一种SiO2系高频低介低温共烧陶瓷材料及其制备方法技术

技术编号:29049977 阅读:46 留言:0更新日期:2021-06-26 06:11
本发明专利技术涉及一种SiO2系高频低介低温共烧陶瓷材料及其制备方法。一种SiO2系高频低介低温共烧陶瓷材料,由重量百分比为30%

【技术实现步骤摘要】
一种SiO2系高频低介低温共烧陶瓷材料及其制备方法


[0001]本专利技术属于微波介质陶瓷材料领域,具体涉及一种SiO2系高频低介低温共烧陶瓷材料及其制备方法。

技术介绍

[0002]低温共烧陶瓷技术(Low

temperature co

firing ceramics,LTCC)是电子封装技术的一种,它通过将多个印有金属图案的陶瓷膜片堆叠共烧,完成电极的空间布线,实现特定的元器件功能,由于采用高导电率低熔点的银或铜做布线,需要对应能在900℃或1000℃以下低温烧结的陶瓷材料与之匹配。LTCC技术因其小型化、集成度高、高性能和高可靠性等特点而广泛应用于各类电子元器件、陶瓷管壳、射频基板和模组等产品中。
[0003]在微波技术中,信号的传输速率与材料的介电常数成反比,为了降低信号在传输过程中的延迟,通常希望材料的介电常数越低越好。目前常用的材料介电常数在6

8左右,如Ferro A6

M(介电常数5.9
±
0.2),DuPont 951(介本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种SiO2系高频低介低温共烧陶瓷材料,其特征在于,由以下重量百分比的组分构成:30%

50%的硼硅酸盐玻璃、30%

55%的SiO2、1%

15%的析晶控制添加剂;上述组分的总和为100%;所述的析晶控制添加剂选自ZBS玻璃粉、ZrO2、TiO2、Y2O3、AlN、结晶SiO2中的至少一种。2.根据权利要求1所述的一种SiO2系高频低介低温共烧陶瓷材料,其特征在于,由以下重量百分比的组分构成:30%

50%的硼硅酸盐玻璃、30%

55%的SiO2、3%

15%的析晶控制添加剂;上述组分的总和为100%;所述的析晶控制添加剂为ZrO2、TiO2、Y2O3、AlN、结晶SiO2中的至少一种以及ZBS玻璃粉,且ZBS玻璃粉的重量百分比不低于3%。3.根据权利要求1所述的一种SiO2系高频低介低温共烧陶瓷材料,其特征在于,由以下重量百分比的组分构成:30%

50%的硼硅酸盐玻璃、30%

55%的SiO2、0.5%

15%的析晶控制添加剂;上述组分的总和为100%;所述的析晶控制添加剂为ZBS玻璃粉、ZrO2、Y2O3、AlN、结晶SiO2中的至少一种以及TiO2,且TiO2的重量百分比为0.5%

4%。4.根据权利要求1~3任一所述的一种SiO2系高频低介低温共烧陶瓷材料,其特征在于,所述的硼硅酸盐玻璃由以下重量百分比的组分构成:60%

80%的SiO2,10%

30%的B2O3,1%

5%的Al2O3和1

12%的碱金属氧化物R2O,上述组分的总和为100%;其中R为K、Na、Li中的至少一种。5.根据权利要求1~3任一所述的SiO2系高频低介低温共烧陶瓷材料,其特征在于,所述的ZBS玻璃包含以下重量百分比的组分:7

30%的SiO2,20

60%的B2O3,40

70%的ZnO,上述组分的总和为100%。6.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员:袁烨童建喜石珊张彩霞李进徐红梅
申请(专利权)人:嘉兴佳利电子有限公司
类型:发明
国别省市:

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