一种LCD平面靶材的检测方法技术

本发明专利技术涉及一种LCD平面靶材的检测方法，所述检测方法将相控阵探头与超声波探伤仪相连接，先用所述相控阵探头对标样靶材进行超声波检测，所述标样靶材的检测结果合格后，再用所述相控阵探头对LCD平面靶材进行超声波检测。本发明专利技术所述检测方法使用相控阵探头进行超声波检测，单次扫描面积增大，可以大大提高产品检测速度，保证精准度，满足当前生产总量的高要求。高要求。高要求。

A detection method of LCD flat target

【技术实现步骤摘要】
一种LCD平面靶材的检测方法


[0001]本专利技术涉及靶材检测
，具体涉及一种LCD平面靶材的检测方法。

技术介绍

[0002]目前，液晶显示(LCD)技术已经广泛应用到生活中，国内也有很多LCD产品的生产厂商。但是，生产使用的LCD平面靶材仍然需要进口，LCD平面靶材的检测方法也掌握在他人手中，特别是C
‑
SCAN检测方法，因此，检测效率的局限性导致LCD平面靶材的生产制造率很低。
[0003]C
‑
SCAN检测指的是超声波无损探伤，在不破坏产品的前提下，检测出LCD平面靶材内部焊接的状态，检测内容包括焊接内部异物、氧化物、非靶材一体物质检测等。C
‑
SCAN检测通过超声信号的特性可以知道材料的内部焊接状态，包括是否有缺陷及缺陷的位置、范围、大小和形状定量化，直观的看到结果，系统通过检测能计算出产品的缺陷率，分辨出产品是否合格。但是，检测前必须要经过标样校对，确保仪器在一个稳定的状态下才能精准的检测出产品内部焊接的状态。
[0004]例如CN109374746A公开本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种LCD平面靶材的检测方法，其特征在于，所述检测方法将相控阵探头与超声波探伤仪相连接，先用所述相控阵探头对标样靶材进行超声波检测，所述标样靶材的检测结果合格后，再用所述相控阵探头对LCD平面靶材进行超声波检测。2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，用所述相控阵探头进行超声波检测时，以水为介质。3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述相控阵探头与所述标样靶材的上表面以及所述LCD平面靶材的上表面的距离独立地为50
‑
65mm。4.根据权利要求1
‑
3任一项所述的检测方法，其特征在于，所述相控阵探头的压电晶片为64
‑
256个；优选地，所述相控阵探头的阵列为二维矩形阵列；优选地，所述相控阵探头的频率为150
‑
250μs；优选地，所述相控阵探头的检测步距为0.5
‑
1.5mm。5.根据权利要求1
‑
4任一项所述的检测方法，其特征在于，所述超声波探伤仪的感度为5
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20dB；优选地，所述超声波探伤仪的性能参数包括：脉冲上升时间＜8ns；发射电压100V
±
8％；通道增益变化＜3dB；等效输入噪音＜100nV/Hz1/2；接收延迟线性误差＜1％。6.根据权利要求1
‑
5任一项所述的检测方法，其特征在于，所述超声波探伤仪的过滤器为5MHz过滤器。7.根据权利要求1
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6任一项所述的检测方法，其特征在于，所述超声波探伤仪还包括探头支架，用于带动所述相控阵探头移动。8.根据权利要求1
‑
7任一项所述的检测方法，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：姚力军，窦兴贤，王学泽，王青松，谢鹏，
申请(专利权)人：合肥江丰电子材料有限公司，
类型：发明
国别省市：