半成品的缺陷检测设备制造技术

本发明专利技术公开一种半成品的缺陷检测设备，包含机架以及安装于机架的平面移载机构、光学检测机构与遮尘件。所述平面移载机构的移动范围定义有待测区及防尘区、并能用来定位多个相机模块，以使其在待测区及防尘区移动。所述光学检测机构位于待测区的上方、并用来对多个相机模块依序地拍摄，以取得检测图像。所述遮尘件覆盖防尘区，用以使通过光学检测机构检测的至少一个所述相机模块的被拍摄区域能够符合所述检测图像。据此，所述半成品的缺陷检测设备能有效地提升所述相机模块的检测精准度。

【技术实现步骤摘要】
半成品的缺陷检测设备
本专利技术涉及一种检测设备，尤其涉及一种半成品的缺陷检测设备。
技术介绍
现有的缺陷检测设备大都仅着重于如何在检测待测物(deviceundertest，DUT)的当下，实现精准的检测效果。然而现有缺陷检测设备并未考虑到所述待测物在检测完成之后，是否可能被外部环境所污染，因而导致所述待测物的检测结果与现行状态不一致。于是，本专利技术人认为上述缺陷可改善，乃特潜心研究并配合科学原理的运用，终于提出一种设计合理且有效改善上述缺陷的本专利技术。
技术实现思路
本专利技术实施例在于提供一种半成品的缺陷检测设备，其能有效地改善现有缺陷检测设备所可能产生的缺陷。本专利技术实施例公开一种半成品的缺陷检测设备，其用来检测多个相机模块，并且每个相机模块包含有一基板、安装于基板的一传感器及连接基板与传感器的多条金属线，半成品的缺陷检测设备包括一机架、一平面移载机构、一光学检测机构以及一遮尘件。机架内部形成有一检测腔室；一平面移载机构安装于机架，并且平面移载机构的一移动范围定义有一待测区及一防尘区；其中，平面移载机构用来定位多个相机模块，并使多个相机模块在待测区及防尘区移动；一光学检测机构安装于机架并位于检测腔室内，并且光学检测机构位于待测区的上方；其中，光学检测机构用来对多个相机模块依序地拍摄，以取得一检测图像；一遮尘件安装于机架，并且遮尘件覆盖防尘区，用以使通过光学检测机构检测的至少一个相机模块的被拍摄区域能够符合检测图像。优选地，待测区包含有位于光学检测机构正下方的一检测区域，并且检测区域邻近遮尘件；其中，平面移载机构能用以将在检测区域通过光学检测机构检测的至少一个相机模块，直接移动进入防尘区。优选地，半成品的缺陷检测设备进一步包含有安装于机架的一风机过滤机组，并且风机过滤机组用来朝向平面移载机构吹风，而遮尘件能用来遮挡风机过滤机组所吹出来的风。优选地，机架进一步包含有一高度对焦机构，并且光学检测机构安装于高度对焦机构；高度对焦机构能沿一高度方向移动光学检测机构，以使光学检测机构依序地对焦于多个相机模块、并进行拍摄。优选地，高度对焦机构包含有一高度传感器及一微调机构。高度传感器与光学检测机构的相对位置保持固定，用以取得光学检测机构及位于其正下方的相机模块之间的一距离；一微调机构能依据距离而沿高度方向移动光学检测机构，以使光学检测机构对焦于位于其正下方的相机模块的传感器。优选地，微调机构沿高度方向移动光学检测机构的每单位移动距离介于1微米(μm)～30微米。优选地，平面移载机构包含有一承载台及一平面移动组件。承载台用以供多个相机模块设置，以使每个相机模块的传感器多条金属线面向远离承载台的一侧；一平面移动组件连接于承载台，并且平面移动组件能驱使承载台沿着相互垂直的一第一方向与一第二方向移动。优选地，承载台形成有多个穿孔，平面移载机构包含有连接于多个穿孔的一吸附组件，并且吸附组件用来通过多个穿孔来使多个相机模块吸附定位于承载台。优选地，半成品的缺陷检测设备是用来检测尚未安装有任何透镜的任一个相机模块，并且半成品的缺陷检测设备不用来清除其所检测的任一个相机模块上的缺陷。优选地，半成品的缺陷检测设备包含有安装于机架的一电控模块，并且电控模块电性耦接于平面移载机构以及光学检测机构。综上所述，本专利技术实施例所公开的半成品的缺陷检测设备，其设置有所述遮尘件，用以使通过所述光学检测机构检测的至少一个所述相机模块的被拍摄区域可以符合所述检测图像，进而有效地提升所述相机模块的检测精准度。为能更进一步了解本专利技术的特征及
技术实现思路
，请参阅以下有关本专利技术的详细说明与附图，但是此等说明与附图仅用来说明本专利技术，而非对本专利技术的保护范围作任何的限制。附图说明图1为本专利技术实施例的半成品的缺陷检测设备的立体示意图。图2为图1中的半成品的缺陷检测设备所要检测的相机模块的平面示意图。图3为图2的部位III的放大示意图。图4为图1中的半成品的缺陷检测设备的局部平面示意图。图5为图4的局部示意图(如：省略光学检测机构)。图6为图1中的半成品的缺陷检测设备的光学检测机构与高度对焦机构的立体示意图。图7为图5的构造置放有多个相机模块的示意图。图8为图7的平面移载机构的运作示意图。图9为图1中的半成品的缺陷检测设备所要检测的相机模块，其在检测之后进一步安装镜头模块的平面示意图。具体实施方式以下是通过特定的具体实施例来说明本专利技术所公开有关“半成品的缺陷检测设备”的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所公开的内容了解本专利技术的优点与效果。本专利技术可通过其他不同的具体实施例加以施行或应用，本说明书中的各项细节也可基于不同观点与应用，在不悖离本专利技术的构思下进行各种修改与变更。另外，本专利技术的附图仅为简单示意说明，并非依实际尺寸的描绘，事先声明。以下的实施方式将进一步详细说明本专利技术的相关
技术实现思路
，但所公开的内容并非用以限制本专利技术的保护范围。应当可以理解的是，虽然本文中可能会使用到“第一”、“第二”、“第三”等术语来描述各种组件或者信号，但这些组件或者信号不应受这些术语的限制。这些术语主要是用以区分一组件与另一组件，或者一信号与另一信号。另外，本文中所使用的术语“或”，应视实际情况可能包括相关联的列出项目中的任一个或者多个的组合。请参阅图1至图9所示，其为本专利技术的一实施例。如图1至图3所示，本实施例公开一种半成品的缺陷检测设备100，其用来检测多个相机模块200，并且每个所述相机模块200是尚未安装有透镜的一半成品；也就是说，所述半成品的缺陷检测设备100于本实施例中是用来检测尚未安装有任何透镜的任一个所述相机模块200，所以不同于检测成品或检测非相机模块的任何检测设备。其中，每个所述相机模块200包含有一基板201、安装于所述基板201的一传感器202及连接所述基板201与所述传感器202的多条金属线203。上述金属线203是以打线方式成形，因而使得金属线203具有较弱的结构强度，所以本实施例中的相机模块200并不适合以机械方式自动清洁，据以避免破坏上述金属线203。换个角度来说，所述半成品的缺陷检测设备100于本实施例中不用来清除其所检测的任一个所述相机模块200上的缺陷(如：脏污微粒)。进一步地说，所述相机模块200在被本实施例半成品的缺陷检测设备100进行检测之前，已先经过机械自动微粒清洗步骤(如：通过离心力甩掉相机模块200上的微粒)，而本实施例半成品的缺陷检测设备100则是用来进一步检测所述清洗后的相机模块200上的残余微粒(如：落在所述金属线203附近的微粒)，但本专利技术不受限于此。如图1和图4所示，所述半成品的缺陷检测设备100包含有一机架1、一平面移载机构2、一光学检测机构3、一遮尘件4、一风机过滤机组5(fanfilterunit，FFU)与一电控模块6。于本实施例中，所述平面移载机构2、光学检测机构3及遮尘件4安装于所述机架1内，而所述风机过滤机本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种半成品的缺陷检测设备，其特征在于，所述半成品的缺陷检测设备用来检测多个相机模块，并且每个所述相机模块包含有一基板、安装于所述基板的一传感器及连接所述基板与所述传感器的多条金属线，所述半成品的缺陷检测设备包括：/n一机架，其内部形成有一检测腔室；/n一平面移载机构，安装于所述机架，并且所述平面移载机构的一移动范围定义有一待测区及一防尘区；其中，所述平面移载机构用来定位多个所述相机模块，并使多个所述相机模块在所述待测区及所述防尘区移动；/n一光学检测机构，安装于所述机架并位于所述检测腔室内，并且所述光学检测机构位于所述待测区的上方；其中，所述光学检测机构用来对多个所述相机模块依序地拍摄，以取得一检测图像；以及/n一遮尘件，安装于所述机架，并且所述遮尘件覆盖所述防尘区，用以使通过所述光学检测机构检测的至少一个所述相机模块的被拍摄区域能够符合所述检测图像。/n

