目标跟踪方法及装置、智能设备和计算机存储介质制造方法及图纸

技术编号:29080146 阅读:21 留言:0更新日期:2021-06-30 09:40
本发明专利技术公开了一种目标跟踪方法及装置、智能设备和计算机存储介质,所述方法包括以下步骤:采集图像,对所述图像进行目标检测,得到包括第一前景掩膜的检测框,对所述第一前景掩膜进行跟踪,得到包括第二前景掩膜的跟踪框,根据所述检测框的第一面积以及所述跟踪框的第二面积确定目标跟踪置信度,根据所述目标跟踪置信度确定跟踪结果,解决现有技术中目标跟踪不准确的问题,提高目标跟踪的准确度。提高目标跟踪的准确度。提高目标跟踪的准确度。

【技术实现步骤摘要】
目标跟踪方法及装置、智能设备和计算机存储介质


[0001]本专利技术涉及目标跟踪
,尤其涉及一种目标跟踪方法及装置、智能设备和计算机存储介质。

技术介绍

[0002]目前,目标跟踪是确定机视觉和人工智能领域中重要课题,可以将其应用于视频监控、智能电视和人机交互等领域,因为相关滤波器算法的跟踪器复杂度低、速度快的优点,可以广泛应用于智能电视和人机交互等产品中,其中,现有技术中采用KCF目标跟踪器进行目标跟踪,但是,当追踪目标的目标尺度变化、遮挡和出视野时,会导致在采用KCF目标跟踪器进行跟踪的过程中出现目标丢失现象,从而降低目标跟踪的准确度。

