模型的修正方法及装置、存储介质及电子装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种模型的修正方法及装置、存储介质及电子装置，其中，上述方法包括：获取强射电源的理论时延模型以及弱射电源的理论时延模型，其中，所述强射电源和所述弱射电源用于对同一深空探测器差分标校；根据所述强射电源的理论时延模型构建系统时延模型，其中，所述强射电源和所述弱射电源的系统时延模型相同；根据所述系统时延模型和所述弱射电源的理论时延模型修正所述弱射电源的相关时延模型。采用上述技术方案，解决了传统方法用弱射电源对探测器干涉测量的结果进行差分标校的过程中，标校精度较低等问题。

【技术实现步骤摘要】
模型的修正方法及装置、存储介质及电子装置
本专利技术涉及通信领域，具体而言，涉及一种模型的修正方法及装置、存储介质及电子装置。
技术介绍
深空探测干涉测量一般采用射电源-航天器-射电源的交替观测模式，通过前后两次射电源观测实现链路时延、设备时延等误差标校。理论分析和实测数据处理结果表明，射电源标校精度直接影响航天器的测量精度。射电源越强、与航天器的视线方向角距越小，用强射电源对探测器干涉测量的结果进行差分标校的精度越高。但在深空探测中，小角距、强射电源可选较少，甚至不存在而必须选择弱射电信号进行差分标校。而研究弱射电源的高精度标校方法，提高小角距、弱射电源的相关处理精度，降低差分标校误差，在干涉测量数据处理方法研究中具有重要意义。针对相关技术，传统方法用弱射电源对探测器干涉测量的结果进行差分标校的过程中，标校精度较低等问题，目前尚未提出有效的解决方案。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种模型的修正方法及装置、存储介质及电子装置，以至少解决传统方法用弱射电源对探测器干涉测量的结果进行差分标校的过程中，标校精度较低等问题。根据本专利技术实施例的一个实施例，提供一种模型的修正方法，包括：获取强射电源的理论时延模型以及弱射电源的理论时延模型，其中，所述强射电源和所述弱射电源用于对同一深空探测器差分标校；根据所述强射电源的理论时延模型构建系统时延模型，其中，所述强射电源和所述弱射电源的系统时延模型相同；根据所述系统时延模型和所述弱射电源的理论时延模型修正所述弱射电源的相关时延模型，以根据所述相关时延模型对所述弱射电源的信号进行干涉测量。在一个示例性实施例中，根据所述强射电源的理论时延模型构建系统时延模型，包括：通过两个测站对所述强射电源进行干涉测量相关处理，得到所述强射电源的互功率谱；根据所述强射电源的互功率谱和所述强射电源的理论时延模型构建系统时延模型。在一个示例性实施例中，根据所述强射电源的互功率谱和所述强射电源的理论时延模型构建系统时延模型，包括：对所述强射电源的互功率谱数据进行整合，以确定所述干涉测量观测的各个积分周期内的互谱相位；对所述各个积分周期内的互谱相位进行最小二乘估计，以确定残余时延率；根据所述残余时延率和所述强射电源的理论时延模型构建所述系统时延模型。在一个示例性实施例中，根据所述残余时延率和所述强射电源的理论时延模型构建所述系统时延模型，包括：根据所述述残余时延率和所述强射电源的理论时延模型确定残余时延率模型；将所述残余时延率模型作为构建的所述系统时延模型。在一个示例性实施例中，根据所述系统时延模型和所述弱射电源的理论时延模型修正所述弱射电源的相关时延模型，包括：将所述系统时延模型与所述弱射电源的理论时延模型相加，得到目标相关时延模型；根据所述目标时延模型更新所述弱射电源的相关时延模型。在一个示例性实施例中，根据所述系统时延模型和所述弱射电源的理论时延模型修正所述弱射电源的相关时延模型之后，还包括：根据所述相关时延模型对所述弱射电源进行相关处理得到所述弱射电源干涉测量观测量，用于对探测器干涉测量观测量进行差分标校。根据本专利技术实施例的又一个实施例，还提供了一种模型的修正装置，包括：获取模块，用于获取强射电源的理论时延模型以及弱射电源的理论时延模型，其中，所述强射电源和所述弱射电源用于对同一深空探测器差分标校；构建模块，用于根据所述强射电源的理论时延模型构建系统时延模型，其中，所述强射电源和所述弱射电源的系统时延模型相同；修正模型，用于根据所述系统时延模型和所述弱射电源的理论时延模型修正所述弱射电源的相关时延模型。在一个示例性实施例中，所述构建模块，还用于通过两个测站对所述强射电源进行干涉测量相关处理，得到所述强射电源的互功率谱；根据所述强射电源的互功率谱和所述强射电源的理论时延模型构建系统时延模型。根据本专利技术实施例的又一方面，还提供了一种计算机可读的存储介质，该计算机可读的存储介质中存储有计算机程序，其中，该计算机程序被设置为运行时执行上述模型的修正方法。根据本专利技术实施例的又一方面，还提供了一种电子装置，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其中，上述处理器通过计算机程序执行上述模型的修正方法。通过本专利技术，引入一种模型的修正方法，获取强射电源的理论时延模型以及弱射电源的理论时延模型，根据强射电源的理论时延模型构建强射电源的系统时延模型，进而根据强射电源的系统时延模型和所述弱射电源的理论时延模型修正弱射电源的相关时延模型，以根据弱射电源的相关时延模型对所述弱射电源的信号进行干涉测量。采用上述技术方案，解决传统方法用弱射电源对探测器干涉测量的结果进行差分标校的过程中，标校精度较低等问题。进而通过构建强射电源的系统时延模型，以此修正弱射电源的相关时延模型，进而通过弱射电源的相关时延模型对探测器干涉测量的结果进行差分标校，提高了探测器干涉测量的精度。附图说明此处所说明的附图用来提供对本专利技术的进一步理解，构成本申请的一部分，本专利技术的示例性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中：图1是本专利技术实施例的模型的修正方法的计算机终端的硬件结构框图；图2是根据本专利技术实施例的模型的修正方法的流程图(一)；图3是根据本专利技术实施例的测站干涉测量示意图；图4是根据本专利技术实施例的构建系统时延模型流程图；图5是根据本专利技术实施例的模型的修正方法的流程图(二)；图6是根据本专利技术实施例的残余时延率对探测器和射电源的影响分析图(a)；图7是根据本专利技术实施例的残余时延率对探测器和射电源的影响分析图(b)；图8是根据本专利技术实施例的残余时延率对子积分周期和积分周期互谱相位影响对比图；图9是根据本专利技术实施例的残余时延率对子积分周期和积分周期互谱相位影响对比图(b)；图10是根据本专利技术实施例的残余时延率对子积分周期和积分周期互谱相位影响对比图(c)；图11是根据本专利技术实施例的残余时延率对子积分周期和积分周期互谱相位影响对比图(d)；图12是根据本专利技术实施例的无残余时延率时子积分周期与积分周期群时延估计性能对比图(a)；图13是根据本专利技术实施例的无残余时延率时子积分周期与积分周期群时延估计性能对比图(b)；图14是根据本专利技术实施例的残余时延率对子积分周期与积分周期群时延估计性能影响图(a)；图15是根据本专利技术实施例的残余时延率对子积分周期与积分周期群时延估计性能影响图(b)；图16是根据本专利技术实施例的关于残余时延率的估计图(a)；图17是根据本专利技术实施例的关于残余时延率的估计图(b)；图18是根据本专利技术实施例的残余时延率补偿前后群时延估计性能对比图；图19是根据本专利技术实施例的初始时延模型下不同积分周期干涉条纹情况图(a)；图20是根据本专利技术实施例的初始时延模型下不同积分周期干涉条纹情况图(b)；图21是根据本专利技术实施例的初始时延模型本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种模型的修正方法，其特征在于，包括：/n获取强射电源的理论时延模型以及弱射电源的理论时延模型，其中，所述强射电源和所述弱射电源用于对同一深空探测器差分标校；/n根据所述强射电源的理论时延模型构建系统时延模型，其中，所述强射电源和所述弱射电源的系统时延模型相同；/n根据所述系统时延模型和所述弱射电源的理论时延模型修正所述弱射电源的相关时延模型。/n

