卡片真伪识别装置制造方法及图纸

一种对于对应卡片（１）的种类、设置所定全息图的卡片（１）的真伪，根据该全息图进行识别用的卡片真伪识别装置，所述装置包括：将测定光投影到全息图上用的测定光投影系统（半导体激光器（２５ａ），视准透镜（２５ｂ））；对测定光（Ｐ）在全息图上反射的反射衍光受光用的区域传感器（２８）；依据区域传感器（２８）输出的信号，分别进行各种全息图对应的运算，以进行卡片（１）的真伪识别的多种识别运算手段（３０～３２）；对多种识别运算手段（３０～３２）中任何一装置进行选择的选择手段（切换开关（２４），切换电路（２９））。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种对具有形成基于光栅图案的图像的全息图卡片进行真伪识别的卡片真伪识别装置。
技术介绍
以往知道，如图1所示，在如信用记录卡等的卡片1中设置全息图密封2的卡片，在该全息图密封2中形成基于光栅图案3的图像4。以往，是由目视识别卡片1的真伪。可是，由于图像4随光线入射方向变化，或卡片1受到损伤，使得肉眼目视在全息图密封2里形成的图像，以客观的判断、识别卡片1的真伪是困难的。近来，为了客观识别卡片1的真伪，正在开发将测定光束投射到全息图密封，由受光元件对基于由全息图密封反射的测定光束的反射衍射光受光，再根据反射衍射光的光量分布的峰值强度、重心位置、扩散幅度、峰值的个数进行卡片真伪识别的卡片真伪识别装置。(如，参照专利申请特原2000-118067号)可是，为了防止伪造，往往在卡片1中改变构成光栅图案3的衍射光栅的排列形成方向、形成多个图像。图2显示例如是根据由间距不同的衍射光栅构成的光栅图案5～7形的成3种图像的矩形状的全息图密封(hologram seal)2，图3(a)是基于与矩形形状的全息图密封2的一边2a正交方向排列形成衍射光栅、且由间矩P1的衍射光栅图案5构成的图像8。图3(b)显示基于衍射光栅的排列形成方向与光栅图案5的衍射光栅的排列形成方向是同一方向，且由间矩宽窄于P1的间矩P2的衍射光栅构成的光栅图案6的图像9。图3(c)显示基于衍射光栅的排列形成方向与光栅图案5、6的排列形成方向是同一方向，并且间距宽比间距P1窄的、但比间距P2宽的间距P3的衍射光栅构成的光栅图案7的图像10。叠合这3个图像8～10，形成图2所示的全息图密封2。图像8～10的目视情况是随入射到该全息图密封2的入射光线的情况变化。在图2、图3中，箭头表示衍射光栅的排列形成方向，各衍射光栅的延伸方向与其排列方向正交。如将平行光束投影在这种全息图像密封2上，则由全息图密封2产生如图4所示那样的基于该平行光束的反射衍射光R1～R3。另外，L是系列传感器(例如，参照特原2000-154708)。这里，反射衍射光R1，例如是由光栅图案5产生的，反射衍射光R2，例如是由光栅图案6产生的，反射衍射光R3，例如是由光栅图案7产生的。图5显示，根据3种光栅图案11～13形成3种图像的矩形形状的全息图密封2，图6(a)显示基于衍射光栅在与矩形形状的全息图密封2的一边2a正交方向排列形成的光栅图案11的图像14，图6(b)显示基于衍射光栅在相对光栅图案12的衍射光栅的排列方向右斜45度方向排列形成的光栅图案12的图像15，图6(c)显示基于衍射光栅在相对光栅图案11的衍射光栅的排列方向左斜45度方向排列形成的光栅图案13的图像16。叠合这3个图像14～16，形成图5所示的全息图密封2。图像14～16的目视情形随入射到全息图密封2的入射光线的情况变化。在图6中，箭头表示衍射光栅的排列形成方向，各衍射光栅的延伸方向与其排列方向正交。如平行光束投影到这种全息图密封2，全息图密封2产生如图7所示的基于该平行光束的反射衍射光R1′～R3′。这里，反射衍射光R1′例如是由光栅图案14产生的。反射衍射光R2′是由光栅图案15产生，反射衍射光R3′是由光栅图案16产生。再有，如图8所示，为周期排列3个光栅图案17～19的全息图，所述光栅图案为具有以所定间距、并且衍射光栅的延伸方向为大致每45度不同的衍射光栅的光栅图案。光栅图案17的衍射光栅的延伸方向，相对光栅18、19的衍射光栅的延伸方向，作例如大致45度的倾斜，光栅图案18的衍射光栅和光栅图案19的衍射光栅的延伸方向相互倾斜大致90度。符号20是未形成衍射光栅的衍射光栅的图案。