【技术特征摘要】
1.一种半成品的缺陷检测设备，其特征在于，所述半成品的缺陷检测设备用来检测多个相机模块，并且每个所述相机模块包含有一基板、安装于所述基板的一传感器及连接所述基板与所述传感器的多条金属线，所述半成品的缺陷检测设备包括：
一机架，其内部形成有一检测腔室；
一平面移载机构，安装于所述机架，并且所述平面移载机构的一移动范围定义有一待测区及一防尘区；其中，所述平面移载机构用来定位多个所述相机模块，并使多个所述相机模块在所述待测区及所述防尘区移动；
一光学检测机构，安装于所述机架并位于所述检测腔室内，并且所述光学检测机构位于所述待测区的上方；其中，所述光学检测机构用来对多个所述相机模块依序地拍摄，以取得一检测图像；以及
一遮尘件，安装于所述机架，并且所述遮尘件覆盖所述防尘区，用以使通过所述光学检测机构检测的至少一个所述相机模块的被拍摄区域能够符合所述检测图像。


2.依据权利要求1所述的半成品的缺陷检测设备，其特征在于，所述待测区包含有位于所述光学检测机构正下方的一检测区域，并且所述检测区域邻近所述遮尘件；其中，所述平面移载机构能用以将在所述检测区域通过所述光学检测机构检测的至少一个所述相机模块，直接移动进入所述防尘区。


3.依据权利要求1所述的半成品的缺陷检测设备，其特征在于，所述半成品的缺陷检测设备进一步包含有安装于所述机架的一风机过滤机组，并且所述风机过滤机组用来朝向所述平面移载机构吹风，而所述遮尘件能用来遮挡所述风机过滤机组所吹出来的风。


4.依据权利要求1所述的半成品的缺陷检测设备，其特征在于，所述机架进一步包含有一高度对焦机构，并且所述光学检测机构安装于所述高度对焦机构；所述高度对焦机构能沿一高度方向移动所述光学检测机构，以使所述光学检测机构依序地对焦于多个所述相机...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭温良，柯冠宇，张艳鹏，
申请(专利权)人：纮华电子科技上海有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31