一种用于电子产品的老化测试设备制造技术

技术编号:29455598 阅读:21 留言:0更新日期:2021-07-27 17:20
本发明专利技术涉及一种测试设备,尤其涉及一种用于电子产品的老化测试设备。本发明专利技术要解决的技术问题:提供一种加热冷却为一体且拿取方便的用于电子产品的老化测试设备。一种用于电子产品的老化测试设备,包括有:框架、进料板、小摆板、加热器、滚轮、冷冻组件、分隔组件和取料组件,所述框架上设有进料板,所述框架上转动式设有小摆板,所述框架上设有加热器,所述框架两侧均转动式设有多个滚轮,所述框架上设有冷冻组件,所述冷冻组件上设有分隔组件,所述冷冻组件上设有取料组件。本发明专利技术带有接触组件,进而使得夹杆自动将电子产品夹住,从而无需人工手动控制夹杆将电子产品夹住。

【技术实现步骤摘要】
一种用于电子产品的老化测试设备
本专利技术涉及一种测试设备,尤其涉及一种用于电子产品的老化测试设备。
技术介绍
电子产品是以电能为工作基础的相关产品,因早期产品主要以电子管为基础原件故名电子产品。电子产品生产出后需要进行各种测试,其中需要对电子产品进行老化测试是很有必要的,一般的电子产品老化需要较长的时间,因此测试较为困难和耗时,一般对电子产品老化测试是经过冷热交替处理,然后看电子产品老化程度,因此需要工作人员拿取使用电子产品进行加热和冷却,过程较为复杂,且工作效率较低。因此亟需研发一种加热冷却为一体且拿取方便的用于电子产品的老化测试设备。
技术实现思路
为了克服一般对电子产品老化测试需要工作人员拿取使用电子产品进行加热和冷却,过程较为复杂,且工作效率较低的缺点,要解决的技术问题:提供一种加热冷却为一体且拿取方便的用于电子产品的老化测试设备。本专利技术的技术实施方案是:一种用于电子产品的老化测试设备,包括有:框架、进料板、小摆板、加热器、滚轮、冷冻组件、分隔组件和取料组件,所述框架上设有进料板,所述框架上转动式设有小摆板,所述框架上设有加热器,所述框架两侧均转动式设有多个滚轮,所述框架上设有冷冻组件,所述冷冻组件上设有分隔组件,所述冷冻组件上设有取料组件。进一步地,冷冻组件包括有:安装框、冻结器、连接线、出气管、大摆板,所述框架上设有安装框,所述安装框上设有冻结器,所述冻结器与安装框的两侧均对称之间连接有连接线,所述安装框的两侧均连接有多个出气管,所述出气管与连接线相连接,所述安装框上转动式设有大摆板。进一步地,分隔组件包括有:固定杆、U型架和隔板,所述安装框的两侧均连接有固定杆,所述固定杆之间滑动式设有U型架,所述U型架上设有隔板。进一步地,取料组件包括有:安装杆、移动架、短滑轨、把手、移动块、第一弹簧、夹杆和放置板,所述安装框的两侧均通过螺栓固接有安装杆,所述安装杆之间滑动式连接有移动架,所述移动架的两侧均设有短滑轨,所述移动架上连接有把手,所述短滑轨的两侧均滑动式设有移动块,所述移动块与短滑轨之间均连接有第一弹簧,所述移动块上均连接有夹杆,所述安装框上设有放置板。进一步地,还包括有接触组件,接触组件包括有:推杆、异形架、方形套、异形块和第二弹簧,一侧夹杆上均设有推杆,所述安装框上设有异形架,所述异形架上连接有方形套,所述方形套的两侧均滑动式设有异形块,所述异形块与推杆配合,所述方形套与异形块之间均连接有第二弹簧。进一步地,还包括有推动组件,推动组件包括有:固定长滑套、L型杆、第三弹簧、长滑轨、斜板和第四弹簧,所述移动架的两侧均连接有固定长滑套,所述固定长滑套上均滑动式设有L型杆,所述L型杆与固定长滑套之间均连接有第三弹簧,所述框架的两侧均设有长滑轨,所述长滑轨之间滑动式设有斜板,所述斜板与U型架配合,所述斜板与L型杆连接,所述斜板与长滑轨之间均连接有第四弹簧。进一步地,还包括有滑动组件,滑动组件包括有:下料架、滑轮组、推块、连接杆和钢丝线,所述安装框上设有下料架,所述安装框上连接有滑轮组,所述放置板上滑动式连接有连接杆,所述连接杆与放置板之间连接有弹性件,所述连接杆上滑动式连接有推块,所述连接杆上连接有钢丝线,所述钢丝线的尾端绕过滑轮组连接在大摆板上。进一步地,所述滑轮组由三个滑轮构成。本专利技术的有益效果:1、本专利技术带有接触组件,进而使得夹杆自动将电子产品夹住,从而无需人工手动控制夹杆将电子产品夹住。2、本专利技术带有推动组件,从而会使得隔板自动向上移动不再隔挡安装框与框架,从而进一步减少人工操作的负担。3、本专利技术带有滑动组件,控制大摆板旋转时会自动将电子产品向左侧移动推出,从而使得取出电子产品更加简单方便。