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本申请涉及检测设备的领域，尤其是涉及一种IC测试装置的检测机构，其包括工作台以及检测座，所述检测座设置在所述工作台上，所述检测座上远离所述工作台一侧开设有供IC嵌入的适配槽，所述检测座一侧侧壁上转动连接有将所述检测座盖合的检测盖，所述工作台...
该专利属于深圳市天威达电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市天威达电子有限公司授权不得商用。

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