本发明专利技术公开了一种银合金键合丝抗老化性测试装置及其使用方法，包括测试台和数显拉力传感器，所述测试台的顶部安装有滑轨，两组所述滑轨的顶部均滑动连接有滑块，所述测试台的顶部一侧安装有数显拉力传感器，且数显拉力传感器的端部安装有挂钩；所述滑块的顶部安装有可调节的检测台；所述检测台的顶部一侧设有可调节的拉伸度检测组件；所述检测台的顶部另一侧设有键合丝电阻率检测组件。本发明专利技术通过在测试台上设置检测台、数显拉力传感器、拉伸度检测组件、电阻率检测组件，可以一次性的对银合金键合丝进行强度检测、拉伸度检测、电阻率检测，提高了银合金键合丝抗老化性的测试效率，操作更加便捷。
【技术实现步骤摘要】
一种银合金键合丝抗老化性测试装置及其使用方法
本专利技术属于键合丝
，具体涉及一种银合金键合丝抗老化性测试装置。同时还涉及，一种银合金键合丝抗老化性测试装置的使用方法。
技术介绍
半导体封装用键合金丝是封装行业的基础材料之一，它决定着集成电路的发展水平，键合丝所需要的合金丝需要具备机械强度好，成球特性好，接合性好，易于作业和焊接的特性。键合丝的强度、拉伸强度以及电阻是键合丝的重要性能指标，目前，对单条键合丝进行抗老化性测试时，多是对键合丝进行单项的进行检测，不能够进行一次性完成各项指标的检测，测试效率低。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种银合金键合丝抗老化性测试装置及其使用方法，以解决上述
技术介绍
中提出现有技术中不能够进行一次性完成各项指标的检测，测试效率低的问题。为实现上述目的，本专利技术采用了如下技术方案：一种银合金键合丝抗老化性测试装置，包括测试台和数显拉力传感器，所述测试台的顶部安装有滑轨，两组所述滑轨的顶部均滑动连接有滑块，所述测试台的顶部一侧安装有数显拉力传感器，且数显拉力传感器的端部安装有挂钩；所述滑块的顶部安装有可调节的检测台；所述检测台的顶部一侧设有可调节的拉伸度检测组件；所述检测台的顶部另一侧设有键合丝电阻率检测组件。优选的，所述拉伸度检测组件包括开设于检测台顶部的定位孔，所述定位孔设置有两组，且每组至少有四个，两组所述定位孔相互错开排列，所述定位孔的内部活动插接有导柱，所述导柱的外部开设有环形槽，且环形槽的内壁设置为光滑结构。优选的，所述导柱的下端一侧开设有凹槽，所述凹槽的内部固定连接有弹片，所述弹片的端部固定连接有限位块，所述定位孔的内壁开设有与限位块相匹配的限位槽，且限位块设置为半球形结构。优选的，所述键合丝电阻率检测组件包括滑动电阻器和电流表，所述滑动电阻器和电流表分别安装在检测台的顶部两端，所述滑动电阻器和电流表上均通过缆线电性连接有可更换的电极片。优选的，所述检测台的顶部固定连接有弹簧夹，所述电极片夹持与弹簧夹的内部，且弹簧夹的内侧粘接有绝缘垫。优选的，所述测试台的两端均通过螺栓安装有带轴承的轴承座，所述轴承座的内部插接有光轴，两组所述光轴之间通过联轴器安装有滚珠丝杠，所述滚珠丝杠的螺母通过连接块固定连接于检测台的底部。优选的，所述滑块的内侧安装有万向球，所述滑轨的顶部开设有与万向球相匹配的导槽。本专利技术还提出银合金键合丝抗老化性测试装置的使用方法，包括如下步骤：S1、取样，根据检测的需要，采取一定长度的银合金键合丝试样；S2、放置导柱，根据键合丝试样的长度，将相应数量的导柱插在定位孔中；S3、绕线，将键合丝试样的中心处挂在数显拉力传感器的挂钩上，然后将键合丝试样的两端依次呈S型绕在导柱表面的环形槽中；S4、焊接，将键合丝试样的两端部分别焊接在滑动电阻器和电流表相对应的电机片上，然后转动滚珠丝杠带动检测台移动，将键合丝试样拉紧，并计算输出键合丝试样的准确的长度；S5、强度和拉伸度测试，间接性的转动滚珠丝杠带动检测台移动，对键合丝试样进行拉伸，在转动时，要观察数显拉力传感器的数值变化并记录，同时观察电机片焊接点的牢固情况，待试样强度符合标准时，停止转动滚珠丝杠；S6、电阻率测试，将滑动电阻器通电，观察电流表数值变化，在键合丝试样符合导电率的标准之后，拆下键合丝试样；S7、拉伸度检测，对试验后的键合丝试样进行长度测量，测量出的长度与S4中的长度做对比，并计算出其拉伸率。本专利技术的技术效果和优点：本专利技术提出的一种银合金键合丝抗老化性测试装置及其使用方法，与现有技术相比，具有以下优点：本专利技术通过在测试台上设置检测台、数显拉力传感器、拉伸度检测组件、电阻率检测组件，可以一次性的对银合金键合丝进行强度检测、拉伸度检测、电阻率检测，提高了银合金键合丝抗老化性的测试效率，操作更加便捷。附图说明图1为本专利技术的结构示意图；图2为本专利技术测试台的结构示意图；图3为本专利技术检测台的结构示意图；图4为本专利技术导柱的结构示意图；图5为本专利技术滑块的结构示意图。图中：1、测试台；2、滑轨；3、滑块；4、检测台；5、数显拉力传感器；6、挂钩；7、定位孔；8、导柱；9、环形槽；10、凹槽；11、弹片；12、限位块；13、限位槽；14、滑动电阻器；15、电流表；16、电极片；17、弹簧夹；18、轴承座；19、光轴；20、滚珠丝杠；21、万向球；22、导槽。