附图说明图1为本专利技术的立体结构示意图。图2为本专利技术冷冻组件的立体结构示意图。图3为本专利技术分隔组件的立体结构示意图。图4为本专利技术取料组件的立体结构示意图。图5为本专利技术接触组件的立体结构示意图。图6为本专利技术推动组件的立体结构示意图。图7为本专利技术滑动组件的立体结构示意图。附图标号:1_框架,2_进料板,3_小摆板,4_加热器,5_滚轮,6_冷冻组件,61_安装框,62_冻结器,63_连接线,64_出气管,65_大摆板,7_分隔组件,71_固定杆,72_U型架,73_隔板,8_取料组件,81_安装杆,82_移动架,83_短滑轨,84_把手,85_移动块,86_第一弹簧,87_夹杆,88_放置板,9_接触组件,91_推杆,92_异形架,93_方形套,94_异形块,95_第二弹簧,10_推动组件,102_固定长滑套,103_L型杆,104_第三弹簧,105_长滑轨,106_斜板,107_第四弹簧,11_滑动组件,111_下料架,112_滑轮组,113_推块,114_连接杆,115_钢丝线。具体实施方式下面结合附图和实施例对本专利技术进一步地进行说明。实施例1一种用于电子产品的老化测试设备,如图1-4所示,包括有框架1、进料板2、小摆板3、加热器4、滚轮5、冷冻组件6、分隔组件7和取料组件8,框架1右侧设有进料板2,框架1的右侧转动式设有小摆板3,框架1的上侧设有加热器4,框架1的内部上下两侧均转动式设有多个滚轮5,框架1的左侧设有冷冻组件6,冷冻组件6的右侧设有分隔组件7,冷冻组件6的左侧设有取料组件8。当需要测试电子产品老化时,可启动加热器4,随后将电子产品通过进料板2推入框架1中,进而使得小摆板3进行旋转,电子产品便会进入滚轮5之间,电子产品全部进入后小摆板3因重力自动反向旋转复位,此时加热器4会对电子产品进行加热,当电子产品加热至一定程度时,可控制分隔组件7使得冷冻组件6与框架1相通,同时控制取料组件8将电子产品夹取至冷冻组件6中,随后控制分隔组件7再次隔挡冷冻组件6与框架1,随后启动冷冻组件6,冷冻组件6便会对电子产品进行冷冻降温,降温完成后,将电子产品取出,进而可以观察电子产品老化情况,随后可重复上述过程,从而测试电子产品耐老化程度,测试完成后关闭加热器4和冷冻组件6即可。冷冻组件6包括有安装框61、冻结器62、连接线63、出气管64、大摆板65,框架1的左侧设有安装框61,安装框61的上侧设有冻结器62,冻结器62与安装框61的前后两侧之间连接均左右对称的有连接线63,安装框61的前后两侧均连接有多个出气管64,出气管64与连接线63相连接,安装框61的左侧转动式设有大摆板65。将电子产品加热完成后,可控制分隔组件7使得安装框61与框架1相通,随后控制取料组件8将电子产品夹取至安装框61中,随后控制分隔组件7再次隔挡安装框61与框架1,然后启动冻结器62,冻结器62便会发出冷气,进而通过连接线63从出气管64喷出,从而对电子产品进行冷冻降温,降温完成后,控制大摆板65旋转打开,然后将电子产品取出,取出后不再控制大摆板65,大摆板65因重力自动反向旋转复位,进而可以观察电子产品老化情况,测试完成后关闭冻本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于电子产品的老化测试设备,其特征是,包括有:框架(1)、进料板(2)、小摆板(3)、加热器(4)、滚轮(5)、冷冻组件(6)、分隔组件(7)和取料组件(8),所述框架(1)上设有进料板(2),所述框架(1)上转动式设有小摆板(3),所述框架(1)上设有加热器(4),所述框架(1)两侧均转动式设有多个滚轮(5),所述框架(1)上设有冷冻组件(6),所述冷冻组件(6)上设有分隔组件(7),所述冷冻组件(6)上设有取料组件(8)。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于电子产品的老化测试设备,其特征是,包括有:框架(1)、进料板(2)、小摆板(3)、加热器(4)、滚轮(5)、冷冻组件(6)、分隔组件(7)和取料组件(8),所述框架(1)上设有进料板(2),所述框架(1)上转动式设有小摆板(3),所述框架(1)上设有加热器(4),所述框架(1)两侧均转动式设有多个滚轮(5),所述框架(1)上设有冷冻组件(6),所述冷冻组件(6)上设有分隔组件(7),所述冷冻组件(6)上设有取料组件(8)。


