微光夜视设备光学检测标定工作台及光学检测标定方法技术

技术编号:29485174 阅读:16 留言:0更新日期:2021-07-30 18:56
本发明专利技术提出了一种微光夜视设备光学检测标定工作台及光学检测标定方法,检测标定工作台,包括:底座、平行光管装置、承载装置及测量设备支架,平行光管装置固定于底座;承载装置设于底座,待检测微光夜视设备固定于承载装置,待检测微光夜视设备通过承载装置可相对于底座进行位置姿态调节;测量设备支架可移动地设于底座,测量设备支架的自由端适于固定功能测量器件。由此,通过将平行光管装置、承载装置和测量设备支架集成设置在底座上,可根据具体检测标定需求,灵活更换相应的功能测量器件,完成不同类型的检测和标定项目,使微光夜视设备在此检测标定工作平台上固定一次可完成多种指标的检测和标定,提高了微光夜视设备的检测效率。

【技术实现步骤摘要】
微光夜视设备光学检测标定工作台及光学检测标定方法
本专利技术涉及微光夜视设备的生产制造
,尤其涉及一种微光夜视设备光学检测标定工作台及光学检测标定方法。
技术介绍
微光夜视设备是一种低成本、夜间观察装备。具有体积小、重量轻、低功耗、操作便捷等特点。其在生产和验收过程中,检测和标定环节较多,针对不同指标的检测需要多种工装和设备,产品需要在不同的检测工装上多次固定和检测,非常繁琐。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是解决相关技术中,在微光夜视仪的生产和验收过程中,进行复数项目的检测和标定需要对产品进行多次固定和检测,整个检测过程比较繁琐的问题,本专利技术提出了一种微光夜视设备光学检测标定工作台及光学检测标定方法。根据本专利技术实施例的微光夜视设备光学检测标定工作台,包括:底座;平行光管装置,固定于底座;承载装置,设于底座,待检测微光夜视设备固定于承载装置,待检测微光夜视设备通过承载装置可相对于底座进行位置姿态调节;测量设备支架,可移动地设于底座,测量设备支架的自由端适于固定功能测量器件。根据本专利技术实施例的微光夜视设备光学检测标定工作台,通过将平行光管装置、承载装置和测量设备支架集成设置在底座上,可根据具体检测标定需求,灵活更换相应的功能测量器件,完成不同类型的检测和标定项目,使微光夜视设备在此检测标定工作平台上固定一次可完成多种指标的检测和标定,极大地提高了微光夜视设备的检测效率,扩展了微光夜视设备光学检测标定工作台的性能。根据本专利技术的一些实施例,承载装置包括:固定架,固定架设于底座;调节组件,调节组件可滑动地设于固定架,待检测微光夜视设备设于调节组件的远离固定架的一端,待检测微光夜视设备通过调节组件相对于固定架可转动。在本专利技术的一些实施例中,固定架设有第一导轨,调节组件通过第一导轨与固定架可滑动连接。根据本专利技术的一些实施例,调节组件包括:固定座,固定座与固定架可滑动配合;转台,转台可转动设于固定座;支撑板,支撑板设于转台,待检测微光夜视设备固定于支撑板的远离转台的一端。在本专利技术的一些实施例中,平行光管装置包括:底板,底板固定于底座;支撑臂组件,支撑臂组件设于底板;平行光管,平行光管固定于支撑臂组件的自由端。根据本专利技术的一些实施例,支撑臂组件为多个,每个支撑臂的自由端均设有与平行光管相适配承载槽。在本专利技术的一些实施例中,底座设有第二导轨,测量设备支架通过第二导轨与底座可滑动连接。根据本专利技术的一些实施例,测量设备支架包括:固定块,固定块与第二导轨适配连接;支板,支板设于固定块;固定组件,固定组件设于支板的远离固定块的一端。根据本专利技术实施例的微光夜视设备光学检测标定方法,采用本专利技术的实施例中任一项的微光夜视设备光学检测标定工作台对待检测微光夜视设备进行光学检测标定,方法包括:将待检测微光夜视设备固定于承载装置并开机;调整待测微光夜视设备与平行光管、视度筒共轴;通过待检测微光夜视设备目镜观察平行光管内的文字,并调节待检测微光夜视设备的目镜和物镜,直至看清文字;将视度筒贴近目镜,并将视度筒调至零视度位置;通过视度筒观察平行光管内的文字,调节所待检测微光夜视设备的目镜,直至看清文字,此时的目镜位置即为待测微光夜视设备视度零位。根据本专利技术实施例的微光夜视设备光学检测标定方法,通过将待检测微光夜视设备固定于承载装置,可以方便地进行设备湿度零位标定,操作方便、高效。在本专利技术的一些实施例中,微光夜视设备光学检测标定方法还包括:通过微光夜视设备光学检测标定工作台对待检测微光夜视设备进行焦距调节范围检测、视度范围检测、中心分辨率检测以及倍率检测。附图说明图1为根据本专利技术实施例的微光夜视设备光学检测标定工作台结构示意图;图2为根据本专利技术实施例的微光夜视设备光学检测标定工作台的承载装置的结构分解示意图;图3为根据本专利技术实施例的微光夜视设备光学检测标定的方法流程图。附图标记:工作台1000,微光夜视设备2000,底座10,第二导轨100,平行光管装置20,底板200,支撑臂组件210,平行光管220,承载装置30,固定架300,第一导轨310,调节组件320,固定座321,转台322,支撑板323,固定件351,测量设备支架40,固定块410,支板420,固定组件430,上固定板431,下固定板432。具体实施方式为更进一步阐述本专利技术为达成预定目的所采取的技术手段及功效,以下结合附图及较佳实施例,对本专利技术进行详细说明如后。相关技术中,由于微光夜视仪本身属于精密光学仪器,在生产和验收中需要对大量的参数和各种指标进行检测和标定。在这个过程中,由于大量检测和标定环节的复杂性,往往需要在不同的检测工装上进行相关的测试。这就要求操作人员频繁的不同的检测工装上频繁的拆装微光夜视仪,因此导致在生产过程中,对微光夜视仪的检测和标定的环节非常的繁琐。本专利技术旨在至少在一定程度上解决微光夜视仪检测和标定的环节非常的繁琐的技术问题。如图1所示,根据本专利技术实施例的微光夜视设备光学检测标定工作台1000,包括:底座10,平行光管装置20,承载装置30,测量设备支架40。值得说明的是,本专利技术提出的微光夜视设备光学检测标定工作台1000的各种尺寸,可以根据检测和标定的指标要求,以及流水线工作台面的大小和操作人员适合的操作高度等实际指标来进行确定。具体而言,如图1所示,平行光管装置20固定于底座10,平行光管220是装校调整光学仪器的重要工具,可以测定透镜组的焦距,鉴别率,及其他成像质量。值得说明的是,在确定了底座10的尺寸后,应当先根据流水线工作台面的大小和操作人员适合的操作高度等实际指标来进行确定平行光管装置20的高度。承载装置30设于底座10,待检测微光夜视设备2000固定于承载装置30,待检测微光夜视设备2000通过承载装置30可相对于底座10进行位置姿态调节。由此,通过调节承载装置30,可以满足不同的检测和标定项目对微光夜视设备2000不同姿态的要求。值得说明的是,以平行光管220中心高度,作为微光夜视设备2000定位固定的设计基准,来确定承载装置30各部分的相应尺寸,同时还要设置姿态调整的限位。微光夜视设备2000在承载装置30上装配完成后要达到微光夜视设备2000装卡定位、旋转定位、滑动定位准确。测量设备支架40可移动地设于底座10,测量设备支架40的自由端适于固定功能测量器件。需要说明的是,测量设备支架40可以按照不同检测或标定的需要,灵活的搭载不同的功能测量器件,并且由于测量设备支架40可移动地设于底座10,也可以满足在进行不同的检测和标定项目时对不同功能测量器件的不同的位置要求。需要说明的是,测量设备支架40架设高度要求与微光夜视设备2000中心高度一本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种微光夜视设备光学检测标定工作台,其特征在于,包括:/n底座;/n平行光管装置,所述平行光管装置固定于所述底座;/n承载装置,所述承载装置设于所述底座,待检测微光夜视设备固定于所述承载装置,所述待检测微光夜视设备通过所述承载装置可相对于所述底座进行位置姿态调节;/n测量设备支架,所述测量设备支架可移动地设于所述底座,所述测量设备支架的自由端适于固定功能测量器件。/n

