一种双钩式空腔内台阶深度高度测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种双钩式空腔内台阶深度高度测量装置，包括主尺和副尺，副尺套合于主尺上，主尺端部固定有深度定位钩、高度定位钩，深度定位钩、高度定位钩上对应设有共面的深度定位基面、高度定位基面，深度定位钩宽度与高度定位钩宽度相等，副尺上所有副刻度线总长与主尺上相应数量的主刻度线总长相等，当将副尺与深度定位钩并拢时，零号副刻度线与深度定位钩宽度或高度定位钩宽度相对应的主刻度线齐平。采用本发明专利技术的技术方案，操作方法类似于游标卡尺，简单且方便，易于技术人员掌握，简化了测量过程，并且深度定位基面与高度定位基面共面，使测量基准达到了统一，减少测量误差，提高了测量结果可靠性。测量结果可靠性。测量结果可靠性。

【技术实现步骤摘要】
一种双钩式空腔内台阶深度高度测量装置


[0001]本专利技术属于测量装置
，尤其涉及一种双钩式空腔内台阶深度高度测量装置。

技术介绍

[0002]在制造业领域中，为了保证零部件的制造质量，需要对零部件各个形状要素特征进行测量，然而，在实际工作中，时常遇到一些具有复杂形状的零部件，需要测量其内部空腔内台阶上端面相对于空腔开口端的深度以及该台阶下端面相对于其上端面的高度，对于该项尺寸要素，现有的游标卡尺只能测量得出空腔内台阶上端面相对于空腔开口端的深度，而无法对该台阶下端面进行测量，只能依赖采用三坐标仪对该台阶上端面和台阶下端面进行测量，这种测量方法耗时时间长，而且三坐标仪价格不菲，对于一些中小规模的企业而言，难以承受，硬件投资成本较高。