2.按照权利要求1所述的一种用于电子产品的老化测试设备,其特征是,冷冻组件(6)包括有:安装框(61)、冻结器(62)、连接线(63)、出气管(64)、大摆板(65),所述框架(1)上设有安装框(61),所述安装框(61)上设有冻结器(62),所述冻结器(62)与安装框(61)的两侧均对称之间连接有连接线(63),所述安装框(61)的两侧均连接有多个出气管(64),所述出气管(64)与连接线(63)相连接,所述安装框(61)上转动式设有大摆板(65)。


3.按照权利要求2所述的一种用于电子产品的老化测试设备,其特征是,分隔组件(7)包括有:固定杆(71)、U型架(72)和隔板(73),所述安装框(61)的两侧均连接有固定杆(71),所述固定杆(71)之间滑动式设有U型架(72),所述U型架(72)上设有隔板(73)。


4.按照权利要求3所述的一种用于电子产品的老化测试设备,其特征是,取料组件(8)包括有:安装杆(81)、移动架(82)、短滑轨(83)、把手(84)、移动块(85)、第一弹簧(86)、夹杆(87)和放置板(88),所述安装框(61)的两侧均通过螺栓固接有安装杆(81),所述安装杆(81)之间滑动式连接有移动架(82),所述移动架(82)的两侧均设有短滑轨(83),所述移动架(82)上连接有把手(84),所述短滑轨(83)的两侧均滑动式设有移动块(85),所述移动块(85)与短滑轨(83)之间均连接有第一弹簧(86),所述移动块(85)上均连接有夹杆(87),所述安装框(61)上设有放置板(88)。

【专利技术属性】
技术研发人员:舒敏娇
申请(专利权)人:抚州盛宏电子有限公司
类型:发明
国别省市:江西;36

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