一种尖嘴陶瓷柱T面检测方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种尖嘴陶瓷柱T面检测方法、装置、设备及介质，方法包括：实时捕获尖嘴陶瓷柱的T面，搜寻所述捕获的尖嘴陶瓷柱的T面的最优曝光时间，确定初始T面影像并显示；根据所述初始T面影像，结合顶端检测算法，适应所述尖嘴陶瓷柱的高度，确定间接T面影像；根据所述间接T面影像，结合图像边缘锐度信息，搜寻所述间接T面影像的最佳对焦位置，确定目标T面影像；获取测量图纸，根据实际测量需求，进行实时切换目标测量图纸；根据所述目标T面影像以及所述目标测量图纸，确定所述尖嘴陶瓷柱的T面的检测结果。本发明专利技术实现了提高尖嘴陶瓷柱T面检测的效率和准确性，从而提高了尖嘴陶瓷柱产品良率，能广泛应用于尖嘴陶瓷柱检测技术领域。

A t-surface detection method, device, equipment and medium of pointed nose ceramic column

【技术实现步骤摘要】
一种尖嘴陶瓷柱T面检测方法、装置、设备及介质
本专利技术涉及尖嘴陶瓷柱检测
，尤其是一种尖嘴陶瓷柱T面检测方法、装置、设备及介质。
技术介绍
尖嘴陶瓷柱T面加工完成后，加工设备无法对T面加工效果进行可视化确认，需要额外的T面检测设备进行检测确认；加工设备首次设置加工参数时，检测尖嘴陶瓷柱的T面可以确认加工参数设置是否正确；在持续的加工过程中，需要按比例抽检尖嘴陶瓷柱的T面来确认加工设备是否稳定，以便及时发现加工设备是否异常，避免出现大批量不良品。因此，如何提高对尖嘴陶瓷柱T面加工效果检测、量化的效率和准确性，都是该领域检测设备设计的重要考量因素。现有尖嘴陶瓷柱加工后，人工通过显微镜来检查T面的加工效果，再通过人工测量，得出数据。通过显微镜对尖嘴陶瓷柱进行检查，人工需要频繁调节焦距，导致检查速度慢、效率低，且显微镜没有测量刻度，人工无法获得加工效果的量化数据，只能再次通过人工手动测量，获得数据，导致过程繁琐、效率低下，数据不够准确、可靠。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术实施例提供一种尖嘴陶瓷柱T面检测方法、装置、设备及介质。一方面，本专利技术实施例提供了一种尖嘴陶瓷柱T面检测方法，方法包括：实时捕获尖嘴陶瓷柱的T面，搜寻所述捕获的尖嘴陶瓷柱的T面的最优曝光时间，确定初始T面影像并显示；根据所述初始T面影像，结合顶端检测算法，适应所述尖嘴陶瓷柱的高度，确定间接T面影像；根据所述间接T面影像，结合图像边缘锐度信息，搜寻所述间接T面影像的最佳对焦位置，确定目标T面影像；获取测量图纸，根据实际测量需求，进行实时切换目标测量图纸；根据所述目标T面影像以及所述目标测量图纸，确定所述尖嘴陶瓷柱的T面的检测结果。优选地，在所述实时捕获尖嘴陶瓷柱的T面，搜寻所述捕获的尖嘴陶瓷柱的T面的最优曝光时间，确定初始T面影像并显示之前，还包括相机和光源的自检步骤，该步骤具体包括：获取背景图像；根据所述背景图像，确定所述背景图像与预设背景亮度的差异；分析所述背景图像与预设背景亮度的差异，确定所述相机镜头的脏污状况；根据所述背景图像，确定所述背景图像均匀性；分析所述背景图像均匀性，确定所述光源位置的偏差状况。优选地，所述实时捕获尖嘴陶瓷柱的T面，搜寻所述捕获的尖嘴陶瓷柱的T面的最优曝光时间，确定初始T面影像并显示，包括：实时捕捉所述尖嘴陶瓷柱的T面并在界面中显示图像，分析所述图像的实时灰度信息；根据所述图像的实时灰度信息，运用线性变化，确定所述捕获的尖嘴陶瓷柱的T面的最优曝光时间；根据所述捕获的尖嘴陶瓷柱的T面的最优曝光时间，对所述捕获的尖嘴陶瓷柱的T面进行曝光处理，确定初始T面影像并显示。优选地，所述根据所述初始T面影像，结合顶端检测算法，适应所述尖嘴陶瓷柱的高度，确定间接T面影像，包括：根据所述初始T面影像，结合顶端检测算法检测所述初始T面影像的顶端位置，控制所述初始T面影像移动到界面中心位置，确定所述间接T面影像。