一种S、PIM参数公用测试跳线制造技术

本实用新型专利技术公开了一种S、PIM参数公用测试跳线，包括：接口连接壳体、电缆连接壳体、以及依次连接的插针、射频同轴电缆；插针上套设有绝缘套管，射频同轴电缆的末端套设有管道型定位件；接口连接壳体套设在绝缘套管上，管道型定位件的末端对应绝缘套管设有第一连接限位块，电缆连接壳体对应该第一连接限位块与接口连接壳体连接；插针的首端设有插槽，射频同轴电缆的线芯插置于该插槽中与插针无缝隙连接。本实用新型专利技术结构设计合理巧妙，结构简单，抗损耗性能强，适用的频率宽，适用于S、PIM参数的传输获取，可实现S、PIM参数的公用，不会因抗损耗或互调指标不达标而导致S、PIM参数的失真；另外，有效降低了生产成本并简化产品组装流程。

【技术实现步骤摘要】
一种S、PIM参数公用测试跳线
本技术涉及射频测试跳线
，具体涉及一种S、PIM参数公用测试跳线。
技术介绍
目前，市面上已推出既能测量无源器件的互调指标，又能测量无源器件的S参数指标的PIM+S参数测试仪，其中PIM参数值得是互调指标，S参数指的是散射参数，均为射频测试中的重要参数。市面上可用于射频测试的跳线有两种，一种是编织型高频同轴电缆，用于测试信号损耗，另外一种是波纹管线缆，用于测试互调指标，但对于编织型电缆，互调达不到相应的要求将会拉低整体基站的性能，增加干扰及损耗，降低信号的传输质量及基站的传输性能，而波纹管线缆柔性差；在对无源器件产品测试时，PIM+S参数测试仪需要分别用两种测试线与产品进行连接，步骤繁琐，PIM+S参数测试仪同时测量两种参数的便捷性体无法良好地呈现；进而，市场急需一款能S、PIM参数公用的测试跳线。
技术实现思路
为了解决上述问题，本技术公开了一种S、PIM参数公用测试跳线。本技术为实现上述目的所采用的技术方案是：一种S、PIM参数公用测试跳线，包括：接口连接壳体、电缆连接壳体、以及依次连接的插针、射频同轴电缆；所述插针上套设有绝缘套管，所述射频同轴电缆的末端套设有管道型定位件；所述接口连接壳体套设在所述绝缘套管上，所述管道型定位件的末端对应所述绝缘套管设有第一连接限位块，所述电缆连接壳体对应该第一连接限位块与所述接口连接壳体连接；所述插针的首端设有插槽，所述射频同轴电缆的线芯插置于该插槽中与所述插针无缝隙连接。所述插针的外壁面还设有与所述插槽连通的通焊孔。所述插接口连接壳体沿所述插针的轴向延伸有包围所述插针的抗干扰套筒。所述射频同轴电缆从内至外依次设有线芯、绝缘编织层、以及外护套，所述绝缘编织层的末端从所述外护套末端伸出有绝缘外露段，所述线芯的末端从所述绝缘编织层末端伸出有线芯外露段；所述管道型定位件对应所述外护套套设在所述绝缘外露段上。所述管道型定位件的首端对应所述外护套设有第二连接限位块。所述线芯外露段插置于所述插槽中与所述插针无缝隙连接；所述插针的末端还对应所述绝缘外露段设有一绝缘垫片。所述绝缘套管、第一连接限位块间还设有套设在所述绝缘垫片上的衬套。所述接口连接壳体上设有内螺纹连接部，所述电缆连接壳体上设有外螺纹连接部；所述电缆连接壳体对应所述内螺纹连接部通过所述外螺纹连接部与所述接口连接壳体连接。其还包括螺套；所述接口连接壳体上还设有第一卡环容置槽，所述螺套内壁对应所述第一卡环容置槽设有第二卡环容置槽；一压缩卡环设置在所述第一卡环容置槽、第二卡环容置槽中使所述螺套与所述接口连接壳体活动连接。所述插针为铍青铜插针，所述线芯为铍青铜线芯。本技术的有益效果为：本技术结构设计合理巧妙，结构简单，抗损耗性能强，适用的频率宽，适用于S、PIM参数的传输获取，可实现S、PIM参数的公用，不会因抗损耗或互调指标不达标而导致S、PIM参数的失真；其中，线芯插置在插槽中与插针无缝隙连接，在不增加线芯直径的前提下最大限度地提高了插针和线芯的接触面积，提高了本产品的抗损耗性能；另外，管道型定位件的末端通过第一连接限位块能对应连接壳体卡置；再通过接口连接壳体、电缆连接壳体的连接后，实现了对线芯和插针的完全定位，不用配备额外的定位机构，且无需额外的焊接等连接工艺，有效降低本产品的生产成本并简化产品组装流程。下面结合附图与具体实施方式，对本技术进一步说明。附图说明图1是本技术实施例中一种S、PIM参数公用测试跳线的立体图；图2是本技术实施例中一种S、PIM参数公用测试跳线的内部结构示意图；图3是本技术实施例中一种S、PIM参数公用测试跳线的结构分解示意图；图4是本技术实施例中插针、射频同轴电缆、绝缘套管、管道型定位件的结构示意图；图5是本技术实施例中螺套及接口连接壳体的连接关系示意图；图6是本技术实施例中一种S、PIM参数公用测试跳线的损耗测试图；图7是本技术实施例中一种S、PIM参数公用测试跳线在输入频率为900Mhz时的互调测试图。具体实施方式实施例，本技术主要用于对移相器的焊接，将贴片元件的引脚与移相器的焊盘通过焊料的融化冷却结合起来，实现对移相器的自动焊接。