成像装置和校准方法制造方法及图纸

根据本公开的成像装置(1)包括：具有像素的像素阵列单元(10)、模拟信号产生单元、A/D转换单元(23)和开关。模拟信号产生单元基于像素阵列单元(10)周围的温度产生模拟信号。A/D转换单元(23)将模拟信号转换为数字信号。开关切断将要供给到A/D转换单元的模拟信号。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】成像装置和校准方法
本公开涉及一种成像装置和校准方法。
技术介绍
近年来，在安装于成像装置等上的温度传感器中，存在通过预先获取作为预定的测试温度输出的温度数据的值来实施温度传感器的校准的技术(例如，参见专利文献1)。[引用文献列表][专利文献][专利文献1]JP2012-220437A
技术实现思路
[技术问题]然而，在现有技术中，当增加被实施校准的测试温度的数量以提高温度传感器的精度时，需要大量的时间或设备用于校准。因此，存在制造成本增加的担忧。因此，本公开提出了一种成像装置和校准方法，其能够在不增加被实施校准的测试温度的数量的情况下改善校准的精度。[问题的解决方案]根据本专利技术的一方面，提供了一种成像装置。所述成像装置包括：具有像素的像素阵列单元、模拟信号产生单元、A/D转换单元和开关。所述模拟信号产生单元基于所述像素阵列单元周围的温度产生模拟信号。所述A/D转换单元将所述模拟信号转换为数字信号。所述开关切断将要供给到所述A/D转换单元的所述模拟信号。根据本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种成像装置，包括：/n像素阵列单元，其包括像素；/n模拟信号产生单元，其被构造成基于所述像素阵列单元周围的温度产生模拟信号；/nA/D转换单元，其被构造成将所述模拟信号转换为数字信号；和/n开关，其被构造成切断将要供给到所述A/D转换单元的所述模拟信号。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20190110 JP 2019-0029371.一种成像装置，包括：
像素阵列单元，其包括像素；
模拟信号产生单元，其被构造成基于所述像素阵列单元周围的温度产生模拟信号；
A/D转换单元，其被构造成将所述模拟信号转换为数字信号；和
开关，其被构造成切断将要供给到所述A/D转换单元的所述模拟信号。


2.根据权利要求1所述的成像装置，其中所述开关设置在所述模拟信号产生单元和所述A/D转换单元之间。


3.根据权利要求1所述的成像装置，其中
所述像素产生作为模拟信号的图像数据，和
所述A/D转换单元对所述图像数据执行A/D转换。


4.根据权利要求1所述的成像装置，还包括被构造成校正所述数字信号的校正单元。


5.根据权利要求4所述的成像装置，其中所述校正单元基于第一数字信号和第二数字信号来计算出用于校正所述数字信号的校正计算式的参数，第一数字信号通过从由所述开关切断的所述模拟信号的...

【专利技术属性】
技术研发人员：古坂拓朗，河津直树，冈巧，
申请(专利权)人：索尼半导体解决方案公司，
类型：发明
国别省市：日本;JP