用于制备绝缘电线的方法，用于检查绝缘电线的方法和用于制备绝缘电线的装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供用于制备绝缘电线的方法、用于检查绝缘电线的方法和用于制备绝缘电线的装置。所述用于制备绝缘涂层的方法包括如下步骤：制备具有线形的导体；形成绝缘涂层从而覆盖导体的外周侧的表面以得到包括导体和覆盖导体的绝缘涂层的绝缘电线；以及沿着导体的纵向传输绝缘电线时测量绝缘电线和第一电极之间的第一静电容量，以及基于第一静电容量的变化检查绝缘涂层的形成状态，第一电极以绝缘电线的径向被设置在外面从而面向绝缘电线的外周表面，形成状态包括在绝缘涂层中的缺陷部分的形成状态，在得到所述绝缘电线的步骤中制备的绝缘电线的绝缘涂层在其内部具有孔隙，在检查步骤中检查沿着导体的纵向具有4mm以下长度的绝缘涂层的缺陷部分。的绝缘涂层的缺陷部分。的绝缘涂层的缺陷部分。

【技术实现步骤摘要】
用于制备绝缘电线的方法，用于检查绝缘电线的方法和用于制备绝缘电线的装置
[0001]本申请是国际申请日为2017年10月20日、进入中国国家阶段日期为2019年4月19日、国家申请号为201780064900.4、专利技术名称为“用于制备绝缘电线的方法，用于检查绝缘电线的方法和用于制备绝缘电线的装置”的PCT进入中国国家阶段申请的分案申请。


[0002]本专利技术涉及一种用于制备绝缘电线的方法，用于检查绝缘电线的方法和用于制备绝缘电线的装置。
[0003]本申请要求享受于2016年10月20日提交的日本专利申请第2016
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206330号、于2017年3月30日提交的日本专利申请第2017
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69198号、于2017年3月30日提交的日本专利申请第2017
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69200号、于2017年3月30日提交的日本专利申请第2017
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69202号和于2017年8月1日提交的日本专利申请第2017
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149486号的优先权，这些日本专利申请的全部内容以引用的方式并入本文。

技术介绍

[0004]日本未经审查的专利申请公开第8
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220184号(PTL1)公开了通过光学检查绝缘涂层的状态来探测在绝缘电线的绝缘涂层上形成的裂缝的方法。
[0005]日本未经审查的专利申请公开第8
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249958号(PTL2)公开了一种用于制备发泡绝缘电线的方法，所述方法包括一系列步骤：将用于发泡的气体注入到熔融的热塑性树脂中，通过挤出用所得的发泡树脂绝缘体涂布导体以形成发泡绝缘电线；将所述形成的发泡绝缘电线引入到具有可移动的移动水箱的水箱中；利用静电容量计监测在所述水箱中冷却的发泡绝缘电线的静电容量。
[0006]日本未经审查的专利申请公开第2016
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81563号(PTL3)提出了：作为包括具有低介电常数的绝缘涂层的绝缘电线，其中在导体上设置了具有孔隙的绝缘涂层的绝缘电线。
[0007]日本未经审查的专利申请公开第2016
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110847号(PTL4)提出了：作为包括具有低介电常数的绝缘涂层的绝缘电线，其中在导体上设置了具有孔隙的绝缘涂层的绝缘电线。
[0008]引用列表
[0009]专利文献
[0010]PTL1：日本未经审查的专利申请公开第8
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220184号
[0011]PTL2：日本未经审查的专利申请公开第8
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249958号
[0012]PTL3：日本未经审查的专利申请公开第2016
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81563号
[0013]PTL4：日本未经审查的专利申请公开第2016
‑
110847号

