一种双面PERC太阳电池及其制备方法技术

技术编号:29137400 阅读:34 留言:0更新日期:2021-07-02 22:33
本发明专利技术公开了一种双面PERC太阳电池及其制备方法,所述方法包括对硅片做预处理;在所述硅片的背面顺次沉积氧化硅薄膜和氮氧化硅薄膜,以及具有多层折射率的氮化硅薄膜;对所述硅片做后处理,完成双面PERC太阳能电池的制备。本发明专利技术中的氧化硅薄膜和氮氧化硅薄膜均比较致密,具有较好的化学稳定性、很强的抗杂质扩散和水汽渗透能力,可有效解决背面PID问题,且两种膜层均为较佳的钝化膜层,并不影响电性能。

【技术实现步骤摘要】
一种双面PERC太阳电池及其制备方法
本专利技术属于晶体硅太阳能电池制备
,具体涉及一种双面PERC太阳电池及其制备方法。
技术介绍
PID(PotentialInducedDegradation)效应即高压诱导衰减效应,是太阳能组件在高压条件下出现的一种衰减效应。关于光伏系统中产生的PID效应的完整机理仍有待研究,目前分为三种说法:1.组件串联后可形成较高的系统电压(600V~1000V),组件长期在高电压工作,在盖板玻璃、封装材料、边框之间存在漏电流,大量电荷聚集在电池片表面,使得电池片表面的钝化效果恶化,导致填充因子、短路电流、开路电压降低,使组件性能低于设计标准,此现象为表面极化效应,但此衰减是可逆的;2.组件在受到负偏压时,由漏电流阳极离子(一般为Na+)流入电池片,降低电池的并联电阻,即半导体内出现了杂质,这些杂质会形成电池内部的导电通道,降低了组件的电流输出;3.光伏组件的边缘部分容易有水气进入,EVA发生水解后会生成醋酸,醋酸和玻璃中的Na反应,可以生成大量的自由移动的Na+,会与电池片表面的银栅线发生反应,从而腐蚀电池栅本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种双面PERC太阳电池的制备方法,其特征在于,包括:/n对硅片做预处理;/n在所述硅片的背面顺次沉积氧化硅薄膜和氮氧化硅薄膜,以及具有多层折射率的氮化硅薄膜;/n对所述硅片做后处理,完成双面PERC太阳能电池的制备。/n

【技术特征摘要】
1.一种双面PERC太阳电池的制备方法,其特征在于,包括:
对硅片做预处理;
在所述硅片的背面顺次沉积氧化硅薄膜和氮氧化硅薄膜,以及具有多层折射率的氮化硅薄膜;
对所述硅片做后处理,完成双面PERC太阳能电池的制备。


2.根据权利要求1所述的一种双面PERC太阳电池的制备方法,其特征在于,所述多层折射率的氮化硅薄膜包括顺次设置的:
第一层氮化硅薄膜,所述第一层氮化硅薄膜的折射率为2.46,厚度为35~55nm;
第二层氮化硅薄膜,所述第二层氮化硅薄膜的折射率为2.35,厚度为20~40nm;
第三层氮化硅薄膜,所述第三层氮化硅薄膜的折射率为2.05,厚度为25~50nm。


3.根据权利要求2所述的一种双面PERC太阳电池的制备方法,其特征在于,所述多层折射率的氮化硅薄膜的沉积方法包括:
设置SiH4的流量为800sccm,NH3的流量为4800sccm,形成第一层氮化硅薄膜;
设置SiH4的流量为800sccm,NH3的流量为5600sccm,形成第二层氮化硅薄膜;
设置SiH4的流量为1000sccm,NH3的流量为8000sccm,形成第三层氮化硅薄膜。


4.根据权利要求1所述的一种双面PERC太阳电池的制备方法,其特征在于,所述氮氧化硅薄膜的厚度为5~30nm,其沉积方法包括:
设置NH3与SiH4的气体流量比例为1.5~5;NH3与N2O的气体流量比例为1~3,沉积时间为100~250秒,采用离子体增强型化学气相沉积形成所述氮氧化硅薄膜。


5.根据权利要求1所述的一种双面PERC太阳电池的制备方法,其特征在于,所述氧化硅薄膜的厚度为3~10nm,其沉积方法包括:
设置SiH4浓度为200~800sccm,N2O浓度为2~4slm,温度为350~450℃,臭氧沉积过程中,O2浓度为15±5slm,N2浓度为35±10slm,O3浓度为400±50ppm,采用离子体增强型化学气相沉积或臭氧沉积方式,形成所述氧化硅薄膜。


6.根据权利要求1所述的一种双面PE...

【专利技术属性】
技术研发人员:马胜童锐张忠卫
申请(专利权)人:南通苏民新能源科技有限公司
类型:发明
国别省市:江苏;32

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