参见图1至图7本实施例提供的一种S、PIM参数公用测试跳线，包括：接口连接壳体1、电缆连接壳体2、以及依次连接的插针3、射频同轴电缆4；所述插针3上套设有绝缘套管5，所述射频同轴电缆4的末端套设有管道型定位件6；所述接口连接壳体1套设在所述绝缘套管5上，所述管道型定位件6的末端对应所述绝缘套管5设有第一连接限位块61，所述电缆连接壳体2对应该第一连接限位块61与所述接口连接壳体1连接；所述插针3的首端设有插槽31，所述射频同轴电缆4的线芯41插置于该插槽31中与所述插针3无缝隙连接。具体地，线芯41插置在插槽31中与插针3无缝隙连接，在不增加线芯41直径的前提下最大限度地提高了插针3和线芯41的接触面积，保证经济性原则的前提下提高了本产品的抗损耗性能。同时由于无缝隙连接，不会形成细小的被击穿空隙，也就是说信号的传递不会介入除插针3、线芯41外的其他介质，有效地减少互调，能适用于更宽的频段。进而可实现S、PIM参数的公用，不会因抗损耗或互调指标不达标而导致S、PIM参数的失真。同时通过电缆连接壳体2、接口连接壳体1的连接保证本产品用于连接产品或连接接口部位的刚度，保证其内部结构、间距的稳定，有效保证本产品连接各器件时的性能参数不变。而绝缘套管5的设置，将插针3与电缆连接壳体2隔绝开来，避免插针3与电缆连接壳体2的接触，从而致使互调增大，无法满足测试需求。传统的线芯41与插针3的连接方式，通常具有中空余位或缝隙，使得空气被击穿形成信号传播的介质，本产品便是有效地解决了这一问题，从而大幅提高了抗损耗性能，有效地减少互调，能适用于更宽的频段。进一步地，所述绝缘套管5包括截面直径较小的上部定位段51以及截面直径较大的下部隔离段52，而所述上部定位段51、下部隔离段52均和插针3紧密配合。好处是通过截面直径较大的下部隔离段52，增加了接口连接壳体1的整体径宽，能更好地减少外部对插针3的干扰，即减少外部对传输信号的干扰，增加本产品的抗干扰性能。所述插针3的外壁面还设有与所述插槽31连通的通焊孔32。具体地，所述通焊孔32的设置，通过高频感应焊等精密焊接技术使得焊接材料可熔融进入所述插槽31中，填补线芯41与插针3间的空隙，实现无缝隙连接。此处焊接材料可以是锡或铍青铜。所述插接口连接壳体1沿所述插针3的轴向延伸有包围所述插针3的抗干扰套筒11。具体地，由于插接口连接壳体1为了符合刚度要求，很多时候采用金属或合金材料，这些材料有些还含有铁磁性，而铁磁性对互调的影响非常大。所述抗干扰套筒11的设置是为了隔绝插接口本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种S、PIM参数公用测试跳线，其特征在于，包括：接口连接壳体、电缆连接壳体、以及依次连接的插针、射频同轴电缆；/n所述插针上套设有绝缘套管，所述射频同轴电缆的末端套设有管道型定位件；/n所述接口连接壳体套设在所述绝缘套管上，所述管道型定位件的末端对应所述绝缘套管设有第一连接限位块，所述电缆连接壳体对应该第一连接限位块与所述接口连接壳体连接；/n所述插针的首端设有插槽，所述射频同轴电缆的线芯插置于该插槽中与所述插针无缝隙连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种S、PIM参数公用测试跳线，其特征在于，包括：接口连接壳体、电缆连接壳体、以及依次连接的插针、射频同轴电缆；
所述插针上套设有绝缘套管，所述射频同轴电缆的末端套设有管道型定位件；
所述接口连接壳体套设在所述绝缘套管上，所述管道型定位件的末端对应所述绝缘套管设有第一连接限位块，所述电缆连接壳体对应该第一连接限位块与所述接口连接壳体连接；
所述插针的首端设有插槽，所述射频同轴电缆的线芯插置于该插槽中与所述插针无缝隙连接。


2.根据权利要求1所述S、PIM参数公用测试跳线，其特征在于，所述插针的外壁面还设有与所述插槽连通的通焊孔。


3.根据权利要求1所述S、PIM参数公用测试跳线，其特征在于，所述接口连接壳体沿所述插针的轴向延伸有包围所述插针的抗干扰套筒。


4.根据权利要求1所述S、PIM参数公用测试跳线，其特征在于，所述射频同轴电缆从内至外依次设有线芯、绝缘编织层、以及外护套，
所述绝缘编织层的末端从所述外护套末端伸出有绝缘外露段，所述线芯的末端从所述绝缘编织层末端伸出有线芯外露段；
所述管道型定位件对应所述外护套套设在所述绝缘外露段上。


5.根据权利要求4所述S、PIM...

【专利技术属性】
技术研发人员：黎锦兴，高浩哲，李世超，尹志华，刘青龙，李鹏辉，
申请(专利权)人：东莞市振亮精密科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44