一种导光柱影像的处理方法与装置制造方法及图纸

技术编号:29412395 阅读:22 留言:0更新日期:2021-07-23 22:54
一种导光柱影像的处理方法与装置,包含:通过处理器对一导光柱设计模块进行光学模拟运算以产生对应该导光柱设计模块的第一影像;通过该处理器根据一辉度分析指令产生对应于第一影像的辉度分析图;依据辉度分析图以及多个光学参数产生第二影像;识别该第二影像中是否存在影像缺陷;以及若存在影像缺陷,依据该第二影像修正该导光柱设计模块。借此,能有效减少导光柱整体设计与验证的时间与成本。

【技术实现步骤摘要】
一种导光柱影像的处理方法与装置
本公开文件涉及一种影像处理方法与装置,且特别涉及一种导光柱影像的处理方法与装置。
技术介绍
由于近年智能家电以及电竞产品的崛起,视觉效果的需求大幅提升,如何更有效验证导光柱的设计也越来越重要。传统上,导光柱设计在经过光学模拟软件进行模拟的初步分析后,便由实际制作的模型进行实品缺陷的确认,最后再通过模具品于量产前再次确认方能大量生产。在现有技术中,一般导光柱设计制图后通过光学模拟软件出来的分析结果皆以照度分析为依据,因此,常常与实际成品具有差异性。此部分的差异性或是设计上的缺陷需要通过后续实际模型的制作才能发现,造成整体设计与验证的时间与成本的增加。
技术实现思路
为了解决上述问题,本公开文件的一些实施例提供一种导光柱影像的处理方法,其包含:通过处理器对导光柱设计模块进行光学模拟运算,以产生对应所述导光柱设计模块的第一影像;通过所述处理器根据一辉度分析指令产生对应于所述第一影像的辉度分析图:依据所述辉度分析图以及多个光学参数产生第二影像;识别所述第二影像中是否存在影像缺陷;以及若存在影像缺陷,依据所述第二影像修正所述导光柱设计模块。根据本公开一实施方式,识别所述第二影像中的影像缺陷的步骤包含:识别所述第二影像中对应所述导光柱设计模块的光学缺陷的多个暗区。根据本公开一实施方式,在对所述第一影像执行所述辉度分析指令以产生所述辉度分析图的步骤前还包含:对所述第一影像执行一照度分析指令以产生一照度分析图;识别所述照度分析图是否存在影像缺陷;以及若存在影像缺陷,依据所述照度分析图修正所述导光柱设计模块,并产生对应于修正后的所述导光柱设计模块的所述第一影像。根据本公开一实施方式,识别所述第二影像中是否存在影像缺陷还包含:比对所述第二影像和所述照度分析图;以及依据所述第二影像中颜色的趋势以及所述照度分析图中颜色的趋势识别第二影像中的影像缺陷。根据本公开一实施方式,在对所述第一影像执行所述辉度分析指令以产生所述辉度分析图的步骤前还包含:对所述第一影像执行一照度分析指令以产生一照度分析图;识别所述照度分析图是否存在影像缺陷;以及若所述照度分析图不存在影像缺陷时,通过一影像处理装置处理所述第一影像。根据本公开一实施方式,所述导光柱影像的处理方法还包含:当所述第二影像中的影像缺陷无法被识别时,进一步调整所述多个光学参数;依据所述辉度分析图以及调整后的所述多个光学参数产生一第三影像;以及识别所述第三影像中的影像缺陷。根据本公开一实施方式,所述多个光学参数包含亮度、对比度及伽玛值。本公开文件的另一些实施例提供一种导光柱影像的处理装置,包含:存储器以及处理器。存储器用以存储导光柱设计模块、辉度分析指令与多个光学参数。处理器耦接至存储器并用以:存取所述存储器中的所述导光柱设计模块,并产生对应导光柱设计模块的第一影像;对第一影像执行辉度分析指令以产生辉度分析图;依据所述辉度分析图以及所述存储器中的所述多个光学参数产生第二影像;识别所述第二影像中是否存在影像缺陷;以及若存在影像缺陷,依据所述第二影像修正所述导光柱设计模块。根据本公开一实施方式,所述存储器中还包含一照度分析指令,所述处理器还用以:对所述第一影像执行一照度分析指令以产生一照度分析图;识别所述照度分析图是否存在影像缺陷;以及若存在影像缺陷,依据所述照度分析图修正所述导光柱设计模块,并产生对应于修正后的所述导光柱设计模块的所述第一影像。根据本公开一实施方式,所述影像处理装置还包含一输入输出接口,用以经操作以调整所述存储器中所存储的所述多个光学参数,所述多个光学参数包含亮度、对比度及伽玛值。通过上述导光柱影像的处理方法能有效减少导光柱整体设计与验证的时间与成本。附图说明为了让公开文件的上述和其他目的、特征、优点与实施例能更明显易懂,说明书附图的说明如下:图1为根据本文公开的一些实施例所示出的影像处理装置的示意图。图2为根据本文公开的一些实施例所示出的导光柱影像的处理方法的流程图。图3为根据本文公开的一些实施例所示出的导光柱影像的示意图。附图标记说明:100…影像处理装置110…处理器120…输入输出接口(I/O接口)130…总线140…存储器150…指令库152…照度分析指令154…辉度分析指令160…光学参数170…导光柱设计模块200…导光柱影像的处理方法S201、S202、S203、S204、S205、S206、S207、S208、S209、S210…流程步骤310…第二影像311…暗区320…第三影像321…暗区具体实施方式下文是举实施例配合说明书附图作详细说明,但所提供的实施例并非用以限制本公开内容所涵盖的范围,而结构运行的描述非用以限制其执行的顺序,任何由元件重新组合的结构,所产生具有均等技术效果的装置,皆为本公开内容所涵盖的范围。此外,附图仅以说明为目的,并未依照原尺寸作图。为使便于理解,下述说明中相同元件将以相同的符号标示来说明。关于本文中所使用的“第一”、“第二”、……等,并非特别指称次序或顺位的意思,亦非用以限定本公开内容,其仅仅是为了区别以相同技术用语描述的元件或操作而已。图1为根据本文公开的一些实施例所示出的影像处理装置100的示意图。影像处理装置100包括处理器110、输入输出接口(I/O接口)120、总线130以及存储器140。处理器110、I/O接口120以及存储器140可通过总线130彼此通信耦接,借此协同操作。举例来说,处理器110可通过总线130读取并执行存储器140中存储的程序或指令。此外,I/O接口120可用以作为数据或指令输入及/或输出的接口,以供外部的一或多个输入/输出装置(如:鼠标、键盘、触控屏幕……等)通过总线130传送或接收指令。在一些实施例中,处理器110可以由中央处理器(CPU)、微处理器(MCU)或其他合适的处理器来实现。在一些实施例中,总线130可为任何类型的若干总线架构中的一或多者,该等总线架构包括存储器总线或存储器控制器、周边总线、视频总线或其他合适的总线。在一些实施例中,存储器140可包含任何类型的系统存储器,诸如静态随机存取存储器(staticrandomaccessmemory;SRAM)、动态随机存取存储器(dynamicrandomaccessmemory;DRAM),或只读存储器(read-onlymemory;ROM)。在一些实施例中,存储器140用以存储一指令库150、光学参数160以及导光柱设计模块170。指令库150包含多组光学模拟分析指令,且在一些实施例中,指令库150包含照度分析指令152和辉度分析指令154。在一些实施例中,存储辉度分析指令154的影像处理装置100是载有程序软件TracePro,以供处理器110执行辉度分析指令154而产生对应的辉度分析图,但本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种导光柱影像的处理方法,其特征在于,包含:/n对一导光柱设计模块进行一光学模拟运算,以产生对应该导光柱设计模块的一第一影像;/n对该第一影像执行一辉度分析指令以产生一辉度分析图;/n依据该辉度分析图以及多个光学参数产生一第二影像;/n识别该第二影像中是否存在影像缺陷;以及/n若存在影像缺陷,依据该第二影像修正该导光柱设计模块。/n

