一种辉光放电质谱中五氧化三钛晶体颗粒的制样方法及测试方法技术

本发明专利技术提供一种辉光放电质谱中五氧化三钛晶体颗粒的制样方法及测试方法，所述制样方法包括如下步骤：(1)铟片依次经酸洗、第一水洗、第一乙醇洗和第一干燥，得到处理后铟片；(2)五氧化三钛晶体颗粒依次经第二乙醇洗、第二水洗、第三乙醇洗和第二干燥，得到处理后五氧化三钛晶体颗粒；(3)步骤(2)所述五氧化三钛晶体颗粒置于铟片表面，经压片，得到待测样品；步骤(1)和步骤(2)没有先后顺序；所述制样方法尽量避免了杂质的引入，进而缩短了分析时间，确保了数据的准确性；所述测试方法通过特定测试参数可以获得较强的信号，灵敏度高。

【技术实现步骤摘要】
一种辉光放电质谱中五氧化三钛晶体颗粒的制样方法及测试方法
本专利技术涉及测试
，尤其涉及辉光放电质谱
，特别涉及一种辉光放电质谱中五氧化三钛晶体颗粒的制样方法。
技术介绍
辉光放电质谱法是利用辉光放电源作为离子源与质谱仪器联接进行质谱测定的一种分析方法，主要用于检测材料中痕量元素的含量，相应分析仪器称为辉光放电质谱仪。辉光放电质谱仪的一个核心部件是辉光放电室，用于待测样品发生辉光放电，溅射出中性粒子后电离成离子束。针对待测样品的形态尺寸，辉光放电室又被分为片状辉光放电室和针状辉光放电室两种，其中，片状辉光放电室对片状待测样品的尺寸要求一般为20mm×20mm×2mm，针状辉光放电室对针状待测样品的尺寸要求一般为20mm×2mm×2mm。然而，在实际的生产、加工和使用过程中，待测样品的形态有很多种，包括不规则块状、粉末状、颗粒状、屑状和针状等，无法被辉光放电室中的样品夹进行有效固定，严重阻碍了GDMS分析的进行。针对细小的待测样品无法被辉光放电质谱仪中样品夹有效固定，现有技术公开了一些新型的待测样品装载部件。例如CN2本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种辉光放电质谱中五氧化三钛晶体颗粒的制样方法，其特征在于，所述制样方法包括如下步骤：/n(1)铟片依次经酸洗、第一水洗、第一乙醇洗和第一干燥，得到处理后铟片；/n(2)五氧化三钛晶体颗粒依次经第二乙醇洗、第二水洗、第三乙醇洗和第二干燥，得到处理后五氧化三钛晶体颗粒；/n(3)步骤(2)所述五氧化三钛晶体颗粒置于铟片表面，经压片，得到待测样品；/n步骤(1)和步骤(2)没有先后顺序。/n

【技术特征摘要】
1.一种辉光放电质谱中五氧化三钛晶体颗粒的制样方法，其特征在于，所述制样方法包括如下步骤：
(1)铟片依次经酸洗、第一水洗、第一乙醇洗和第一干燥，得到处理后铟片；
(2)五氧化三钛晶体颗粒依次经第二乙醇洗、第二水洗、第三乙醇洗和第二干燥，得到处理后五氧化三钛晶体颗粒；
(3)步骤(2)所述五氧化三钛晶体颗粒置于铟片表面，经压片，得到待测样品；
步骤(1)和步骤(2)没有先后顺序。


2.根据权利要求1所述的制样方法，其特征在于，步骤(1)中所述铟片为高纯铟片；
优选地，所述高纯铟片的纯度≥99.999wt％。


3.根据权利要求1或2所述的制样方法，其特征在于，步骤(1)中所述酸洗的酸为硝酸；
优选地，所述硝酸的浓度为10～25wt％；
优选地，步骤(1)所述酸洗的时间为2～5min。


4.根据权利要求1～3任一项所述的制样方法，其特征在于，步骤(1)中所述第一水洗的次数为至少三次；
优选地，所述第一乙醇洗的次数为至少一次。


5.根据权利要求1～4任一项所述的制样方法，其特征在于，步骤(2)中所述五氧化三钛晶体颗粒的平均粒径为1～3mm；

【专利技术属性】
技术研发人员：姚力军，边逸军，潘杰，王学泽，叶科奇，钟伟华，
申请(专利权)人：宁波江丰电子材料股份有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33