一种恒温晶体振荡器的老化测试架结构制造技术

本实用新型专利技术公开了一种恒温晶体振荡器的老化测试架结构，涉及电力电子器件技术领域。包括底板和支撑板，所述底板的上方设置有支撑板，所述底板的上表面开设有滑轨，所述滑轨的上方滑动连接有支撑杆，所述支撑杆的外部套接有支架，所述支架的前端上表面开设有卡槽，所述支架的背面螺纹连接有定位螺栓；通过设置支撑板对晶体振荡器本体进行固定，其内部设置的方槽和圆孔与晶体振荡器的本体和引脚相对应，使支撑结构可以适应不同检测阶段对晶体振荡器安装方式的需要，在支撑板两侧设置齿轮，通过齿轮搭接在高度可调节的支架上，对检测过程中晶体振荡器的固定高度及角度进行调整，使其跟符合检测需求，从而达到便于本实用的目的。

【技术实现步骤摘要】
一种恒温晶体振荡器的老化测试架结构
本技术涉及电力电子器件
，具体为一种恒温晶体振荡器的老化测试架结构。
技术介绍
晶体振荡器是指从一块石英晶体上按一定方位角切下薄片(简称为晶片)，石英晶体谐振器，简称为石英晶体或晶体、晶振；而在封装内部添加IC组成振荡电路的晶体元件称为晶体振荡器。其产品一般用金属外壳封装，也有用玻璃壳、陶瓷或塑料封装的。现有技术中，恒温晶体振荡器长期使用过程中容易发生老化现象，需要对其老化程度进行测试，常见的老化测试支架结构缺乏对应的引脚安置结构，且难以对支撑高度个角度进行调节，使用不方便。
技术实现思路
本技术提供了一种恒温晶体振荡器的老化测试架结构，具备便于使用的优点，以解决使用不方便的问题。为实现便于使用的目的，本技术提供如下技术方案：一种恒温晶体振荡器的老化测试架结构，包括底板和支撑板，所述底板的上方设置有支撑板；所述底板的上表面开设有滑轨，所述滑轨的上方滑动连接有支撑杆，所述支撑杆的外部套接有支架，所述支架的前端上表面开设有卡槽，所述支架的背面螺纹连接有定位螺栓；所述支撑板的中间开设有方槽，所述方槽的侧面开设有圆孔，所述支撑板的两端固定连接有齿轮，所述齿轮背离支撑板的一侧固定连接有手柄。作为本技术的一种优选技术方案，所述滑轨的两端延伸至底板侧面并开口。作为本技术的一种优选技术方案，所述支撑杆数量为双数，相邻的两个支撑杆为一组，所述支架在每组支撑杆上对称设置。作为本技术的一种优选技术方案，所述定位螺栓贯穿支架与支撑杆紧密贴合。作为本技术的一种优选技术方案，所述方槽与晶体振荡器横截面相适配，所述方槽内壁覆盖有防滑材料。作为本技术的一种优选技术方案，所述圆孔设置有八个，八个圆孔在方槽两侧呈两个对称的矩形排列，所述圆孔孔径大于晶体振荡器引脚直径，且相邻圆孔间距与引脚间距相适配。作为本技术的一种优选技术方案，所述卡槽形状为与齿轮上下移动轨迹相适配的不规则形状。与现有技术相比，本技术提供了一种恒温晶体振荡器的老化测试架结构，具备以下有益效果：该恒温晶体振荡器的老化测试架结构，通过设置支撑板对晶体振荡器本体进行固定，其内部设置的方槽和圆孔与晶体振荡器的本体和引脚相对应，使支撑结构可以适应不同检测阶段对晶体振荡器安装方式的需要，在支撑板两侧设置齿轮，通过齿轮搭接在高度可调节的支架上，对检测过程中晶体振荡器的固定高度及角度进行调整，使其跟符合检测需求，从而达到便于本实用的目的。附图说明图1为本技术的结构示意图；图2为本技术的侧视图；图3为本技术的支撑板俯视图。图中：1、底板；11、滑轨；12、支撑杆；13、支架；14、卡槽；15、定位螺栓；2、支撑板；21、方槽；22、圆孔；23、齿轮；24、手柄。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。请参阅图1-3，本技术公开了一种恒温晶体振荡器的老化测试架结构，包括底板1和支撑板2，所述底板1的上方设置有支撑板2；所述底板1的上表面开设有滑轨11，所述滑轨11的上方滑动连接有支撑杆12，所述支撑杆12的外部套接有支架13，所述支架13的前端上表面开设有卡槽14，所述支架13的背面螺纹连接有定位螺栓15；所述支撑板2的中间开设有方槽21，所述方槽21的侧面开设有圆孔22，所述支撑板2的两端固定连接有齿轮23，所述齿轮23背离支撑板2的一侧固定连接有手柄24。具体的，所述滑轨11的两端延伸至底板1侧面并开口。本实施方案中，滑轨11两端延伸至底板1侧面并开口，是支撑杆12可以从两侧开口处滑入，方便对装置整体进行拆分和组装，同时可以根据检测数量的需要对支撑杆12的数量做出调整，增加或减少支撑结构的数量。