一种自容式穆勒矩阵测量方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了自容式穆勒矩阵测量方法和装置，包括依次设置于入射光路上的光源、起偏器、分光器、聚焦透镜，设置于分光器的第一出光口一侧的第一检偏器以及设置于出射光路上的出射光收集单元和第二检偏器；其中聚焦透镜设于分光器的第二出光口一侧；分光器将入射偏振光分为两路，其中一路按入射光路经由聚焦透镜后照射到样品，另一路进入第一检偏器进行实时检偏以获取入射偏振光的偏振态；出射光收集单元收集样品被照射后所散射的出射光；第二检偏器对出射光收集单元收集的出射光进行偏振检测，以获取出射光的偏振态，以供用户根据入射偏振光的偏振态和出射光的偏振态，计算样品的穆勒矩阵。穆勒矩阵。穆勒矩阵。

【技术实现步骤摘要】
一种自容式穆勒矩阵测量方法和装置


[0001]本专利技术涉及光学测量
，具体涉及一种自容式穆勒矩阵测量方法和装置。

技术介绍

[0002]偏振光有着对样品细微结构敏感的特性，被广泛地应用在各个领域的检测，包括大气颗粒、水体悬浮颗粒、生物组织等。偏振检测技术一般通过起偏器将照明入射光调制成特定状态的偏振光，从而进行更全面的偏振测量。穆勒矩阵能全面地反映偏振光与介质之间的相互作用，包含了大量的样品光学信息。因此，快速、准确地测量样品的穆勒矩阵，将能获取更多有用的光学信息，大大地提高对样品的区分和识别能力。
[0003]当光束被样品散射时，光束的偏振态发生了变化，即光束的Stokes(斯托克斯)向量S
in
经过线性变换得到一个新的Stokes向量S
out
，这个变换可以用一个4
×
4的矩阵来表示，即穆勒矩阵M。从数学上讲，我们可以用公式(1)来描述这个变换过程：
[0004]S
out
＝M
·
S
in
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(1)本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种自容式穆勒矩阵测量方法，其特征在于，包括如下步骤：S1、在入射光路中于起偏器与样品之间设置分光器，以将入射偏振光分为两路，其中一路按入射光路照射样品，另一路利用第一检偏器进行实时检偏以获取入射偏振光的偏振态；S2、收集样品被照射后所散射的出射光，并利用第二检偏器进行检偏，以获取出射光的偏振态；S3、根据入射偏振光的偏振态和出射光的偏振态，计算样品的穆勒矩阵。2.如权利要求1所述的自容式穆勒矩阵测量方法，其特征在于，步骤S1中所述分光器分出1～10％的入射偏振光进入所述第一检偏器。3.如权利要求1所述的自容式穆勒矩阵测量方法，其特征在于，所述分光器是对经过起偏器之后、进入聚焦透镜之前的入射偏振光进行分光。4.如权利要求1所述的自容式穆勒矩阵测量方法，其特征在于，所述第一检偏器和所述第二检偏器均配置有至少四个检偏分光通道，所述至少四个检偏分光通道满足：其中两个通道为两个正交的线偏振通道，其余通道中包含一个圆偏振光通道和一个线偏振光通道。5.一种自容式穆勒矩阵测量装置，其特征在于，包括：依次设置于入射光路上的光源、起偏器、分光器、聚焦透镜，设置于所述分光器的第一出光口一侧的第一检偏器，以及设置于出射光路上的出射光收集单元和第二检偏器；其中，所述聚焦透镜设于所述分光器的第二出光口一侧；所述分光器将入射偏振光分为两路，其中一路按入射光路经由所述聚焦透镜后照射到样品，另一路进入所述第一检偏器进行...

【专利技术属性】
技术研发人员：廖然，郭志明，马辉，李嘉晋，
申请(专利权)人：清华大学深圳国际研究生院，
类型：发明
国别省市：