空间电子设备加速寿命试验中温度加速基准应力确定方法技术

本发明专利技术属于电子设备技术领域，公开了一种空间电子设备加速寿命试验中温度加速基准应力确定方法，所述空间电子设备加速寿命试验中温度加速基准应力确定系统包括：加速寿命试验模块、温度数据采集模块、中央控制模块、通信模块、温度数据汇总模块、区间划定模块、时间

【技术实现步骤摘要】
空间电子设备加速寿命试验中温度加速基准应力确定方法


[0001]本专利技术属于电子设备
，尤其涉及一种空间电子设备加速寿命试验中温度加速基准应力确定方法。

技术介绍

[0002]目前：可靠性预计是为了估计产品在给定工作条件下的可靠性而进行的工作，其主要目的之一是为可靠性增长试验、鉴定试验及费用核算等方面的研究提供依据。从此目的可以看出，提供产品准确的可靠性预计结果显得至关重要。对电子产品而言，可靠性预计通常是计算产品的可靠度。
[0003]作为电子产品，空间电子设备采用应力分析法进行可靠性预计，其工作期间的应力值应当恒定才能按照可靠度指数公式计算，实际情况更多是：空间电子设备工作期间的电应力值是恒定，环境应力值在变化，随着航天器姿态、轨道位置的周期性变化，空间电子设备经受的环境应力亦呈现周期性的变化，尤以对空间电子设备在轨可靠性产生重要影响的工作环境温度的周期性变化为显著特点。在空间电子设备采用应力分析法进行可靠性预计时，目前国内外航天领域的通行方法是：电应力由于恒定而取其实际值，工作环境温度由于变化而取其最大值，亦即将工作环境温度取其最大值并视为恒温。很显然，这样得到的可靠性预计结果不准确，很保守，尤其当工作环境温度的变化范围很大时，采用此法的缺陷更是显而易见。目前进行空间电子设备加速寿命试验中温度加速基准应力确定的方法成本较高，且操作复杂。
[0004]通过上述分析，现有技术存在的问题及缺陷为：目前进行空间电子设备加速寿命试验中温度加速基准应力确定的方法成本较高，且操作复杂。
专利技术内容
[0005]针对现有技术存在的问题，本专利技术提供了一种空间电子设备加速寿命试验中温度加速基准应力确定方法。
[0006]本专利技术是这样实现的，一种空间电子设备加速寿命试验中温度加速基准应力确定方法，所述空间电子设备加速寿命试验中温度加速基准应力确定方法包括以下步骤：
[0007]步骤一，通过加速寿命试验模块利用加速寿命试验程序对电子设备进行加速寿命试验；通过中央控制模块利用主控机控制各个模块正常运行；
[0008]步骤二，通过温度数据采集模块利用设置在空间电子设备中的温度传感器进行空间电子设备加速寿命试验的环境温度的采集，得到温度数据；通过通信模块利用无线通信设备进行通信，传输温度数据；
[0009]所述通过通信模块利用无线通信设备进行通信，传输温度数据，包括以下步骤：
[0010](2.1)获取温度数据；
[0011](2.2)根据温度数据的负载参数和接入能力参数的映射关系，确定在传输温度数据时所采用的接入能力参数的取值；
[0012](2.3)网络侧设备根据映射关系获取传输温度数据时所采用的接入能力参数的取值；
[0013](2.4)根据接入能力参数的取值对温度数据进行传输；
[0014]步骤三，通过温度数据汇总模块利用温度数据汇总程序进行采集的温度数据的汇总，得到加速寿命试验中不同时间点对应的温度数据，得到时间与温度对应信息；
[0015]步骤四，通过区间划定模块利用区间划定程序对加速寿命试验的时间区间进行划定，得到时间区间；通过时间
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温度关联模块利用时间
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温度关联程序依照时间与温度对应信息进行时间区间与对应的温度的信息的关联，得到不同时间区间内的温度数据；
[0016]所述通过时间
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温度关联模块利用时间
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温度关联程序依照时间与温度对应信息进行时间区间与对应的温度的信息的关联，包括：
[0017](4.1)获取时间与温度对应信息；
[0018](4.2)将获取的时间与温度对应信息进行逐条读取；
[0019](4.3)遍历所有已读取的数据，判断已读取的数据中是否存在与当前所读取的数据相同的数据；
[0020](4.4)若存在相同数据，则为当前所读取的数据赋予已读取的相同数据的id，得到不同时间区间内的温度数据；
[0021]步骤五，通过可靠性判断模块利用可靠性判断程序进行不同时间区间内的温度数据的分析，通过分析结果判断采集的数据的可靠性，得到是否可靠的结论；
[0022]所述通过可靠性判断模块利用可靠性判断程序进行不同时间区间内的温度数据的分析，通过分析结果判断采集的数据的可靠性，得到是否可靠的结论包括：
[0023](5.1)根据多个包含温度数据子特征的特征组合构建多个可靠性分析模型；
[0024](5.2)获取与所述温度数据子特征类型相同的待分析温度数据；根据所述特征组合将所述待分析温度数据进行分组，形成多个待分析温度数据组合；
[0025](5.3)将所述待分析温度数据组合输入至所述可靠性分析模型，获取多个可靠性分析结果；
[0026](5.4)将所述可靠性分析结果进行融合，获取最终可靠性分析结果；
[0027]步骤六，通过等效变换模块利用等效变换程序进行试验空间温度的等效变换，得到恒定温度；通过基准应力确定模块利用基准应力确定程序进行基准应力的确定。
[0028]进一步，所述接入能力参数源于非授权频段。
[0029]进一步，步骤四中，所述通过区间划定模块利用区间划定程序对加速寿命试验的时间区间进行划定，包括：
