一种IC测试装置的检测机构制造方法及图纸

本申请涉及检测设备的领域，尤其是涉及一种IC测试装置的检测机构，其包括工作台以及检测座，所述检测座设置在所述工作台上，所述检测座上远离所述工作台一侧开设有供IC嵌入的适配槽，所述检测座一侧侧壁上转动连接有将所述检测座盖合的检测盖，所述工作台上设置有驱动组件，所述驱动组件用于驱使所述检测盖转动盖合在所述检测座上。本申请具有在将检测IC的过程中可以将IC固定在检测座上的效果。

【技术实现步骤摘要】
一种IC测试装置的检测机构
本申请涉及检测设备的领域，尤其是涉及一种IC测试装置的检测机构。
技术介绍
IC指的是电子元器件，电子元器件是电子元件和小型的机器、仪器的组成部分，其本身常由若干零件构成，可以在同类产品中通用；常指电器、无线电、仪表等工业的某些零件，是电容、晶体管、游丝、发条等电子器件的总称。电子元器件在生产封装投入市场之前，需要将电子元器件进行检测，将整批产品中的不良品取出，现有对电子元器件的检测方式一般将电子元器件放置在指定位置上，通过检测设备上的吸嘴将电子元器件输送到检测座上，然后对IC进行检测。针对上述中的相关技术，专利技术人认为存在有缺陷：在吸嘴将电子元器件放置在检测座上后，在检测过程中，电子元器件在检测座上的位置未进行固定，若是电子元器件的位置有所偏移容易影响对于电子元器件的检测，对此情况有待进一步改善。
技术实现思路
为了在将检测IC的过程中可以将IC固定在检测座上，本申请提供一种IC测试装置的检测机构。本申请提供的一种IC测试装置的检测机构采用如下的技术方案：一种IC测本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种IC测试装置的检测机构，其特征在于：包括工作台(1)以及检测座(2)，所述检测座(2)设置在所述工作台(1)上，所述检测座(2)上远离所述工作台(1)一侧开设有供IC嵌入的适配槽(3)，所述检测座(2)一侧侧壁上转动连接有将所述检测座(2)盖合的检测盖(4)，所述工作台(1)上设置有驱动组件，所述驱动组件用于驱使所述检测盖(4)转动盖合在所述检测座(2)上。/n

【技术特征摘要】
1.一种IC测试装置的检测机构，其特征在于：包括工作台(1)以及检测座(2)，所述检测座(2)设置在所述工作台(1)上，所述检测座(2)上远离所述工作台(1)一侧开设有供IC嵌入的适配槽(3)，所述检测座(2)一侧侧壁上转动连接有将所述检测座(2)盖合的检测盖(4)，所述工作台(1)上设置有驱动组件，所述驱动组件用于驱使所述检测盖(4)转动盖合在所述检测座(2)上。


2.根据权利要求1所述的一种IC测试装置的检测机构，其特征在于：所述检测盖(4)朝向所述检测座(2)一侧设置有凸出块(5)，所述凸出块(5)可嵌入所述适配槽(3)与IC抵接。


3.根据权利要求2所述的一种IC测试装置的检测机构，其特征在于：所述凸出块(5)采用弹性块。


4.根据权利要求1所述的一种IC测试装置的检测机构，其特征在于：所述驱动组件包括设置在所述工作台(1)上的支撑座(6)、设置在所述支撑座(6)远离所述工作台(1)上的气缸(7)、连接在所述气缸(7)输出轴上的推动块(8)、用于驱使所述检测盖(4)...

【专利技术属性】
技术研发人员：李斌，周陵零，韦护，
申请(专利权)人：深圳市天威达电子有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44