校准装置、校准方法、程序和校准系统及校准目标制造方法及图纸

校准单元60获取分别由传感器单元40中的多个传感器中的一个传感器生成并指示校准目标的检测结果的检测信号。状态检测单元61使用检测信号来检测校准目标的状态。时间差校正量设定单元65通过使用由状态检测单元61获得的校准目标的状态检测结果来计算分别由传感器单元40的一个传感器生成的检测信号之间的时间差，并基于计算结果设定时间差校正量。基于时间差校正量设定单元65设定的时间差校正量，可以校正由传感器单元40的多个传感器获取的信息之间的时间对准偏差。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】校准装置、校准方法、程序和校准系统及校准目标
本技术涉及校准装置、校准方法、程序、校准系统以及校准目标，并校正在信息处理装置中通过使用多个传感器获取的信息的时间对准偏差。
技术介绍
传统地，已经提出了通过使用借助于多种类型的传感器获得的信息，高精度地进行物体识别处理等。例如，专利文献1记载了当使用雷达和摄像头作为传感器来检测校准目标，并且检测结果用于进行驾驶辅助等时，使用从雷达获得的校准目标的坐标和从摄像头获得的校准目标的坐标，来容易地进行校准目标的匹配。引文列表专利文献专利文献1：日本专利申请公开No.2007-218738
技术实现思路
本专利技术要解决的问题顺便提及，来自多个传感器的检测结果可以包括时间对准偏差以及空间对准偏差。于是，在检测结果之间存在时间对准偏差的情况下，不能基于来自传感器的检测结果精确地校正空间对准偏差等。于是，本技术的目的是提供一种能够校正由多个传感器获取的检测结果之间的时间对准偏差的校准装置、校准方法、程序和校准系统以及校准目标。>问题的解决方案...

【技术保护点】
1.一种校准装置，包括：/n状态检测单元，所述状态检测单元通过使用检测信号来检测校准目标的状态，所述检测信号中的每一个由多个传感器中的一个传感器生成并指示所述校准目标的检测结果；和/n时间差校正量设定单元，所述时间差校正量设定单元通过使用由所述状态检测单元获得的所述校准目标的状态检测结果，计算分别由所述传感器中的一个传感器生成的检测信号之间的时间差，并基于计算结果设定时间差校正量。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20181217 JP 2018-2352681.一种校准装置，包括：
状态检测单元，所述状态检测单元通过使用检测信号来检测校准目标的状态，所述检测信号中的每一个由多个传感器中的一个传感器生成并指示所述校准目标的检测结果；和
时间差校正量设定单元，所述时间差校正量设定单元通过使用由所述状态检测单元获得的所述校准目标的状态检测结果，计算分别由所述传感器中的一个传感器生成的检测信号之间的时间差，并基于计算结果设定时间差校正量。


2.按照权利要求1所述的校准装置，
其中所述多个传感器至少包括主动式传感器。


3.按照权利要求2所述的校准装置，
其中所述多个传感器包括主动式传感器和被动式传感器。


4.按照权利要求2所述的校准装置，
其中所述多个传感器由所述主动式传感器构成。


5.按照权利要求2所述的校准装置，
其中使用雷达和/或激光雷达作为主动式传感器。


6.按照权利要求1所述的校准装置，
其中通过使用分别由所述多个传感器中的一个传感器生成的检测信号中的任意一个作为基准，所述时间差校正量设定单元通过使用检测信号的各帧的状态检测结果，计算相对于作为基准的检测信号的时间差。


7.按照权利要求6所述的校准装置，
其中所述时间差校正量设定单元通过使用状态检测结果来计算当校准目标的状态发生相等变化时的帧号之差，并将该差值定义作为时间差。


8.按照权利要求6所述的校准装置，
其中分别由所述多个传感器中的一个传感器生成的检测信号指示当随机切换校准目标的状态时的检测结果。


9.按照权利要求6所述的校准装置，还包括：
同步处理单元，对于已计算出时间差的检测信号，通过使用时间差校正量，校正所述时间差。


10.按照权利要求9所述的校准装置，
其中时间差指示当校准目标的状态发生相等变化时的帧号之差，
所述同步处理单元使利用时间差校正量校正的检测信号的帧号与作为基准的检测信号的帧号一致地输出利用时间差校正量校正的检测信号。


11.一种校准方法，包括：
由状态检测单元通过使用检测信号来检测校准目标的状态，每一个检测信号由多个传感器中的一个传感器生成并指示所述校准目标的检...

【专利技术属性】
技术研发人员：山本英明，
申请(专利权)人：索尼半导体解决方案公司，
类型：发明
国别省市：日本;JP