一种探针用弹力值测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种探针用弹力值测试装置，包括底板、基座和翻板；所述基座设置在所述底板，所述基座的侧部设置有U形槽，所述U形槽用于放置测试探针弹力值的产品；所述翻板铰接在所述基座的侧部，翻板中设置有夹持位，所述夹持位中设置有夹持块，所述夹持块与夹持位上均形成有用于装夹探针的弧形槽，翻板的外沿螺纹装配有锁紧螺丝，所述锁紧螺丝用于预紧所述夹持块。该探针用弹力值测试装置，解决了现有测试设备难以对测试探针的弹力值进行测定的问题。题。题。

【技术实现步骤摘要】
一种探针用弹力值测试装置


[0001]本专利技术属于半导体检测设备
，具体涉及一种探针用弹力值测试装置。

技术介绍

[0002]测试探针主要用于电子产品的电学性能检测，随着电子产品的发展，已在航空、航天、军工、医疗、光电类等领域得到了广泛应用，在现代化科技发展的过程中起到了较大作用。
[0003]测试探针的成品检测项主要有阻值、弹力等等，针对测试用的设备来说，由于测试探针产品的结构越来越特殊，故而对该类产品进行弹力值测试时，无法直接将其装夹在测试设备上进行数据测试调整。
[0004]因此，如何实现该类产品的弹力值测试，将变得非常迫切和重要。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的是提供一种探针用弹力值测试装置，解决现有测试设备难以对测试探针的弹力值进行测定的问题。
[0006]为了达到上述目的，本专利技术所采用的技术方案是：一种探针用弹力值测试装置，包括：
[0007]底板；
[0008]基座，所述基座设置在所述底板，所述基座的侧部设置有U形槽，所述U形槽用于放置测试探针弹力值的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种探针用弹力值测试装置，其特征在于，包括：底板(1)；基座(5)，所述基座(5)设置在所述底板(1)上，所述基座(5)的侧部设置有U形槽(13)，所述U形槽(13)用于放置测试探针(12)弹力值的产品；翻板(6)，所述翻板(6)铰接在所述基座(5)的侧部，翻板(6)中设置有夹持位(9)，所述夹持位(9)中设置有夹持块(10)，所述夹持块(10)与夹持位(9)上均形成有用于装夹探针(12)的弧形槽，翻板(6)的外沿螺纹装配有锁紧螺丝(8)，所述锁紧螺丝(8)用于预紧所述夹持块(10)。2.根据权利要求1所述的探针用弹力值测试装置，其特征在于，还包括两设置在底板(1)上的导轨(2)，所述基座(5)滑动设置在两导轨(2...

【专利技术属性】
技术研发人员：张明海，付盼红，申啸，
申请(专利权)人：渭南高新区木王科技有限公司，
类型：发明
国别省市：