【技术特征摘要】
1.一种模型的修正方法，其特征在于，包括：
获取强射电源的理论时延模型以及弱射电源的理论时延模型，其中，所述强射电源和所述弱射电源用于对同一深空探测器差分标校；
根据所述强射电源的理论时延模型构建系统时延模型，其中，所述强射电源和所述弱射电源的系统时延模型相同；
根据所述系统时延模型和所述弱射电源的理论时延模型修正所述弱射电源的相关时延模型。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述强射电源的理论时延模型构建系统时延模型，包括：
通过两个测站对所述强射电源进行干涉测量相关处理，得到所述强射电源的互功率谱；
根据所述强射电源的互功率谱和所述强射电源的理论时延模型构建系统时延模型。


3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据所述强射电源的互功率谱和所述强射电源的理论时延模型构建系统时延模型，包括：
对所述强射电源的互功率谱数据进行整合，以确定所述干涉测量观测的各个积分周期内的互谱相位；
对所述各个积分周期内的互谱相位进行最小二乘估计，以确定残余时延率；
根据所述残余时延率和所述强射电源的理论时延模型构建所述系统时延模型。


4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，根据所述残余时延率和所述强射电源的理论时延模型构建所述系统时延模型，包括：
根据所述述残余时延率和所述强射电源的理论时延模型确定残余时延率模型；
将所述残余时延率模型作为构建的所述系统时延模型。


5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述系统时延模型和所述弱射电源的理论时延模型修正所述弱射电源的相关时延...

【专利技术属性】
技术研发人员：路伟涛，
申请(专利权)人：北京航天飞行控制中心，
类型：发明
国别省市：北京;11