一种配件测试装置及配件测试方法。该配件测试装置包含有微处理单元、信号转换单元。其中微处理单元，用以发出仿真信号；信号转换单元，分别与微处理单元及配件电性连接，用以接收仿真信号，并将仿真信号转换为测试信号，利用该测试信号测试配件。配件接收测试信号后响应一回馈信号，并由信号转换单元接收后传送给微处理单元，以使微处理单元根据回馈信号判断配件是否正常运作。以往测试方式，较费时而且频繁的插拔动作会对主机造成损害。本发明专利技术的配件测试装置及配件测试方法，去除了以往测试方式的缺陷，达到缩短检测时间、提高生产效率的效果。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种信息处理设备的配件测试装置及配件测试方法，特别涉及一种利用仿真信息设备中元件运作的仿真信号测试配件的测试装置及配件测试方法。
技术介绍
最早的信息处理装置是使用真空管为元件制造出来的，因体积大，散热差，功能有限。为了改善这些缺点，晶体管问世，使信息处理装置系统的体积变小；集成电路(IC)的专利技术，使得指甲大小的面积，就可容纳许多晶体管；到了微处理器时期，将IC内的单位面积晶体管数目扩增至数十万个以上，体积更小，耗电量更少。在外型上，从桌上型、笔记型(Notebook)到掌上型，不管是功能上的提升或可携带性的特色，都显示出未来信息处理装置将以轻薄短小，容易携带为主。硬件厂商在制作量产这些配件时，都是以抽样检测的方式为主。但是这些配件的检测，都必须要与信息处理装置主机组装成整机，并且开机运行检测程序，然后关机更换配件。这种检测方式由于须组装整机，并加装软件系统，检测流程相当费时；而且配件的频繁插拔，可能会损坏主机；另外有些配件需要监测外部错误，整机检测可能无法模拟；还有检测环境需要较大的工作空间。因此，如何能提供一种新的测试方法来取代以往的测试方法，达到减少检测时间、减少工作空间与提高生产效率，成为研究人员待解决的问题之一。
技术实现思路
鉴于以上的问题，本专利技术提供一种信息处理设备的配件测试装置及配件测试方法，达到减少检测时间、减少工作空间与提高生产效率的作用。根据本专利技术所揭示的配件测试装置，其包含有微处理单元、信号转换单元。其中微处理单元，用以发出仿真信号，该仿真信号是是仿真信息处理设-->备中元件的运作；信号转换单元，分别与微处理单元及配件电性连接，用以接收仿真信号，并将仿真信号转换为测试信号，利用该测试信号测试配件。配件接收测试信号后响应一回馈信号，并由信号转换单元接收后传送给微处理单元，俾使微处理单元根据回馈信号判断配件是否正常运作。根据本专利技术所揭示的信息处理设备的配件测试装置，用以测试一配件，包括有：一微处理单元，用以发出一仿真信号，该仿真信号为仿真该信息处理设备中的一元件的运作，并将该仿真信号转换为一测试信号，该测试信号用以测试该配件，该配件接收该测试信号后响应该测试信号而输出一回馈信号，并由该信号转换单元接收后传送给该微处理单元，以使该微处理单元根据该回馈信号判断该配件是否正常运作。根据本专利技术所揭示的配件测试方法，其包含一种信息处理设备的配件测试方法，用以测试一配件，包括有：响应一致能信号以判断该配件是否可直接受控制；当不可直接控制该配件时，由一微处理单元发出一仿真信号，该仿真信号为仿真该信息处理设备中的一元件的运作；接收该仿真信号，将该仿真信号转换为一测试信号，该测试信号用以测试该配件；及该配件接收该测试信号后响应该测试信号而输出一回馈信号，以根据该回馈信号判断该配件是否正常运作。借由这种配件测试装置及配件测试方法，通过使用微处理单元发出一仿真信号，该仿真信号是仿真信息处理装置中的元件运作，并将仿真信号通过信号转换单元，将仿真信号转换为测试信号，测试待测的配件。配件接收测试信号后并响应一回馈信号，通过信号转换单元回传给微处理单元，由微处理单元根据回馈信号判断配件是否正常运作。测试过程中去除了以往测试方式的缺陷，并缩短了待测的配件的检测时间，提高生产效率。附图说明图1为本专利技术配件测试装置示意图；图2为本专利技术配件测试装置另一示意图；及图3为本专利技术配件测试方法流程图。其中，附图标记说明如下：11微处理单元-->12信号转换单元13配件21内部集成电路接口22通用输出输入接口23内部集成电路接口24第一通用输出输入接口25第二通用输出输入接口26内部集成电路接口27通用输出输入接口28并行端口29网络连接端口31第一电路板32第二电路板51微处理单元52配件53第一电路板61内部集成电路接口62通用输出输入接口63内部集成电路接口64通用输出输入接口65并行端口66网络连接端口100配件测试装置200配件测试装置具体实施方式有关本专利技术的特征与实作，现配合附图作最佳实施例详细说明如下。请参照图1，为本专利技术的配件测试装置示意图。如图1所示，配件测试装置100包含有微处理单元11、信号转换单元12、配件13、第一电路板31和第二电路板32。-->配件13内可以具有但不仅限于是内部集成电路传输信号接口(I2C)21和通用输出输入传输信号接口(GPIO)22，也可以是其它连接接口。