一种调光方法、装置及设备制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种调光方法、装置及设备，涉及计算机处理技术领域，以解决现有缺陷检测中光源调节参数相对固定，不能跟随待测样品尺寸位置变化自适应调节光源的问题。该方法包括：获取待测样品分别在G组不同打光参数下拍摄得到的G张样品图像；分别确定G张样品图像中每张样品图像的像素特征参数，得到G组像素特征参数；确定G组像素特征参数中与预设像素特征参数相似度最高的目标像素特征参数；确定目标像素特征参数对应的目标打光参数为待测样品的打光参数。本发明专利技术实施例可随待测样品尺寸位置变化适应地调节光源，以保证待测样品的图像质量，进而保证待测样品的缺陷检测结果不受光源差异影响。

【技术实现步骤摘要】
一种调光方法、装置及设备
本专利技术涉及计算机处理
，尤其涉及一种调光方法、装置及设备。
技术介绍
工业产品种类繁多，在工业产品的生产过程中，需要对生产样品进行缺陷检测。相关技术中，通常是采用基于机器视觉的缺陷检测系统来实现，该技术是通过获取样品图像，并对样品图像进行分析检测，因此，样品图像质量对产品缺陷检测的影响至关重要，而样品图像质量与拍摄样品图像时的打光参数存在直接关联。然而，目前的产品表面缺陷检测方案中，光源调节参数相对固定，不能跟随待测样品尺寸位置变化自适应调节光源，造成样品图像质量无法得到保证，进而影响待测样品的缺陷检测结果。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种调光方法、装置及设备，以解决现有缺陷检测中的光源调节参数相对固定，不能跟随待测样品尺寸位置变化自适应调节光源，造成样品图像质量无法得到保证，进而影响待测样品的缺陷检测结果的问题。第一方面，本专利技术实施例提供了一种调光方法，包括：获取待测样品分别在G组不同打光参数下拍摄得到的G张样品图像，其中，G为大于1的整数；分本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种调光方法，其特征在于，包括：/n获取待测样品分别在G组不同打光参数下拍摄得到的G张样品图像，其中，G为大于1的整数；/n分别确定所述G张样品图像中每张样品图像的像素特征参数，得到G组像素特征参数；/n确定所述G组像素特征参数中与预设像素特征参数相似度最高的目标像素特征参数，其中，所述预设像素特征参数为预先确定的模板样品图像的像素特征参数；/n确定所述目标像素特征参数对应的目标打光参数为所述待测样品的打光参数。/n

【技术特征摘要】
1.一种调光方法，其特征在于，包括：
获取待测样品分别在G组不同打光参数下拍摄得到的G张样品图像，其中，G为大于1的整数；
分别确定所述G张样品图像中每张样品图像的像素特征参数，得到G组像素特征参数；
确定所述G组像素特征参数中与预设像素特征参数相似度最高的目标像素特征参数，其中，所述预设像素特征参数为预先确定的模板样品图像的像素特征参数；
确定所述目标像素特征参数对应的目标打光参数为所述待测样品的打光参数。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述G组像素特征参数中与预设像素特征参数相似度最高的目标像素特征参数，包括：
分别计算所述G组像素特征参数中每组像素特征参数与预设像素特征参数的欧式距离，得到G个距离值；
将所述G个距离值中的最小距离值对应的像素特征参数确定为目标像素特征参数。


3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述分别确定所述G张样品图像中每张样品图像的像素特征参数，包括：
分别确定所述G张样品图像中每张样品图像的目标区域，其中，所述目标区域为包含样品图像特征的区域；
分别计算所述每张样品图像的目标区域的像素特征参数。


4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述分别确定所述G张样品图像中每张样品图像的目标区域，包括：
采用DetectoRS算法分别检测所述G张样品图像中每张样品图像的感兴趣区域ROI，其中，所述每张样品图像的ROI为所述每张样品图像的目标区域。


5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述打光参数包括打光亮度和打光角度，所述G组不同打光参数由m个打光亮度值和n个打光角度值组合得到，...

【专利技术属性】
技术研发人员：王华飞，祝晓旦，王赛楠，周畅，
申请(专利权)人：中移上海信息通信科技有限公司，中移智行网络科技有限公司，中国移动通信集团有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31