技术实现思路

[0003]本专利技术主要目的在于提供一种目标跟踪方法及装置、智能设备和计算机存储介质,旨在解决目标跟踪不准确的问题。
[0004]为实现上述目的,本专利技术提供一种目标跟踪方法;在一实施例中,所述目标跟踪方法包括以下步骤:
[0005]采集图像,对所述图像进行目标检测,得到包括第一前景掩膜的检测框;
[0006]对所述第一前景掩膜进行跟踪,得到包括第二前景掩膜的跟踪框;
[0007]根据所述检测框的第一面积以及所述跟踪框的第二面积确定目标跟踪置信度;
[0008]根据所述目标跟踪置信度确定跟踪结果。
[0009]在一实施例中,所述根据所述检测框的第一面积以及所述跟踪框的第二面积确定目标跟踪置信度的步骤包括:
[0010]获取所述第一面积与所述第二面积的交集,以及所述第一面积与所述第二面积的并集;
[0011]获取所述交集与所述并集的比值,并根据所述比值确定所述目标跟踪置信度。
[0012]在一实施例中,所述根据所述目标跟踪置信度确定跟踪结果的步骤包括:
[0013]获取所述第一前景掩膜的第三面积以及所述第二前景掩膜的第四面积;
[0014]根据所述第一前景掩膜的第三面积以及所述第二前景掩膜的第四面积确定参考置信度;
[0015]根据所述参考置信度、所述目标跟踪置信度以及预设阈值确定跟踪结果。
[0016]在一实施例中,所述根据所述第一前景掩膜的第三面积以及所述第二前景掩膜的第四面积确定参考置信度的步骤包括:
[0017]获取所述第三面积与所述第四面积的交集,以及所述第三面积与所述第四面积的并集;
[0018]获取所述交集与所述并集的比值,并根据所述比值确定所述参考置信度。
[0019]在一实施例中,所述根据所述参考置信度、所述目标跟踪置信度以及预设阈值确
定跟踪结果的步骤包括:
[0020]获取第一子阈值与所述目标跟踪置信度之间的交集,所述预设阈值包括第一子阈值以及第二子阈值;
[0021]比对所述交集、所述参考置信度以及所述第二子阈值,根据比对结果确定所述跟踪结果,其中,在所述交集大于所述参考置信度且小于所述第二子阈值时,确定跟踪结果为跟踪目标没有丢失。
[0022]在一实施例中,所述对所述第一前景掩膜进行跟踪,得到包括第二前景掩膜的跟踪框的步骤之后,还包括:
[0023]获取第一前景掩膜的第一特征与第二前景掩膜的第二特征,所述第一特征与所述第二特征均包括尺度特征以及方向特征中的至少一种;
[0024]若所述第一特征与所述第二特征相匹配,执行所述根据所述检测框的第一面积以及所述跟踪框的第二面积确定目标跟踪置信度的步骤。
[0025]在一实施例中,所述根据所述目标跟踪置信度确定跟踪结果的步骤之后,还包括:
[0026]采用所述跟踪框对所述检测框进行校正,根据校正的检测框重置所述跟踪框对应的所述第二前景掩膜。
[0027]为实现上述目的,本专利技术还提供一种目标跟踪装置,所述装置包括:
[0028]检测模块,用于采集图像,对所述图像进行目标检测,得到包括第一前景掩膜的检测框;
[0029]跟踪模块,用于对所述第一前景掩膜进行跟踪,得到包括第二前景掩膜的跟踪框;
[0030]计算模块,用于根据所述检测框的第一面积以及所述跟踪框的第二面积确定目标跟踪置信度;
[0031]判断模块,用于根据所述目标跟踪置信度确定跟踪结果。
[0032]为实现上述目的,本专利技术还提供一种智能设备,所述智能设备包括存储器、处理器以及存储在所述存储器并可在所述处理器上运行的目标跟踪程序,所述目标跟踪程序被所述处理器执行时实现如上所述的目标跟踪方法的各个步骤。
[0033]为实现上述目的,本专利技术还提供一种计算机存储介质,所述计算机存储介质存储有目标跟踪程序,所述目标跟踪程序被处理器执行时实现如上所述的目标跟踪方法的各个步骤。
[0034]本专利技术提供的目标跟踪方法及装置、智能设备和计算机存储介质,通过对采集的图形进行目标检测,得到包括第一前景掩膜的检测框,对所述第一前景掩膜进行跟踪,得到包括第二前景掩膜的跟踪框,根据检测框的第一面积以及跟踪框的第二面积确定目标跟踪置信度,根据目标跟踪置信度确定跟踪结果,从而根据跟踪结果判断目标是否跟踪丢失,以及时调整跟踪结果,解决了现有技术中目标跟踪不准确的问题,提高目标跟踪的准确度。
附图说明
[0035]图1为本专利技术实施例涉及的智能设备结构示意图;
[0036]图2为本专利技术目标跟踪方法的第一实施例的流程示意图;
[0037]图3为本专利技术目标跟踪方法的第二实施例的流程示意图;
[0038]图4为本专利技术目标跟踪方法的第三实施例的流程示意图;
[0039]图5为本专利技术目标跟踪方法的第四实施例的流程示意图;
[0040]图6为本专利技术目标跟踪方法的第五实施例的流程示意图;
[0041]图7为本专利技术目标跟踪方法的第六实施例的流程示意图;
[0042]图8为本专利技术目标跟踪方法的第七实施例的流程示意图;
[0043]图9为本专利技术目标跟踪装置的结构示意图;
[0044]本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例,参照附图做进一步说明。
具体实施方式
[0045]应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术,并不用于限定本专利技术。
[0046]本申请为解决现有技术中目标跟踪不准确的问题,通过采集图像,对所述图像进行目标检测,得到包括第一前景掩膜的检测框;对所述第一前景掩膜进行跟踪,得到包括第二前景掩膜的跟踪框;根据所述检测框的第一面积以及所述跟踪框的第二面积确定目标跟踪置信度;根据所述目标跟踪置信度确定跟踪结果的技术方案,实现根据跟踪结果判断目标是否跟踪丢失,提高目标跟踪的准确度。
[0047]为了更好地理解上述技术方案,下面将参照附图更详细地描述本申请的示例性实施例。虽然附图中显示了本申请的示例性实施例,然而应当理解,可以以各种形式实现本申请而不应被这里阐述的实施例所限制。相反,提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本申请,并且能够将本申请的范围完整的传达给本领域的技术人员。
[0048]如图1所示,图1为本专利技术实施例方案涉本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种目标跟踪方法,其特征在于,所述方法包括:采集图像,对所述图像进行目标检测,得到包括第一前景掩膜的检测框;对所述第一前景掩膜进行跟踪,得到包括第二前景掩膜的跟踪框;根据所述检测框的第一面积以及所述跟踪框的第二面积确定目标跟踪置信度;根据所述目标跟踪置信度确定跟踪结果。2.如权利要求1所述的目标跟踪方法,其特征在于,所述根据所述检测框的第一面积以及所述跟踪框的第二面积确定目标跟踪置信度的步骤包括:获取所述第一面积与所述第二面积的交集,以及所述第一面积与所述第二面积的并集;获取所述交集与所述并集的比值,并根据所述比值确定所述目标跟踪置信度。3.如权利要求1所述的目标跟踪方法,其特征在于,所述根据所述目标跟踪置信度确定跟踪结果的步骤包括:获取所述第一前景掩膜的第三面积以及所述第二前景掩膜的第四面积;根据所述第一前景掩膜的第三面积以及所述第二前景掩膜的第四面积确定参考置信度;根据所述参考置信度、所述目标跟踪置信度以及预设阈值确定跟踪结果。4.如权利要求3所述的目标跟踪方法,其特征在于,所述根据所述第一前景掩膜的第三面积以及所述第二前景掩膜的第四面积确定参考置信度的步骤包括:获取所述第三面积与所述第四面积的交集,以及所述第三面积与所述第四面积的并集;获取所述交集与所述并集的比值,并根据所述比值确定所述参考置信度。5.如权利要求3所述的目标跟踪方法,其特征在于,所述根据所述参考置信度、所述目标跟踪置信度以及预设阈值确定跟踪结果的步骤包括:获取第一子阈值与所述目标跟踪置信度之间的交集,所述预设阈值包括第一子阈值以及第二子阈值;比对所述交集、所述参考置信度以及所述第二子阈值,根据比对结果确定所述跟踪结果,其中,在...

【专利技术属性】
技术研发人员:孙爽
申请(专利权)人:南京创维信息技术研究院有限公司
类型:发明
国别省市:

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