[0030]1)获取采集的时间与温度对应信息；
[0031]2)对采集的时间与温度对应信息进行提取，得到采集的时间长度；
[0032]3)将所述时间长度分为均等的N份；
[0033]4)对采集的时间与温度对应信息进行划分，得到N个时间区间。
[0034]进一步，所述时间长度为电子设备加速寿命试验的总时间。
[0035]进一步，所述N为自然数。
[0036]进一步，步骤六中，所述通过等效变换模块利用等效变换程序进行试验空间温度的等效变换，包括：在可靠性不变的前提下，将工作环境温度等效变换为恒定型工作环境温
度。
[0037]进一步，步骤六中，所述通过基准应力确定模块利用基准应力确定程序进行基准应力的确定，包括通过恒定型工作环境温度确定基准应力。
[0038]本专利技术的另一目的在于提供一种实施所述空间电子设备加速寿命试验中温度加速基准应力确定方法的空间电子设备加速寿命试验中温度加速基准应力确定系统，所述空间电子设备加速寿命试验中温度加速基准应力确定系统包括：
[0039]加速寿命试验模块、温度数据采集模块、中央控制模块、通信模块、温度数据汇总模块、区间划定模块、时间
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温度关联模块、可靠性判断模块、等效变换模块、基准应力确定模块；
[0040]加速寿命试验模块，与中央控制模块连接，用于通过加速寿命试验程序对电子设备进行加速寿命试验；
[0041]温度数据采集模块，与中央控制模块连接，用于通过设置在空间电子设备中的温度传感器进行空间电子设备加速寿命试验的环境温度的采集，得到温度数据；
[0042]中央控制模块，与加速寿命试验本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种空间电子设备加速寿命试验中温度加速基准应力确定方法，其特征在于，所述空间电子设备加速寿命试验中温度加速基准应力确定方法包括以下步骤：步骤一，通过加速寿命试验模块利用加速寿命试验程序对电子设备进行加速寿命试验；通过中央控制模块利用主控机控制各个模块正常运行；步骤二，通过温度数据采集模块利用设置在空间电子设备中的温度传感器进行空间电子设备加速寿命试验的环境温度的采集，得到温度数据；通过通信模块利用无线通信设备进行通信，传输温度数据；所述通过通信模块利用无线通信设备进行通信，传输温度数据，包括以下步骤：(2.1)获取温度数据；(2.2)根据温度数据的负载参数和接入能力参数的映射关系，确定在传输温度数据时所采用的接入能力参数的取值；(2.3)网络侧设备根据映射关系获取传输温度数据时所采用的接入能力参数的取值；(2.4)根据接入能力参数的取值对温度数据进行传输；步骤三，通过温度数据汇总模块利用温度数据汇总程序进行采集的温度数据的汇总，得到加速寿命试验中不同时间点对应的温度数据，得到时间与温度对应信息；步骤四，通过区间划定模块利用区间划定程序对加速寿命试验的时间区间进行划定，得到时间区间；通过时间
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温度关联模块利用时间
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温度关联程序依照时间与温度对应信息进行时间区间与对应的温度的信息的关联，得到不同时间区间内的温度数据；所述通过时间
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温度关联模块利用时间
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温度关联程序依照时间与温度对应信息进行时间区间与对应的温度的信息的关联，包括：(4.1)获取时间与温度对应信息；(4.2)将获取的时间与温度对应信息进行逐条读取；(4.3)遍历所有已读取的数据，判断已读取的数据中是否存在与当前所读取的数据相同的数据；(4.4)若存在相同数据，则为当前所读取的数据赋予已读取的相同数据的id，得到不同时间区间内的温度数据；步骤五，通过可靠性判断模块利用可靠性判断程序进行不同时间区间内的温度数据的分析，通过分析结果判断采集的数据的可靠性，得到是否可靠的结论；所述通过可靠性判断模块利用可靠性判断程序进行不同时间区间内的温度数据的分析，通过分析结果判断采集的数据的可靠性，得到是否可靠的结论包括：(5.1)根据多个包含温度数据子特征的特征组合构建多个可靠性分析模型；(5.2)获取与所述温度数据子特征类型相同的待分析温度数据；根据所述特征组合将所述待分析温度数据进行分组，形成多个待分析温度数据组合；(5.3)将所述待分析温度数据组合输入至所述可靠性分析模型，获取多个可靠性分析结果；(5.4)将所述可靠性分析结果进行融合，获取最终可靠性分析结果；步骤六，通过等效变换模块利用等效变换程序进行试验空间温度的等效变换，得到恒定温度；通过基准应力确定模块利用基准应力确定程序进行基准应力的确定。2.如权利要求1所述空间电子设备加速寿命试验中温度加速基准应力确定方法，其特
征在于，所述接入能力参数源于非授权频段。3.如权利要求1所述空间电子设备加速寿命试验中温度加速基准应力确定方法，其特征在于，步骤四中，所述通过区间划定模块利用区间划定程序对加速寿命试验的时间区间进行划定，包括：1)获取采集的时间与温度对应信息；2)对采集的时间与温度对应信息进行提取，得到采集的时间长度；3)将所述时间长度分为均等的N份；4)对采集的时间与温度对应信息进行划分，得...

【专利技术属性】
技术研发人员：宋云彪，郭世举，肖志艳，郭亚军，张信，
申请(专利权)人：西安苏试广博环境可靠性实验室有限公司，
类型：发明
国别省市：