【技术特征摘要】
20200107 TW 1091005011.一种导光柱影像的处理方法,其特征在于,包含:
对一导光柱设计模块进行一光学模拟运算,以产生对应该导光柱设计模块的一第一影像;
对该第一影像执行一辉度分析指令以产生一辉度分析图;
依据该辉度分析图以及多个光学参数产生一第二影像;
识别该第二影像中是否存在影像缺陷;以及
若存在影像缺陷,依据该第二影像修正该导光柱设计模块。


2.如权利要求1所述的导光柱影像的处理方法,其特征在于,识别该第二影像中的影像缺陷的步骤包含:
识别该第二影像中对应该导光柱设计模块的光学缺陷的多个暗区。


3.如权利要求1所述的导光柱影像的处理方法,其特征在于,在对该第一影像执行该辉度分析指令以产生该辉度分析图的步骤前还包含:
对该第一影像执行一照度分析指令以产生一照度分析图;
识别该照度分析图是否存在影像缺陷;以及
若存在影像缺陷,依据该照度分析图修正该导光柱设计模块,并产生对应于修正后的该导光柱设计模块的该第一影像。


4.如权利要求3所述的导光柱影像的处理方法,其特征在于,识别该第二影像中是否存在影像缺陷还包含:
比对该第二影像和该照度分析图;以及
依据该第二影像中颜色的趋势以及该照度分析图中颜色的趋势识别第二影像中的影像缺陷。


5.如权利要求1所述的导光柱影像的处理方法,其特征在于,在对该第一影像执行该辉度分析指令以产生该辉度分析图的步骤前还包含:
对该第一影像执行一照度分析指令以产生一照度分析图;
识别该照度分析图是否存在影像缺陷;以及
若该照度分析图...

【专利技术属性】
技术研发人员:夏希琞
申请(专利权)人:和硕联合科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:中国台湾;71

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