用于调节过程参数中的空间相关变差的方法和系统技术方案

本发明专利技术提供用在电路的统计定时期间调节过程参数中的空间相关的变差的方法、系统和程序产品。在一个实施例中，该方法包括将电路的区域分为多个网格单元；将独立随机变量与多个网格单元中的每一个相关联；和将第一网格单元的至少一个空间相关的参数表示为与第一网格单元和至少一个相邻网格单元相关的独立随机变量的函数。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术总的涉及电路的统计定时，尤其涉及用于在电路的统计定时期间调节一个或多个过程参数中的空间相关变差的方法、系统和程序产品。
技术介绍
由于集成电路中的晶体管和互连的尺寸已经变小，过程参数中的变化(variability)已经导致模拟和预测电路性能的难度对应地增加。过程参数的变差(variation)可以是芯片间(inter-die)变差(即，从芯片到芯片的变差)或芯片内变差(即，单一芯片内的变差)。芯片间变差类似地影响单一芯片上的所有组成部分，而芯片内变差不同地影响单一芯片上的类似组成部分。统计静态定时分析(SSTA)已经成为广为人知的用于预测数字电路的统计定时特性的技术。已知各种SSTA的方法，包括基于路径、基于块、绑定(bounding)、参数化和Monte-Carlo方法。一种特别有前景的技术是基于参数化块的SSTA，其将门延迟、到达时间和所需时间中的变差模拟为过程参数中的变差的高斯独立源(Gaussian independent source)的线性函数。基于参数化块的SSTA高速和精确地调节独立和全局相关变差。已经将该技术与非高斯分布一起使用。然而，现今的基于参数化块的SSTA方法并不是没有问题。例如，Agarwal等人的ACM/IEEE Asia-Pacific Design Automation Conference(ASP-DAC)，January 2003，pp 271-276的四树方法假设将门延迟表示为与分层矩形网格的单元对应的独立变量的线性组合，其中网格的重叠模拟门延迟的空间相关性。该方法假设该线性组合的系数已知。然而在模拟给定空间变差时如何计算这些系数并不清楚。Chang等人的Proceeding of the IEEE/ACM intemational Conference onComputer-Aided Design，2003，pp.621-625的方法也不令人满意。使用叠加在电路上的矩形网格，该方法假设对于位于不同网格单元中的门来说相关矩阵已知。然后使用主要组成部分分析法(PCA)来将门延迟表示为非相关参数的线性函数。然而，这种方法在计算方面难度很大。例如，在具有100微米有效相关距离的10mm×10mm芯片中，根据Chang等人的网格需要10000×10000协方差矩阵的特征值分解(EVD)或奇异值分解(SVD)。这样的分解在计算方面成本很高。此外，在上面的实例中，分离200微米(或以上)的门不相关。结果，在这样的芯片中模拟变差需要至少2500(即，50×50)个独立的随机变量。由于非相关变量的数量，PCA不能将独立变量的数量降低到2500以下。因此，使用Chang等人的PCA方法，具有相对小的相关距离的大芯片需要非常大的矩阵以及超大数量的特征值和特征向量的计算。其它已知的、通过其直接从相关矩阵中计算相关系数的方法也类似地不令人满意。首先，该方法需要相关矩阵的乘积和范式。这既计算成本高也不利地影响基于参数化块的SSTA的效率。其次，使用延迟、到达时间和所需的时间与相关项的线性形式使得其它必要的操作，诸如标准偏差的计算、控制和修剪(pruning)较小项、报告结果等等变得更复杂。因此，需要一种用于在电路的统计定时期间调节一个或多个过程参数中的空间相关的变差的方法，其不具有上述方法的缺陷。
技术实现思路