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，一对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，一并不用于限定本专利技术。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。本专利技术提供了如图1-5所示的一种银合金键合丝抗老化性测试装置，主要由测试台1、数显拉力传感器5、可调节的检测台4、可调节的拉伸度检测组件、电阻率检测组件等部件构成。请参阅图2，测试台1用于支撑各部件，底部设置带可调节的只脚，便于在放置的时候进行调节整体的平整性，测试台1的顶部安装有滑轨2，两组滑轨2的顶部均滑动连接有滑块3，滑块3的顶部安装有可调节的检测台4，通过滑块3和滑轨2的配合，利于限制住检测台4的位置，便于检测台4的移动，并在滑块3的内侧安装有万向球21，滑轨2的顶部开设有与万向球21相匹配的导槽22，通过万向球21和滑轨2的配合，利于减少滑块3和滑轨2之间的摩擦力；请参阅图2，进一步的，在本实施例中，在测试台1的两端均通过螺栓安装有带轴承的轴承座18，轴承座18的内部插接有光轴19，两组光轴19之间通过联轴器安装有滚珠丝杠20，通过轴承座18的支撑，保持滚珠丝杠20的稳定性，滚珠丝杠20的螺母通过连接块固定连接于检测台4的底部，在光轴19的端部安装手轮，方便进行转动滚珠丝杠20转动，从而带动检测台4移动。请参阅图2，数显拉力传感器5为S型微型数显推拉力计，型号为SH-1K-5K，其安装在测试台1的顶部一侧，并在数显拉力传感器5的端部安装有挂钩6，方便进行挂置键合丝，用于监测键合丝的拉力强度；请参阅图1和图4，可调节的拉伸度检测组件主要由定位孔7、导柱8等部件构成，定位孔7开设于检测台4的顶部，定位孔7以检测台4的中心处设置两个部分，每个部分的定位孔7设置有两组，且每组至少有四个，两组定位孔7相互错开排列，方便进行整理导柱8的位置，并在导柱8的外部开设有光滑结构的环形槽9，防止在缠绕键合丝造成磨损，键合丝成S型来回的缠绕在导柱8的外部，用于检测键合丝的拉伸强度；请参阅图4，进一步的，在本实施例中，在导柱8的下端一侧开设有凹槽10，凹槽10的内部固定连接有弹片11，弹片11的端部固定连接有限位块12，定位孔7的内壁开设有与限位块12相匹配的限位槽本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种银合金键合丝抗老化性测试装置，包括测试台(1)和数显拉力传感器(5)，所述测试台(1)的顶部安装有滑轨(2)，两组所述滑轨(2)的顶部均滑动连接有滑块(3)，其特征在于：所述测试台(1)的顶部一侧安装有数显拉力传感器(5)，且数显拉力传感器(5)的端部安装有挂钩(6)；所述滑块(3)的顶部安装有可调节的检测台(4)；所述检测台(4)的顶部一侧设有可调节的拉伸度检测组件；所述检测台(4)的顶部另一侧设有键合丝电阻率检测组件。/n
【技术特征摘要】
1.一种银合金键合丝抗老化性测试装置，包括测试台(1)和数显拉力传感器(5)，所述测试台(1)的顶部安装有滑轨(2)，两组所述滑轨(2)的顶部均滑动连接有滑块(3)，其特征在于：所述测试台(1)的顶部一侧安装有数显拉力传感器(5)，且数显拉力传感器(5)的端部安装有挂钩(6)；所述滑块(3)的顶部安装有可调节的检测台(4)；所述检测台(4)的顶部一侧设有可调节的拉伸度检测组件；所述检测台(4)的顶部另一侧设有键合丝电阻率检测组件。
2.根据权利要求1所述的一种银合金键合丝抗老化性测试装置，其特征在于：所述拉伸度检测组件包括开设于检测台(4)顶部的定位孔(7)，所述定位孔(7)设置有两组，且每组至少有四个，两组所述定位孔(7)相互错开排列，所述定位孔(7)的内部活动插接有导柱(8)，所述导柱(8)的外部开设有环形槽(9)，且环形槽(9)的内壁设置为光滑结构。
3.根据权利要求2所述的一种银合金键合丝抗老化性测试装置，其特征在于：所述导柱(8)的下端一侧开设有凹槽(10)，所述凹槽(10)的内部固定连接有弹片(11)，所述弹片(11)的端部固定连接有限位块(12)，所述定位孔(7)的内壁开设有与限位块(12)相匹配的限位槽(13)，且限位块(12)设置为半球形结构。
4.根据权利要求1所述的一种银合金键合丝抗老化性测试装置，其特征在于：所述键合丝电阻率检测组件包括滑动电阻器(14)和电流表(15)，所述滑动电阻器(14)和电流表(15)分别安装在检测台(4)的顶部两端，所述滑动电阻器(14)和电流表(15)上均通过缆线电性连接有可更换的电极片(16)。
5.根据权利要求4所述的一种银合金键合丝抗老化性测试装置，其特征在于：所述检测台(4)的顶部固定连接有弹簧夹(17)，所述电极片(1...
【专利技术属性】
技术研发人员：李盛伟，邱敏雄，王元钊，
申请(专利权)人：深圳中宝新材科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44
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