一种光路准直调试系统和光路准直调试方法技术方案

一种光路准直调试系统和光路准直调试方法，光路准直调试系统包括：光源；反射式布拉格光栅，所述反射式布拉格光栅的衍射角度可调；位于所述光源和所述反射式布拉格光栅之间的准直透镜，所述准直透镜沿光路上的位置可调；位于所述反射式布拉格光栅一侧的探测单元；所述反射式布拉格光栅适于接收被所述准直透镜准直之后的光并衍射至探测单元。所述光路准直调试系统评判光束的准直性的准确性提高。

【技术实现步骤摘要】
一种光路准直调试系统和光路准直调试方法
本专利技术涉及光学测试领域，具体涉及一种光路准直调试系统和光路准直调试方法。
技术介绍
在激光应用过程中，通常需要对激光束进行准直，准直效果会直接影响激光的应用效果，因此，如何评判准直效果，成为激光应用过程中较为关键的一环。目前，现有技术中尽管存在多种对于光路的准直效果进行测试的方法，但是检测结果的准确性有待提高。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题在于克服现有技术中评判光束准直性的准确性较差的问题。为了解决上述技术问题，本专利技术提供一种光路准直调试系统，包括：光源；反射式布拉格光栅，所述反射式布拉格光栅的衍射角度可调；位于所述光源和所述反射式布拉格光栅之间的准直透镜，所述准直透镜沿光路上的位置可调；位于所述反射式布拉格光栅一侧的探测单元；所述反射式布拉格光栅适于接收被所述准直透镜准直之后的光并衍射至探测单元。可选的，所述准直透镜包括第一子准直透镜和第二子准直透镜；第一子准直透镜位于第二子准直透镜和所述光源之间，第一子准直透镜对光的准直方向和第二子准直透本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光路准直调试系统，其特征在于，包括：/n光源；/n反射式布拉格光栅，所述反射式布拉格光栅的衍射角度可调；/n位于所述光源和所述反射式布拉格光栅之间的准直透镜，所述准直透镜沿光路上的位置可调；/n位于所述反射式布拉格光栅一侧的探测单元；/n所述反射式布拉格光栅适于接收被所述准直透镜准直之后的光并衍射至探测单元。/n

【技术特征摘要】
1.一种光路准直调试系统，其特征在于，包括：
光源；
反射式布拉格光栅，所述反射式布拉格光栅的衍射角度可调；
位于所述光源和所述反射式布拉格光栅之间的准直透镜，所述准直透镜沿光路上的位置可调；
位于所述反射式布拉格光栅一侧的探测单元；
所述反射式布拉格光栅适于接收被所述准直透镜准直之后的光并衍射至探测单元。


2.根据权利要求1所述的光路准直调试系统，其特征在于，所述准直透镜包括第一子准直透镜和第二子准直透镜；第一子准直透镜位于第二子准直透镜和所述光源之间，第一子准直透镜对光的准直方向和第二子准直透镜对光的准直方向不同。


3.根据权利要求1所述的光路准直调试系统，其特征在于，所述探测单元适于输出电信号。


4.根据权利要求3所述的光路准直调试系统，其特征在于，所述探测单元包括光功率计或光电转换探测器。


5.根据权利要求1所述的光路准直调试系统，其特征在于，所述探测单元适于输出图像信号，所述探测单元包括图像传感器。


6.一种光路准直调试方法，采用权利要求1至5任意一项所述的光路准直调试系统，其特征在于，包括：
所述反射式布拉格光栅接收经过准直透镜的光并衍射至探测单元；
调节所述反射式布拉格光栅的衍射角度直至所述探测单元判断出反射式布拉格光栅的衍射效率达到第一极大值；
调节所述反射式布拉格光栅的衍射角度之后，沿着光的传播光路上调节所述准直透镜的位置直至所述探...

【专利技术属性】
技术研发人员：虞天成，徐佳维，王俊，潘华东，俞浩，闵大勇，廖新胜，
申请(专利权)人：苏州长光华芯光电技术股份有限公司，苏州长光华芯半导体激光创新研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32