【技术实现步骤摘要】
响应曲面优化的带隙基准电压源电路、优化方法及其应用
[0001]本专利技术属于半导体模拟集成电路设计领域,涉及算法优化电路,具体地涉及响应面优化的带隙基准电压源电路。
技术介绍
[0002]带隙基准电压源电路是模拟集成电路的重要组成部分,其广泛应用于线性稳压器、模数转换器(ADC)、数模转换器(DAC)、锁相环(PLL)等电路中。
[0003]高性能带隙基准电压源能够提供一个不受工艺、电源电压和温度(PVT)波动影响的恒定基准电压。
[0004]带隙基准电压源电路通过为有源器件提供恒定的偏置电压,能够有效地稳定电路节点和大信号分析的直流工作点,其受PVT波动影响时的输出电压精度对稳定器件乃至系统性能起到重要作用。
[0005]响应曲面法结合了特定数学和与统计方法之集合所衍生出的方法论,其目的在协助研究人员对科学系统或工业制程中最佳产品设计、制程改善、系统最佳化等问题提供一套分析、求解程序,尤其是当系统特性受大量非线性变量的影响,解决多变量问题的一种可视化统计方法。其对所感兴趣的响应受多个变量影响的问题 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种应用响应曲面优化带隙基准电压源电路的方法,其特征在于:包括如下步骤:步骤一、带隙基准电压源电路输出电压的温度系数计算公式为:设定温度变化范围为
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40~130℃,则ΔT为170℃;输出电压V
REF
对TC影响很小,输出电压V
REF
的最大值与最小值之差ΔV
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对TC的变化影响很大,将ΔV
REF
作为因变量;选取对因变量的变化有明相关性的半导体器件作为自变量,选取四个自变量,分别为晶体管MP3/4的尺寸和电阻R1、R2、R
self
的阻值大小;步骤二、对步骤一选取的四个自变量分别进行爬坡试验,通过得到的最小ΔV
REF
确定每个自变量的选取范围;步骤三、在响应曲面中采用Box
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Behnken Design方法,在步骤二得到的各自变量的选取范围内取值进行试验组合,通过对电路在
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40~130℃下做直流仿真,得到不同组合下的输出电压ΔV
REF
;步骤四、根据步骤三得到的输出电压ΔV
REF
的变化建立响应面模型,通过所述响应面模型得到电路的优化结果,将所述优化结果进行仿真分析,与实际电路仿真结果对比,证明响应面结果的可取性;步骤五、将步骤四所得的优化结果代入温度系数计算公式,完成带隙基准的温度系数的最小化设计。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:所述带隙基...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘博,王鹏飞,黄志慧,张立文,孙立功,向菲,
申请(专利权)人:河南科技大学,
类型:发明
国别省市:
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