思想在于利用波的叠加性来获取波的相位信息，从而获得实验所关心的物理量，干涉仪并不仅仅局限于光干涉仪，干涉仪在天文学、光学、工程测量、海洋学、地震学、波谱分析、量子物理实验、遥感和雷达等等精密测量领域都有广泛应用，干涉仪被普遍用来检验平板、棱镜和透镜等光学元件的质量，在干涉仪的一个光路中放置待检查的平板或棱镜，平板或棱镜的折射率或几何尺寸的任何不均匀性必将反映到干涉图样上，若在光路中放置透镜，可根据干涉图样了解由透镜造成的波面畸变，从而评估透镜的波像差。透镜检测用干涉条纹仪通常需要配合反射标准镜和透射标准镜进行对透镜的检测，透镜检测用干涉条纹仪在使用反射标准镜时通常需要进行更换使用，以便于对不通的透镜进行检测，但现有的透镜检测用干涉条纹仪在对反射标准镜进行更换时需要将螺纹连接的镜片台进行拆卸，才能完成反射标准镜的更换操作，更换时十分不便，同时现有的干涉条纹仪的检测台很难进行快速的...
【技术保护点】
1.一种透镜检测用干涉条纹仪，包括底板（1），其特征在于：所述底板（1）的上表面设置有干涉仪主机本体（2），所述干涉仪主机本体（2）的上表面固定连接有工作台（3），所述工作台（3）的上表面从左至右依次固定连接有支撑台（4）和检测架（5），所述检测架（5）的一侧从上至下依次固定连接有第一固定架（6）和第二固定架（7），所述第一固定架（6）的上表面固定连接有第一镜片台（8），所述第一镜片台（8）的上表面固定连接有第一连接杆（9），所述第一连接杆（9）的一端固定连接有第一磁吸块（10），所述第一磁吸块（10）的上表面活动连接有反射标准镜（11），所述反射标准镜（11）的上表面活动...
【技术特征摘要】
1.一种透镜检测用干涉条纹仪，包括底板（1），其特征在于：所述底板（1）的上表面设置有干涉仪主机本体（2），所述干涉仪主机本体（2）的上表面固定连接有工作台（3），所述工作台（3）的上表面从左至右依次固定连接有支撑台（4）和检测架（5），所述检测架（5）的一侧从上至下依次固定连接有第一固定架（6）和第二固定架（7），所述第一固定架（6）的上表面固定连接有第一镜片台（8），所述第一镜片台（8）的上表面固定连接有第一连接杆（9），所述第一连接杆（9）的一端固定连接有第一磁吸块（10），所述第一磁吸块（10）的上表面活动连接有反射标准镜（11），所述反射标准镜（11）的上表面活动连接有第二磁吸块（12），所述第二磁吸块（12）的上表面固定连接有第二连接杆（13）。
2.根据权利要求1所述的一种透镜检测用干涉条纹仪，其特征在于：所述第二连接杆（13）的一端固定连接有盖板（14），所述盖板（14）的上...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨锦，
申请(专利权)人：成都五阳致新光电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：四川;51
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