这些矩形形状光栅图案的边宽，例如成为20微米程度的微细结构。即，在这种全息图密封2中，除了构成各光栅图案的的衍射光栅的短周期结构之外，光栅图案自身也以2个长周期结构配置，符号P1′、P2′、P3′表示各光栅17～19的各自的第1长周期结构的间距，符号P1″、P2″、P3″表示各光栅图案17～19的第2长周期结构的间距。若将从图9所示的测定光投影系统9发射、形成的平行光束的测定光束P投影到这种全息图密封2上，则由形成各光栅图案17～19的3种类型的各衍射光栅产生3个反射衍射光R1″、R2″、R3″。另外，符号R4″表示光栅图案20的正反射光。这里，反射衍射光R1″例如是由光栅图案17产生，反射衍射光R2″例如是由光栅图案18产生的，反射衍光R3″例如是由光栅图案19产生的。该各反射衍射光R1″、R2″、R3″是用作为受光元件的系列传感器L通过傅里叶变换透镜10检测出的，根据该系列传感器L的各元件La的受光输出，用图示的近似运算装置求得各反射衍射光R1″、R2″、R3″有无光量分布、光量分布的峰值强度、扩散的宽度，则能够识别卡片的真伪。在图9中，符号9a′是半导体激光器，符号9b′是将半导体激光器9a′发射的发散光束变换成平行光束的视准透视镜。有这种光栅图案17～19的全息图密封2的场合，因为各光栅图案17～19有长周期结构和短周期结构，各光栅图案17～19自身承担作为衍射光栅的作用，在反射衍射光的当中产生细的反射衍射光，如图10所示，各反射衍射光R1″～R3″各自是由许多小的散点光点状衍射光r形成。由于这样的卡片的种类，其全息图密封2有多种类型，按照该全息图密封2的种类将测定光投影到全息图密封2被反射的衍射光是在不同的方向上以不同的形态形成的。从而，人们期望用仅仅1台装置即可以识别多种卡片真伪的卡片真伪识别装置，即要求对全息图密封差异不受影响、能够进行恰当识别的卡片真伪识别装置。另外，在有长周期结构和短周期结构的卡片1中，由于许多光点状衍射光r稍微位置位移，系列传感器L的各元件La的受光信号变化大，不能够平均地测出作为反射衍射光整体的光量分布的峰值、其宽度，从而不能够客观地识别卡片的真伪。本专利技术鉴于所述缘由而进行研的，本专利技术的第1目的在于提供一种用1台装置即能够对多种全息图对应的卡片真伪识别装置。本专利技术的第2目的在于提供一种卡片真伪识别装置，所述卡片真伪识别装置即使对具有有短周期结构和长周期结构的光栅图案按一定周期排列的全息图密封的卡片，也能够客观地识别其真伪。
技术实现思路
权利要求1所述的本专利技术的卡片真伪识别装置为一种卡片真伪识别装置，所述装置系根据全息图密封，识别对应卡片种类，设置所定全息图密封的卡片真伪的卡片真伪识别装置。所述装置包括将测定光投影到所述全息图密封用的测定光投影系统；用于对所述测定光束在所述全息图密封反射的反射衍射光进行受光用的区域传感器；根据从区域传感器输出的信号，分别进行与所述全息图密封种类相对应的运算，进行所述卡片真伪识别的多种识别运算手段；选择该多种的识别运算手段任何一种的选择手段。权利要求2所述的卡片真伪识别装置是，在权利要求1所述的装置中，其特征在于，在所述全息图密封中，所述衍射光栅的排列方向不同的多种光栅图案按一定周期排列，以使所述反射衍射光由基于衍射光栅的许多小的散点光点状衍射光构成，并且，正反射图案按一定周期形成，所述识别运算手段的至少一种装置识别具有由形成有所述短周期结构和长周期结构的光栅图案和正反射图案形成的全息图密封的卡片的真伪。权利要求3所述的卡片真伪识别装置，在权利要本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种卡片真伪识别装置，所述装置系根据全息图密封，识别对应卡片种类，设置所定全息图密封的卡片真伪的卡片真伪识别装置，其特征在于，所述装置包括：将测定光投影到所述全息图密封用的测定光投影系统；用于对所述测定光束在所述全息图密封反射的反射 衍射光进行受光用的区域传感器；根据从区域传感器输出的信号，分别进行与所述全息图密封种类相对应的运算，进行所述卡片真伪识别的多种识别运算手段；选择该多种的识别运算手段任何一种的选择手段。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：堀信男，永野繁宪，外山浩之，
申请(专利权)人：株式会社拓普康，
类型：发明
国别省市：JP[日本]