【技术特征摘要】
1.一种微光夜视设备光学检测标定工作台,其特征在于,包括:
底座;
平行光管装置,所述平行光管装置固定于所述底座;
承载装置,所述承载装置设于所述底座,待检测微光夜视设备固定于所述承载装置,所述待检测微光夜视设备通过所述承载装置可相对于所述底座进行位置姿态调节;
测量设备支架,所述测量设备支架可移动地设于所述底座,所述测量设备支架的自由端适于固定功能测量器件。


2.根据权利要求1所述的微光夜视设备光学检测标定工作台,其特征在于,所述承载装置包括:
固定架,所述固定架设于所述底座;
调节组件,所述调节组件可滑动地设于所述固定架,待检测微光夜视设备设于所述调节组件的远离所述固定架的一端,所述待检测微光夜视设备通过所述调节组件相对于所述固定架可转动。


3.根据权利要求2所述的微光夜视设备光学检测标定工作台,其特征在于,所述固定架设有第一导轨,所述调节组件通过所述第一导轨与所述固定架可滑动连接。


4.根据权利要求2所述的微光夜视设备光学检测标定工作台,其特征在于,所述调节组件包括:
固定座,所述固定座与所述固定架可滑动配合;
转台,所述转台可转动设于所述固定座;
支撑板,所述支撑板设于所述转台,所述待检测微光夜视设备固定于所述支撑板的远离所述转台的一端。


5.根据权利要求1所述的微光夜视设备光学检测标定工作台,其特征在于,所述平行光管装置包括:
底板,所述底板固定于所述底座;
支撑臂组件,所述支撑臂组件设于所述底板;
平行光管,所述平行光管固定于所述支撑臂组件的自由端。

【专利技术属性】
技术研发人员:郝利民贾金山罗星星
申请(专利权)人:中国电子科技集团公司第十一研究所
类型:发明
国别省市:北京;11

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