优选地，所述根据所述间接T面影像，结合图像边缘锐度信息，搜寻所述间接T面影像的最佳对焦位置，确定目标T面影像，包括：移动所述间接T面影像，确定所述间接T面影像边缘锐度信息变化；分析所述间接T面影像边缘锐度信息变化，确定最佳对焦位置；根据最佳对焦位置移动所述间接T面影像，确定所述目标T面影像。优选地，所述根据所述目标T面影像以及所述目标测量图纸，确定所述尖嘴陶瓷柱的T面的检测结果，包括：点选所述目标T面影像以及所述目标测量图纸，确定点选的边界线；根据边缘检测算法，检测所述目标T面影像的边缘位置，确定所述目标T面影像的边缘；根据所述目标T面影像的边缘，对齐所述点选的边界线，直接获取测量数据；根据所述测量数据对所述尖嘴陶瓷柱进行分析，确定所述尖嘴陶瓷柱的T面的检测结果。优选地，所述根据所述目标T面影像以及所述目标测量图纸，确定所述尖嘴陶瓷柱的T面的检测结果，包括：根据所述目标测量图纸，确定测量刻度；移动所述目标T面影像，对齐所述测量刻度，直接获取测量数据；根据所述测量数据对所述尖嘴陶瓷柱进行分析，确定所述尖嘴陶瓷柱的T面的检测结果。另一方面，本专利技术实施例还公开了一种尖嘴陶瓷柱T面检测装置，包括以下模块：第一模块，用于实时捕获尖嘴陶瓷柱的T面，搜寻所述捕获的尖嘴陶瓷柱的T面的最优曝光时间，确定初始T面影像并显示；第二模块，用于根据所述初始T面影像，结合顶端检测算法，适应所述尖嘴陶瓷柱的高度，确定间接T面影像；第三模块，根据所述间接T面影像，结合图像边缘锐度信息，搜寻所述间接T面影像的最佳对焦位置，确定目标T面影像；第四模块，用于获取测量图纸，根据实际测量需求，进行实时切换目标测量图纸；第五模块，用于根据所述目标T面影像以及所述目标测量图纸，确定所述尖嘴陶瓷柱的T面的检测结果。另一方面，本专利技术实施例还公开了一种电子设备，包括处理器以及存储器；所述存储器用于存储程序；所述处理器执行所述程序实现如前面所述的方法。另一方面，本专利技术实施例还公开了一种计算机可读存储介质，所述存储介质存储有程序，所述程序被处理器执行如前面所述的方法。本专利技术实施例还公开了一种计算机程序产品或计算机程序，该计算机程序产品或计算机程序包括计算机指令，该计算机指令存储在计算机可读存储介质中。计算机设备的处理器可以从计算机可读存储介质读取该计算机指令，处理器执行该计算机指令，使得该计算机设备执行前面的方法。本专利技术采用以上技术方案与现有技术相比，具有以下技术效果：本专利技术实施例通过实时捕获尖嘴陶瓷柱的T面，搜寻所述捕获的尖嘴陶瓷柱的T面的最优曝光时间，确定初始T面影像并显示；根据所述初始T面影像，适应所述尖嘴陶瓷柱的高度，确定间接T面影像；根据所述间接T面影像，搜寻所述间接T面影像的最佳对焦位置，确定目标T面影像；实现了对尖嘴陶瓷柱T面影像的准确获取；获取测量图纸，根据实际测量需求，进行实时切换目标测量图纸；能够存储多张测量图纸，能根据实际生产需求实时切换测量刻度；根据所述目标T面影像以及所述目标测量图纸，确定所述尖嘴陶瓷柱的T面的检测结果；实现了提高尖嘴陶瓷柱的T面检测加工效果的效率和准确性，从而提高了尖嘴陶瓷柱产品良率。附图说明为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例的一种尖嘴陶瓷柱T面检测装置的左视图；图2为本专利技术实施例的一种尖嘴陶瓷柱T面检测装置的俯视图；图3为本专利技术实施例的一种尖嘴陶瓷柱T面投影图；图4为尖嘴陶瓷柱检测宽度自动对焦完成图；图5为尖嘴陶瓷柱检测宽度完成图；<本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种尖嘴陶瓷柱T面检测方法，其特征在于，包括：/n实时捕获尖嘴陶瓷柱的T面，搜寻所述捕获的尖嘴陶瓷柱的T面的最优曝光时间，确定初始T面影像并显示；/n根据所述初始T面影像，结合顶端检测算法，适应所述尖嘴陶瓷柱的高度，确定间接T面影像；/n根据所述间接T面影像，结合图像边缘锐度信息，搜寻所述间接T面影像的最佳对焦位置，确定目标T面影像；/n获取测量图纸，根据实际测量需求，进行实时切换目标测量图纸；/n根据所述目标T面影像以及所述目标测量图纸，确定所述尖嘴陶瓷柱的T面的检测结果。/n