技术实现思路

[0014]本公开的一种用于制备绝缘电线的方法包括如下步骤：制备具有线形的导体；形成由绝缘体形成的绝缘涂层从而覆盖所述导体的外周侧的表面以得到包括所述导体和覆
盖所述导体的绝缘涂层的绝缘电线；和在沿着所述导体的纵向传输所述绝缘电线时测量所述绝缘电线和第一电极之间的第一静电容量，以及基于所述第一静电容量的变化检查所述绝缘涂层的形成状态，所述第一电极沿着所述绝缘电线的径向被设置在外面从而面向所述绝缘电线的外周表面，所述形成状态包括在所述绝缘涂层中的缺陷部分的形成状态。
附图说明
[0015]图1为显示在实施方式1中检查的绝缘电线的实例的示意性剖视图。
[0016]图2为解释制备绝缘电线的步骤的框图，其中实施了绝缘电线的制备方法和检查方法。
[0017]图3为解释绝缘涂层形成部件的框图。
[0018]图4为显示用于检查绝缘电线的方法的步骤的流程图。
[0019]图5为显示用于制备绝缘电线的方法的步骤的流程图。
[0020]图6为显示在实施方式1中的检查电极的结构的实例的示意性俯视图。
[0021]图7为如箭头方向观看的对应于沿着图6中的线段VII
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VII截取的截面状态的示意性剖视图。
[0022]图8为显示在绝缘涂层中的低孔隙度部分的状态的示意性剖视图。
[0023]图9是显示沿着图8中箭头D2的方向观看的低孔隙度部分的状态的示意图。
[0024]图10为显示绝缘涂层的薄壁部分的状态的示意性剖视图。
[0025]图11为显示沿图10中箭头D3的方向观看的薄壁部分的状态的示意图。
[0026]图12为显示在绝缘涂层的表面上的刮痕缺陷的状态的示意性剖视图。
[0027]图13为显示绝缘涂层的孔缺陷的状态的示意性剖视图。
[0028]图14为显示在实施方式2中检查的绝缘电线的实例的示意性剖视图。
[0029]图15为显示在实施方式3中的检查电极的结构的实例的示意性俯视图。
[0030]图16为显示在实施方式4中的检查电极的结构的实例的示意性俯视图。
[0031]图17为显示在实施方式5中的检查电极的结构的实例的示意性俯视图。
[0032]图18为显示在实施方式6中的检查电极的结构的实例的示意性俯视图。
[0033]图19为显示在实施方式7中的检查电极的结构的实例的示意性俯视图。
[0034]图20为显示在实施方式8中的检查电极的结构的实例的示意性俯视图。
[0035]图21为显示绝缘电线的实例的示意性剖视图。
[0036]图22为显示绝缘电线的实例的示意性剖视图。
[0037]图23为解释在实施方式9中的用于制备绝缘电线的步骤的框图。
[0038]图24为解释在实施方式9中的绝缘涂层形成部件的框图。
[0039]图25为显示在实施方式9中的用于制备绝缘电线的方法的步骤的流程图。
[0040]图26为显示孔隙度和静电容量之间关系的图。
具体实施方式
[0041]技术问题
[0042]在绝缘电线的制备方法或检查方法中，期望适当地探测可能影响所述绝缘电线的绝缘性能的缺陷部分，特别是通过视觉检查难以正确探测的非常小的缺陷部分。此外，考虑
到检查效率，期望在传输绝缘电线时以非破坏性方式探测缺陷部分。
[0043]鉴于此，一个目的是提供一种用于制备绝缘电线的方法，所述方法能够在传输绝缘电线时以非破坏性的方式适当地探测可能影响绝缘电线绝缘性能的缺陷部分，特别是非常小的缺陷部分，而因此能够制备具有稳定质量的绝缘电线，以及实施所述方法的装置，用于检查绝缘电线的方法，所述方法能够适当地探测这种缺陷部分。
[0044]有益效果
[0045]根据本公开，可以在传输绝缘电线时以非破坏性的方式适当探测可能影响绝缘电线的绝缘性能的缺陷部分，特别是非常小的缺陷部分，因此，可以制备具有稳定质量的绝缘电线。
[0046]最佳实施方式
[0047]首先，将列出并描述本专利技术的实施方式。本申请的一种用本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于制备绝缘电线的方法，其包括如下步骤：准备绝缘电线的步骤，制备具有线形的导体；得到绝缘电线的步骤，形成绝缘涂层从而覆盖所述导体的外周侧的表面以得到包括所述导体和覆盖所述导体的绝缘涂层的绝缘电线；以及检查绝缘涂层的形成状态的步骤，在沿着所述导体的纵向传输所述绝缘电线时测量所述绝缘电线和第一电极之间的第一静电容量，以及基于所述第一静电容量的变化检查所述绝缘涂层的形成状态，所述第一电极沿着所述绝缘电线的径向被设置在外面从而面向所述绝缘电线的外周表面，所述形成状态包括在所述绝缘涂层中的缺陷部分的形成状态，其中，在得到所述绝缘电线的步骤中制备的绝缘电线的绝缘涂层，在其内部具有孔隙，在检查所述绝缘涂层的形成状态的步骤中，在所述绝缘涂层中的缺陷部分被探测到，所述缺陷部分沿着所述导体的纵向具有4mm以下的长度，在检查所述绝缘涂层的形成状态的步骤中，还基于所述第一静电容量和孔隙度之间的关系检查所述绝缘涂层的形成状态。