具体的，所述支撑杆12数量为双数，相邻的两个支撑杆12为一组，所述支架13在每组支撑杆12上对称设置。本实施方案中，每组支撑杆12上的支架13对称设置，形成左右对称的支撑结构，对支撑板2进行支撑，提高支撑的稳定性。具体的，所述定位螺栓15贯穿支架13与支撑杆12紧密贴合。本实施方案中，定位螺栓15的旋入旋出直接影响支架13与支撑杆12之间的摩擦力，当定位螺栓15旋出时，支架13与支撑杆12之间的摩擦力降低，从而可以对支架13在支撑杆12上的位置进行调节。具体的，所述方槽21与晶体振荡器横截面相适配，所述方槽21内壁覆盖有防滑材料。本实施方案中，需要对晶体振荡器带有引脚的一面进行检测时，可以将晶体振荡器反向插入方槽21内，利用防化材料产生的摩擦力进行固定。具体的，所述圆孔22设置有八个，八个圆孔22在方槽21两侧呈两个对称的矩形排列，所述圆孔22孔径大于晶体振荡器引脚直径，且相邻圆孔22间距与引脚间距相适配。本实施方案中，圆孔22呈矩形设置，当检测时需要将晶体振荡器正方在支撑板2上时，可以将引脚直接插入圆孔22固定。具体的，所述卡槽14形状为与齿轮23上下移动轨迹相适配的不规则形状。本实施方案中，卡槽14形状为与齿轮23上下移动轨迹相适配的不规则形状，可以在不影响齿轮23正常上下移动的过程中对不同角度的齿轮23进行固定，进而使支撑板2可以在不同角度下进行固定。本技术的工作原理及使用流程：在使用时，根据同期检测的晶体振荡器数量选取对应的支架13数量和支撑杆12数量，将支撑杆12从滑轨11两侧滑入底板1上方，支架13从套接在支撑杆12外部并调整至合适的高度，旋紧定位螺栓15固定，支撑板2转动至需要的角度后，将两侧的齿轮23卡入卡槽14内部，完成检测架的组装，检测时，将晶体振荡器从方槽21和圆孔22插入支撑板2内，进行检测。综上所述，该恒温晶体振荡器的老化测试架结构，通过设置支撑板2对晶体振荡器本体进行固定，其内部设置的方槽21和圆孔22与晶体振荡器的本体和引脚相对应，使支撑结构可以适应不同检测阶段对晶体振荡器安装方式的需要，在支撑板2两侧设置齿轮23，通过齿轮23搭接在高度可调节的支架13上，对检测过程中晶体振荡器的固定高度及角度进行调整，使其跟符合检测需求，从而达到便于本实用的目的。需要说明的是，在本文中，诸如术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。尽管已经本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种恒温晶体振荡器的老化测试架结构，包括底板(1)和支撑板(2)，其特征在于：所述底板(1)的上方设置有支撑板(2)；/n所述底板(1)的上表面开设有滑轨(11)，所述滑轨(11)的上方滑动连接有支撑杆(12)，所述支撑杆(12)的外部套接有支架(13)，所述支架(13)的前端上表面开设有卡槽(14)，所述支架(13)的背面螺纹连接有定位螺栓(15)；/n所述支撑板(2)的中间开设有方槽(21)，所述方槽(21)的侧面开设有圆孔(22)，所述支撑板(2)的两端固定连接有齿轮(23)，所述齿轮(23)背离支撑板(2)的一侧固定连接有手柄(24)。/n

【技术特征摘要】
1.一种恒温晶体振荡器的老化测试架结构，包括底板(1)和支撑板(2)，其特征在于：所述底板(1)的上方设置有支撑板(2)；
所述底板(1)的上表面开设有滑轨(11)，所述滑轨(11)的上方滑动连接有支撑杆(12)，所述支撑杆(12)的外部套接有支架(13)，所述支架(13)的前端上表面开设有卡槽(14)，所述支架(13)的背面螺纹连接有定位螺栓(15)；
所述支撑板(2)的中间开设有方槽(21)，所述方槽(21)的侧面开设有圆孔(22)，所述支撑板(2)的两端固定连接有齿轮(23)，所述齿轮(23)背离支撑板(2)的一侧固定连接有手柄(24)。


2.根据权利要求1所述的一种恒温晶体振荡器的老化测试架结构，其特征在于：所述滑轨(11)的两端延伸至底板(1)侧面并开口。


3.根据权利要求1所述的一种恒温晶体振荡器的老化测试架结构，其特征在于：所述支撑杆(12)数量为双数，相...

【专利技术属性】
技术研发人员：周利明，
申请(专利权)人：苏州市利明电子有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32