配件13用以接收测试信号后响应该测试信号以输出一回馈信号。配件13可以是发光二极管板(LED board)、风扇板(FAN board)与平行连接SCSI指示板(SAS BPboard)等。其中发光二极管板用来显示主机的状态、温度检测、开关按键等。平行连接SCSI指示板用来连接SAS硬盘及控制硬盘工作状态灯的显示。风扇板用来控制检测风扇的运行及监测主板的温度。信号转换单元12设置于一第二电路板32上。第二电路板32内可以具有但不仅限于是内部集成电路接口23、通用输出输入接口24和/或通用输出输入接口25，也可以是其它连接接口。第二电路板32上电性连结第一电路板31与配件13，其连接方式可以通过上述的内部集成电路接口23、通用输出输入接口24和/或通用输出输入接口25。信号转换单元12用以接收仿真信号，并将仿真信号转换为测试信号，利用该测试信号测试配件13，并接收配件13响应的回馈信号，回传给微处理单元，以使微处理单元根据回馈信号判断配件是否正常运作。微处理单元11设置于一第一电路板31上。第一电路板31内可以具有但不仅限于是内部集成电路接口26和/或通用输出输入接口27，也可以是其它连接接口。第一电路板31电性连结第二电路板32，其连接方式可以通过上述的内部集成电路接口26和/或通用输出输入接口27。第一电路板31内可以具有但不仅限于是并行端口28和/或网络连接端口29，也可以是其它连接端口。微处理单元11通过并行端口28和/或网络连接端口29响应外部致能信号，以发出仿真信号传递至信号转换单元12，该仿真信号是仿真信息处理装置中的元件运作，并且接收自信号转换单元12回传的配件13回馈信号。由微处理单元11根据回馈信号判断配件13是否正常运作，并将测试结果通过并行端口28和/或网络连接端口29传递至外部装置。微处理单元11通过并行端口28和/或网络连接端口29响应外部致能信号，例如：测试指令“0001”表示SAS信号测试、“0010”表示显式绘图数组(Video Graphic Array，VGA)电源信号测试、“0011”表示(Universal Serial Bus，USB)电源信号测试、“0100”表示(Universal Serial Bus，USB)信号测试、-->“0110”表示系统(System，SYS)绿光LED测试等。前述的测试指令与测试指令内容是用以举例说明，并非用以限制本专利技术。微处理单元11接收外部致能的测试指令，并以发出仿真信号，该仿真信号是仿真信息处理装置中的元件运作，通过内部集成电路接口26和/或通用输出输入接口27，将仿真信号传递至信号转换单元12。由信号转换单元12将接收到的仿真信号转化测试信号，利用该测试信号测试配件13。配件13接收测试信号，测试配件13中本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种信息处理设备的配件测试装置，用以测试一配件，包括有： 一微处理单元，用以发出一仿真信号，该仿真信号为仿真该信息处理设备中的一元件的运作；以及 一信号转换单元，分别与该微处理单元及该配件电性连接，用以接收该仿真信号，并将该仿真信号转换为一测试信号，该测试信号用以测试该配件，该配件接收该测试信号后响应该测试信号而输出一回馈信号，并由该信号转换单元接收后传送给该微处理单元，以使该微处理单元根据该回馈信号判断该配件是否正常运作。
【技术特征摘要】
1、一种信息处理设备的配件测试装置，用以测试一配件，包括有：一微处理单元，用以发出一仿真信号，该仿真信号为仿真该信息处理设备中的一元件的运作；以及一信号转换单元，分别与该微处理单元及该配件电性连接，用以接收该仿真信号，并将该仿真信号转换为一测试信号，该测试信号用以测试该配件，该配件接收该测试信号后响应该测试信号而输出一回馈信号，并由该信号转换单元接收后传送给该微处理单元，以使该微处理单元根据该回馈信号判断该配件是否正常运作。2、如权利要求1所述的配件测试装置，其特征是该微处理单元响应一外部的致能信号以发出该仿真信号。3、如权利要求1所述的配件测试装置，其特征是该微处理单元通过一内部集成电路接口和/或通用输出输入接口与该信号转换单元连接。4、如权利要求1所述的配件测试装置，其特征是该信号转换单元通过一内部集成电路接口和/或通用输出输入接口与该配件连接。5、一种信息处理设备的配件测试装置，用以测试一配件，包括有：一微处理单元，用以发出一仿真信号，该仿真信号为仿真该信息处理设备中的一元件的运作，并将该仿真信号转换为一测试信号，该测试信号用以测试该配件，该配件接收该测试信号后响应该测试...
【专利技术属性】
技术研发人员：韩雪山，郑全阶，金志仁，宋建福，陈玄同，刘文涵，
申请(专利权)人：英业达股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[]
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