所述第一电极沿着所述纵向的长度被调整，以使得可检查出沿着所述导体的纵向具有4mm以下的长度的所述绝缘涂层中的所述缺陷部分。2.一种用于制备绝缘电线的方法，其包括如下步骤：准备步骤，制备具有线形的导体；得到绝缘电线的步骤，形成绝缘涂层从而覆盖所述导体的外周侧的表面以得到包括所述导体和覆盖所述导体的绝缘涂层的绝缘电线；以及检查绝缘涂层的形成状态的步骤，在沿着所述导体的纵向传输所述绝缘电线时测量所述绝缘电线和第一电极之间的第一静电容量，以及基于所述第一静电容量的变化检查所述绝缘涂层的形成状态，所述第一电极沿着所述绝缘电线的径向被设置在外面从而面向所述绝缘电线的外周表面，所述形成状态包括在所述绝缘涂层中的缺陷部分的形成状态，在所述绝缘涂层中的所述缺陷部分为薄壁部分，在检查所述绝缘涂层的形成状态的步骤中，检测沿着所述导体的纵向具有4mm以下的长度的所述绝缘涂层内的所述缺陷部分，所述第一电极沿着所述纵向的长度被调整，以使得可检查出沿着所述导体的纵向具有4mm以下的长度的所述绝缘涂层中的所述缺陷部分。3.根据权利要求1或2所述的用于制备绝缘电线的方法，其中，在检查所述绝缘涂层的形成状态的步骤中，在所述绝缘涂层中的缺陷部分被探测到，所述缺陷部分沿着所述导体的纵向具有2mm以下的长度。4.根据权利要求1或2所述的用于制备绝缘电线的方法，其中，在得到所述绝缘电线的步骤中，所述绝缘涂层是通过如下步骤形成的：涂布涂料液体从而覆盖所述导体的外周侧的表面以形成涂膜，以及加热所述涂膜。5.根据权利要求1所述的用于制备绝缘电线的方法，其中，在所述绝缘涂层中的所述缺陷部分为低孔隙度部分，其存在于内部具有孔隙的绝缘涂层中。6.根据权利要求2所述的用于制备绝缘电线的方法，其中，所述薄壁部分具有1μm以上，且50μm以下的膜厚度减少量。7.根据权利要求1或2所述的用于制备绝缘电线的方法，其中，当从所述绝缘涂层的厚
度方向俯视观看时，在平面形状上，所述缺陷部分沿着纵向的最大长度和所述缺陷部分沿着宽度方向的最大长度的乘积为0.1mm2以上，且20mm2以下。8.根据权利要求1或2所述的用于制备绝缘电线的方法，其中，所述第一电极包括包括多个单元，所述多个单元被分开从而在垂直于所述导体的纵向的截面中沿着所述导体的周向彼此分离，以及所述多个单元中的每个单元沿着导体的纵向延伸。9.根据权利要求1或2所述的用于制备绝缘电线的方法，其中，在检查所述绝缘涂层的形成状态的步骤中，探测所述第一电极和所述绝缘电线之间的第一静电容量，进一步探测第二电极与所述绝缘电线之间的第二静电容量，所述第二电极沿着所述绝缘电线的径向被设置在外面从而面向所述绝缘电线的外周表面，以及基于所述第一静电容量的变化和所述第二静电容量的变化中的至少一个来检查所述绝缘涂层的形成状态。10.根据权利要求9所述的用于制备绝缘电线的方法，其中，所述第二电极沿着所述导体的纵向的长度不同于所述第一电极沿着所述导体的纵向的长度。11.根据权利要求9所述的用于制备绝缘电线的方法，其中，所述第二电极包括多个单元，所述多个单元被分开从而在垂直于所述导体的纵向的截面中沿着所述导体的周向彼此分离，以及所述多个单元中的每个单元沿着导体的纵向延伸。12.根据权利要求1或2所述的用于制备绝缘电线的方法，其中，所述绝缘涂层包含聚酰亚胺。13.根据权利要求1或2所述的用于制备绝缘电线的方法，其中，在线实施检查所述绝缘涂层的形成状态的步骤。14.一种用于检查绝缘电线的方法，其包括如下步骤：准备绝缘电线的步骤，所述绝缘电线包括具有线形的导体和在所述导体的外周侧形成的绝缘涂层；和检查绝缘涂层的形成状态的步骤，在沿着所述导体的纵向传输所述绝缘电线时测量所述绝缘电线和电极之间的静电容量，以及基于所述静电容量的变化检查所述绝缘涂层的形成状态，所述电极沿着所述绝缘电线的径向被设置在外面从而面向所述绝缘电线的外周表面，其中，在制备绝缘电线的步骤中制备的绝缘电线的绝缘涂层在其内部具有孔隙，在检查所述绝缘涂层的形成状态的步骤中，还基于所述静电容量和孔隙度之间的关系检查所述绝缘涂层的形成状态，在检查所述绝缘涂层的形成状态的步骤中，可检查出沿着所述导体的纵向具有4mm以下的长度的所述绝缘涂层中的缺陷部分。15.一种用于检查绝缘电线的方法，其包括如下步骤：制备准备绝缘电线的步骤，所述绝缘电线包括具有线形的导体和在所述导体的外周侧形成的绝缘涂层；和检查绝缘涂层的形成状态的步骤，在沿着所述导体的纵向传输所述绝缘电线时测量所述绝缘电线和电极之间的静电容量，以及基于所述静电容量的变化检查所述绝缘涂层的形成状态，所述电极沿着所述绝缘电线的径向被设置在外面从而面向所述绝缘电线的外周表面，在所述绝缘涂层中的所述缺陷部分为薄壁部分，
在检查所述绝缘涂层的形成状态的步骤中，可检查出沿着所述导体的纵向具有4mm以下的长度的所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：太田槙弥，山内雅晃，菅原润，田村康，吉田健吾，井上贵雄，杉本裕示，
申请(专利权)人：住友电工运泰克株式会社，
类型：发明
国别省市：