技术实现思路

[0003]为解决上述技术问题，本专利技术提供了一种双钩式空腔内台阶深度高度测量装置。
[0004]本专利技术通过以下技术方案得以实现。
[0005]本专利技术提供一种双钩式空腔内台阶深度高度测量装置，主要包括主尺和副尺，所述副尺套合于所述主尺之上并且可沿着所述主尺长度方向相对滑动，所述主尺端部左右两侧分别固定连接有深度定位钩、高度定位钩，所述深度定位钩、高度定位钩上分别对应设置有深度定位基面、高度定位基面，所述深度定位基面与高度定位基面共面，并且所述深度定位钩宽度、高度定位钩宽度均为δ，在所述主尺上等间距地标印有m条主刻度线，并且各条主刻度线还按照自然数递增序列顺序从零开始依次编号，在所述副尺上等间距地标印有n条副刻度线，并且各条副刻度线还按照自然数递增序列顺序从零开始依次编号，m、n、δ均为正整数，并且m≥n，所述副尺之上n条副刻度线排布区域的总长度与所述主尺之上n
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1条主刻度线排布区域的总长度相等，当将所述副尺与所述深度定位钩并拢时，零号副刻度线与δ号主刻度线齐平。
[0006]所述深度定位钩宽度、高度定位钩宽度均为δ＝3mm。
[0007]所述副尺上有50条副刻度线，相邻两条主刻度线间距为1mm。
[0008]所述副尺上还螺接有锁紧螺钉，锁紧螺钉用于限定所述副尺相对于所述主尺长度方向上的位置。
[0009]所述深度定位钩与所述主尺是一体制造成型的。
[0010]所述高度定位钩与所述主尺是一体制造成型的。
[0011]所述副尺上还固定有限位翼。
[0012]所述限位翼为三角形薄板状。
[0013]所述限位翼数量为2个，2个限位翼分列于所述副尺端部左右两侧。
[0014]所述副尺与限位翼是一体制造成型的。
[0015]本专利技术的有益效果在于：采用本专利技术的技术方案，通过在主尺上分别设置深度定位钩和高度定位钩，通过将深度定位钩抵靠在空腔内台阶上端面能够测量获得台阶上端面相对于空腔开口端的深度，通过将高度定位钩抵靠在空腔内台阶下端面则能够测量获得台阶下端面相对于空腔开口端的距离，将两者相减，即可获得台阶下端面相对于其上端面的高度，本专利技术的操作方法类似于游标卡尺，简单且方便，易于技术人员掌握，简化了测量过程，并且深度定位基面与高度定位基面共面，使测量基准达到了统一，有利于减少测量过程中产生的累计误差，提高了测量精度，测量结果可靠性较高，本专利技术具有结构简单、操作方便高效，测量精度高等优点，可以在机械制造领域中广泛推广应用。
附图说明
[0016]图1是本专利技术的结构示意图。
[0017]图中：1
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主尺，2
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副尺，3
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深度定位钩，4
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高度定位钩，5
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深度定位基面，6
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高度定位基面，7
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主刻度线，8
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副刻度线，9
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锁紧螺钉，10
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限位翼。
具体实施方式
[0018]下面进一步描述本专利技术的技术方案，但要求保护的范围并不局限于所述。
[0019]如图1所示，本专利技术提供一种双钩式空腔内台阶深度高度测量装置，包括主尺1和副尺2，副尺2套合于主尺1之上并且可沿着主尺1长度方向相对滑动，主尺1端部左右两侧分别固定连接有深度定位钩3、高度定位钩4，深度定位钩3、高度定位钩4上分别对应设置有深度定位基面5、高度定位基面6，深度定位基面5与高度定位基面6共面，并且深度定位钩3宽度、高度定位钩4宽度均为δ，在主尺1上等间距地标印有m条主刻度线7，并且各条主刻度线7还按照自然数递增序列顺序从零开始依次编号，在副尺2上等间距地标印有n条副刻度线8，并且各条副刻度线8还按照自然数递增序列顺序从零开始依次编号，m、n、δ均为正整数，并且m≥n，所述副尺2之上n条副刻度线8排布区域的总长度与所述主尺1之上n
‑
1条主刻度线7排布区域的总长度相等，当将副尺2与深度定位钩3并拢时，零号副刻度线8与δ号主刻度线7齐平。
[0020]进一步地，优选深度定位钩3宽度、高度定位钩4宽度均为δ＝3mm。副尺2上有50条副刻度线8，相邻两条主刻度线7间距为1mm。使本专利技术的测量精度能够达到1/50＝0.02mm。
[0021]另外，副尺2上还螺接有锁紧螺钉9，锁紧螺钉9用于限定副尺2相对于主尺1长度方向上的位置。以便于用户读取测量读数。
[0022]此外，深度定位钩3与主尺1是一体制造成型的。高度定位钩4与主尺1是一体制造成型的。副尺2上还固定有限位翼10。限位翼10用于抵靠在空腔开口端处，以便于用户读取测量读数。优选限位翼10为三角形薄板状。限位翼10数量为2个，2个限位翼10分列于副尺2端部左右两侧。副尺2与限位翼10是一体制造成型的。
[0023]采用本专利技术的技术方案，通过在主尺上分别设置深度定位钩和高度定位钩，通过将深度定位钩抵靠在空腔内台阶上端面能够测量获得台阶上端面相对于空腔开口端的深度，通过将高度定位钩抵靠在空腔内台阶下端面则能够测量获得台阶下端面相对于空腔开口端的距离，将两者相减，即可获得台阶下端面相对于其上端面的高度，本专利技术的操作方法类似于游标卡尺，简单且方便，易于技术人员掌握，简化了测量过程，并且深度定位基面与
高度定位基面共面，使测量基准达到了统一，有利于减少测量过程中产生的累计误差，提高了测量精度，测量结果可靠性较高，本专利技术具有结构简单、操作方便高效，测量精度高等优点，可以在机械制造领域中广泛推广应用。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种双钩式空腔内台阶深度高度测量装置，其特征在于：包括主尺(1)和副尺(2)，所述副尺(2)套合于所述主尺(1)之上并且可沿着所述主尺(1)长度方向相对滑动，所述主尺(1)端部左右两侧分别固定连接有深度定位钩(3)、高度定位钩(4)，所述深度定位钩(3)、高度定位钩(4)上分别对应设置有深度定位基面(5)、高度定位基面(6)，所述深度定位基面(5)与高度定位基面(6)共面，并且所述深度定位钩(3)宽度、高度定位钩(4)宽度均为δ，在所述主尺(1)上等间距地标印有m条主刻度线(7)，并且各条主刻度线(7)还按照自然数递增序列顺序从零开始依次编号，在所述副尺(2)上等间距地标印有n条副刻度线(8)，并且各条副刻度线(8)还按照自然数递增序列顺序从零开始依次编号，m、n、δ均为正整数，并且m≥n，所述副尺(2)之上n条副刻度线(8)排布区域的总长度与所述主尺(1)之上n
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1条主刻度线(7)排布区域的总长度相等，当将所述副尺(2)与所述深度定位钩(3)并拢时，零号副刻度线(8)与δ号主刻度线(7)齐平。2.如权利要求1所述的双钩式空腔内台阶深度高度测量装置，其特征在于：所述深度定位钩(3)宽度、高度定位钩(4)宽度均为δ＝3m...

【专利技术属性】
技术研发人员：严萍，谭妮娜，张江峰，孟前，刘泽，
申请(专利权)人：贵州黎阳国际制造有限公司，
类型：发明
国别省市：