【技术特征摘要】
1.一种尖嘴陶瓷柱T面检测方法，其特征在于，包括：
实时捕获尖嘴陶瓷柱的T面，搜寻所述捕获的尖嘴陶瓷柱的T面的最优曝光时间，确定初始T面影像并显示；
根据所述初始T面影像，结合顶端检测算法，适应所述尖嘴陶瓷柱的高度，确定间接T面影像；
根据所述间接T面影像，结合图像边缘锐度信息，搜寻所述间接T面影像的最佳对焦位置，确定目标T面影像；
获取测量图纸，根据实际测量需求，进行实时切换目标测量图纸；
根据所述目标T面影像以及所述目标测量图纸，确定所述尖嘴陶瓷柱的T面的检测结果。


2.根据权利要求1所述的一种尖嘴陶瓷柱T面检测方法，其特征在于，在所述实时捕获尖嘴陶瓷柱的T面，搜寻所述捕获的尖嘴陶瓷柱的T面的最优曝光时间，确定初始T面影像并显示之前，还包括相机和光源的自检步骤，该步骤具体包括：
获取背景图像；
根据所述背景图像，确定所述背景图像与预设背景亮度的差异；
分析所述背景图像与预设背景亮度的差异，确定所述相机镜头的脏污状况；
根据所述背景图像，确定所述背景图像均匀性；
分析所述背景图像均匀性，确定所述光源位置的偏差状况。


3.根据权利要求1所述的一种尖嘴陶瓷柱T面检测方法，其特征在于，所述实时捕获尖嘴陶瓷柱的T面，搜寻所述捕获的尖嘴陶瓷柱的T面的最优曝光时间，确定初始T面影像并显示，包括：
实时捕捉所述尖嘴陶瓷柱的T面并在界面中显示图像，分析所述图像的实时灰度信息；
根据所述图像的实时灰度信息，运用线性变化，确定所述捕获的尖嘴陶瓷柱的T面的最优曝光时间；
根据所述捕获的尖嘴陶瓷柱的T面的最优曝光时间，对所述捕获的尖嘴陶瓷柱的T面进行曝光处理，确定初始T面影像并显示。


4.根据权利要求1所述的一种尖嘴陶瓷柱T面检测方法，其特征在于，所述根据所述初始T面影像，结合顶端检测算法，适应所述尖嘴陶瓷柱的高度，确定间接T面影像，包括：
根据所述初始T面影像，结合顶端检测算法检测所述初始T面影像的顶端位置，控制所述初始T面影像移动到界面中心位置，确定所述间接T面影像。


5.根据权利要求1所述的一种尖嘴陶瓷柱T面检测方法，其特征在于，所述根据所述间接T面影像，结合图像边缘锐度信息，搜寻所述间接T面影像的最佳对焦位置，确定...

【专利技术属性】
技术研发人员：项黎华，马艳红，邱基华，王浩强，黄庆伟，
申请(专利权)人：潮州三环集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44