一种晶振量测多路切换装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种晶振量测多路切换装置，包括第一量测卡接口和第二量测卡接口，所述第一量测卡接口和第二量测卡接口之间连接有晶振切换机构，所述晶振切换机构与控制器接口相连，并在控制器的控制下将各个晶振逐个接入回路。本实用新型专利技术能够降低生产成本、提升工作效率。

【技术实现步骤摘要】
一种晶振量测多路切换装置
本技术涉及晶振量测
，特别是涉及一种晶振量测多路切换装置。
技术介绍
石英晶体在生产的各个环节，都需要检测记录或调整产品各项参数。如图1所示，现有技术是每一个单通道测试头接一张量测板卡，甚至为了提高测量速度，使用多个测试头接多张板卡同时测量的方式。对于单通道测试头，需要机械动作到每一颗产品，才能完成全部产品测量，机械工作强度大，机构疲劳磨损较快。对于多个测试头连接多张量测板卡同时测量，虽然有效减少了测量时间，可是每张量测板卡的价格较高，如此会成倍的增加生产成本。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是提供一种晶振量测多路切换装置，能够降低生产成本、提升工作效率。本技术解决其技术问题所采用的技术方案是：提供一种晶振量测多路切换装置，包括第一量测卡接口和第二量测卡接口，所述第一量测卡接口和第二量测卡接口之间连接有晶振切换机构，所述晶振切换机构与控制器接口相连，并在控制器的控制下将各个晶振逐个接入回路。所述晶振切换机构包括多个并联的晶振测试位，每个晶振测试位的第一端与第一电子开关芯片中对应的开关相连，第二端与第二电子开关芯片中对应的开关相连；所述第一电子开关芯片与所述第一量测卡接口相连，所述第二电子开关芯片与第二量测卡接口相连；所述第一电子开关芯片和第二电子开关芯片的控制端分别与控制器接口相连。所述第一量测卡接口和所述晶振切换机构之间设有第一50欧姆π网络电路。所述第二量测卡接口和所述晶振切换机构之间设有第二50欧姆π网络电路。>有益效果由于采用了上述的技术方案，本技术与现有技术相比，具有以下的优点和积极效果：本技术只需一次机械动作就可以完成整板产品测试，减少机构动作，有助于提高稳定性。本技术相比于现有技术，动作一次，电子开关切换通道需要10毫秒，一次动作完成整板测量，大概需要5秒，大大节省了测量时间。本技术将多卡多测试头机器更换成单卡多测试头和多路切换，大大降低了生产成本的投入。附图说明图1是现有技术中的结构示意图；图2是本技术的结构示意图。具体实施方式下面结合具体实施例，进一步阐述本技术。应理解，这些实施例仅用于说明本技术而不用于限制本技术的范围。此外应理解，在阅读了本技术讲授的内容之后，本领域技术人员可以对本技术作各种改动或修改，这些等价形式同样落于本申请所附权利要求书所限定的范围。本技术的实施方式涉及一种晶振量测多路切换装置，如图2所示，包括第一量测卡接口1和第二量测卡接口2，所述第一量测卡接口1和第二量测卡接口2之间连接有晶振切换机构3，所述晶振切换机构3与控制器接口4相连，并在控制器的控制下将各个晶振逐个接入回路。所述晶振切换机构3包括多个并联的晶振测试位，其中，第一个晶振测试位的第一端与第一电子开关芯片31中的第一开关SW1_1相连，第二端与第二电子开关芯片32中的第一开关SW2_1相连；第二个晶振测试位的第一端与第一电子开关芯片31中的第二开关SW1_2相连，第二端与第二电子开关芯片32中的第二开关SW2_2相连，依次类推，使得每个晶振测试位的第一端与第一电子开关芯片中对应的开关相连，第二端与第二电子开关芯片中对应的开关相连。所述第一电子开关芯片31与所述第一量测卡接口1相连，所述第二电子开关芯片32与第二量测卡接口2相连；所述第一电子开关芯片31和第二电子开关芯片32的控制端分别与控制器接口4相连。使用时，将256个晶振依次放入晶振测试位，通过控制器可以控制第一电子开关芯片31和第二电子开关芯片32中各个开关的打开和闭合，使得不同的晶振接入到整个回路，本实施方式按测量要求，顺序选择多个并联的晶振测试位中的一个接入回路，当完成一个产品的测试后，继续接入下一个接入回路，直至完成所有产品的测试。由此可见，现有技术中的机构动作一次需要1.2秒，测试整盘需要重复256次，大概耗时310秒。而本实施方式的测试头动作只有一次，电子开关切换通道需要10毫秒，一次动作即可完成整板测量，大概需要5秒，节省98％的测量时间。本实施方式中所述第一量测卡接口1和所述晶振切换机构3之间设有第一50欧姆π网络电路5。所述第二量测卡接口2和所述晶振切换机构3之间设有第二50欧姆π网络电路6。通过两个50欧姆π网络电路能够有效实现阻抗匹配。不难发现，本技术只需一次机械动作就可以完成整板产品测试，减少机构动作，有助于提高稳定性。本技术相比于现有技术，动作一次，电子开关切换通道需要10毫秒，一次动作完成整板测量，大概需要5秒，大大节省了测量时间。本技术将多卡多测试头机器更换成单卡多测试头和多路切换，大大降低了生产成本的投入。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种晶振量测多路切换装置，包括第一量测卡接口和第二量测卡接口，其特征在于，所述第一量测卡接口和第二量测卡接口之间连接有晶振切换机构，所述晶振切换机构与控制器接口相连，并在控制器的控制下将各个晶振逐个接入回路。/n

【技术特征摘要】
1.一种晶振量测多路切换装置，包括第一量测卡接口和第二量测卡接口，其特征在于，所述第一量测卡接口和第二量测卡接口之间连接有晶振切换机构，所述晶振切换机构与控制器接口相连，并在控制器的控制下将各个晶振逐个接入回路。


2.根据权利要求1所述的晶振量测多路切换装置，其特征在于，所述晶振切换机构包括多个并联的晶振测试位，每个晶振测试位的第一端与第一电子开关芯片中对应的开关相连，第二端与第二电子开关芯片中对应的开关相连；所述第一电...

【专利技术属性】
技术研发人员：宿华伟，赵麒麟，叶维峰，王洪峰，
申请(专利权)人：台晶宁波电子有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江;33