本专利技术提供一种用于在电路的统计定时期间在过程参数中调节空间相关的变差的方法、系统和程序产品。在一个实施例中，该方法包括将电路的区域分为多个网格单元；将独立随机变量与多个网格单元中的每一个相关联；和将第一网格单元的至少一个空间相关的参数表示为与第一网格单元和至少一个相邻网格单元相关联的独立随机变量的函数。本专利技术的第一方面提供用于在电路的统计定时期间调节过程参数中的空间相关的变差的方法，该方法包括将电路的区域分为多个网格单元；将独立随机变量与多个网格单元中的每一个相关联；和将第一网格单元的至少一个空间相关的参数表示为与第一网格单元和至少一个相邻网格单元相关联的独立随机变量的函数。本专利技术的第二方面提供一种用于在电路的统计定时期间调节过程参数中的空间相关的变差的系统，该系统包括用于将电路的区域分为多个网格单元的系统；用于将独立随机变量与多个网格单元中的每一个相关联的系统；和用于将第一网格单元的至少一个空间相关的参数表示为与第一网格单元和至少一个相邻网格单元相关联的独立随机变量的函数的系统。本专利技术的第三方面提供一种存储在计算机可读介质上的计算机产品，当执行它时，在电路的统计定时期间调节过程参数中的空间相关的变差，该程序产品包括用于将电路的区域分为多个网格单元的程序代码；用于将独立随机变量与多个网格单元中的每一个相关联的程序代码；和用于将第一网格单元的至少一个空间相关的参数表示为与第一网格单元和至少一个相邻网格单元相关联的独立随机变量的函数的程序代码。本专利技术的第四方面提供一种用于配置用来在电路的统计定时期间调节过程参数中的空间相关的变差的应用程序的方法，包括提供计算机基础架构，其操作来将电路的区域分为多个网格单元；将独立随机变量与多个网格单元中的每一个相关联；和将第一网格单元的至少一个空间相关的参数表示为与第一网格单元和至少一个相邻网格单元相关联的独立随机变量的函数。本专利技术的第五方面提供一种嵌入在可传播信号中的计算机软件，用于在电路的统计定时期间调节过程参数中的空间相关的变差，该计算机软件包括使计算机系统执行下面功能的命令将电路的区域分为多个网格单元；将独立随机变量与多个网格单元中的每一个相关联；和将第一网格单元的至少一个空间相关的参数表示为与第一网格单元和至少一个相邻网格单元相关联的独立随机变量的函数。本专利技术的第六方面提供一种用于在电路的统计定时期间调节过程参数中的空间相关的变差的商业方法。设计本专利技术的所述方面来解决这里描述的问题和没有论述的其它本领域技术人员可以发现的问题。附图说明通过结合描述本专利技术的各个实施例的附图，从下列本专利技术的各个方面的详细描述中更容易理解本专利技术的这些和其它特征，在附图中图1显示作为电路组成部分之间的距离的函数的相关系数的曲线图。图2显示根据本专利技术的示意六边形网格图案。图3-6显示在图2的六边形网格图案中单元之间的各种空间关系。图7显示在芯片区域上覆盖的被索引(indexed)的六边形网格图案。图8A-B分别显示根据本专利技术近似的指数和高斯相关函数。图9A-B分别显示使用六边形和矩形网格覆盖的芯片区域的一般和详细图。图10A-B显示六边形网格的索引图案。图11显示根据本专利技术的示意方法的流程图。图12显示根据本专利技术的示意系统的方框图。应当注意的是本专利技术不限于此。附图仅意欲描述本专利技术的典型方面，因此不应当理解为限制本专利技术的范围。在附图中，相同的附图标记表示附图之间的相同组成部分。具体实施例方式如上所述，本专利技术提供用于在电路的统计定时期间调节一个或多个过程参数的空间相关的变差的方法、系统和程序产品。转到附图，图1显示作为两个电路组成部分(如，晶体管等)之间的距离的函数的过程参数中的变差的曲线图。如图所示，随着距离(S)增加，相关系数R(s)降低。然而，甚至当电路组成部分之间的距离很小时，R(s)不必要等于1。这是由于甚至当两个电路组成部分相互相邻时，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于在电路的统计定时期间调节过程参数中的空间相关的变差的方法，该方法包括：将电路的区域分为多个网格单元；将独立随机变量与多个网格单元中的每一个相关联；和将第一网格单元的至少一个空间相关的参数表示为与第一网格单元和 至少一个相邻网格单元相关联的随机变量的函数。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：张黎征，文凯特斯瓦然纳特森，维斯韦瓦里钱德拉姆里，佐罗托夫弗拉迪米尔，
申请(专利权)人：国际商业机器公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]