检测仪表设备是否存在异物遮挡的方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种检测仪表设备是否存在异物遮挡的方法及系统，其包括：在仪表设备模板图像中标注出关键区域，从待测仪表设备的图像中提取出相应的关键区域；确定待测仪表设备的关键区域的标准差以及所述仪表设备模板图像的关键区域的标准差；将待测仪表设备的关键区域的标准差的值与第一阈值以及第二阈值进行比较，其中，所述第一阈值、所述第二阈值均与所述仪表设备模板图像的标准差的值相关；若待测仪表设备的关键区域的标准差的值小于所述第一阈值或者大于所述第二阈值，则判定所述待测仪表设备的关键区域存在异物遮挡。根据本发明专利技术的检测仪表设备是否存在异物遮挡的方法及系统，其处理速度更快、识别效果更好且使用场景更为广泛。

【技术实现步骤摘要】
检测仪表设备是否存在异物遮挡的方法及系统
本专利技术是关于仪器仪表智能识别
，特别是关于一种检测仪表设备是否存在异物遮挡的方法及系统。
技术介绍
随着仪器仪表智能识别技术的发展，在电力、金融、化工、机械和电子等领域，越来越多的仪表设备状态通过相机获取图像或视频信息来进行识别监控，这就需要对智能识别系统的工作状态进行自动检测并对出现的异常情况进行报警。若要识别的仪表设备被人为操作或意外出现的异物进行了遮挡，自动识别系统则无法有效地进行仪表设备状态的检测，从而对生产工作产生不利影响。因而，研究基于图像处理和机器视觉的仪表设备异物遮挡的自动检测方法，具有重要的实用意义。专利技术人在实现本专利技术的过程中发现，现有的仪表设备异物遮挡自动检测的方法中大多都是针对某种或者某几种特定遮挡物的识别，这种方法需要采集大量固定类别遮挡物的图像作为样本数据，并选择合适的深度学习网络，进行训练和参数调节，然后通过调节好参数的深度学习网络来检测和识别遮挡物。这种方法需要预先获取大量的样本数据才能取得良好的识别效果，但实现中可能无法获取到大量数据；另外只能针本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种检测仪表设备是否存在异物遮挡的方法，其特征在于，包括：/n在预先获取的仪表设备模板图像中标注出关键区域，采用模板匹配算法从待测仪表设备的图像中提取出相应的关键区域；/n根据标准差算法分别确定所述待测仪表设备的关键区域的标准差以及确定所述仪表设备模板图像中的关键区域的标准差；/n将所述待测仪表设备的关键区域的标准差的值与第一阈值以及第二阈值进行比较，其中，所述第一阈值、所述第二阈值均与所述仪表设备模板图像中的关键区域的标准差的值相关；以及/n若所述待测仪表设备的关键区域的标准差的值小于所述第一阈值或者大于所述第二阈值，则判定所述待测仪表设备的关键区域存在异物遮挡。/n

【技术特征摘要】
1.一种检测仪表设备是否存在异物遮挡的方法，其特征在于，包括：
在预先获取的仪表设备模板图像中标注出关键区域，采用模板匹配算法从待测仪表设备的图像中提取出相应的关键区域；
根据标准差算法分别确定所述待测仪表设备的关键区域的标准差以及确定所述仪表设备模板图像中的关键区域的标准差；
将所述待测仪表设备的关键区域的标准差的值与第一阈值以及第二阈值进行比较，其中，所述第一阈值、所述第二阈值均与所述仪表设备模板图像中的关键区域的标准差的值相关；以及
若所述待测仪表设备的关键区域的标准差的值小于所述第一阈值或者大于所述第二阈值，则判定所述待测仪表设备的关键区域存在异物遮挡。


2.如权利要求1所述的检测仪表设备是否存在异物遮挡的方法，其特征在于，若所述关键区域为单通道图像，则根据标准差算法确定所述关键区域的标准差包括：
获取所述关键区域的单通道c的亮度信息，根据所述单通道c的亮度信息、第一式子以及第二式子确定出所述关键区域的标准差的值，
其中，所述第一式子为：所述第二式子为：
其中，Vc为所述关键区域的标准差，x为所述关键区域中的像素点在图像坐标系中的横坐标，y为所述关键区域中的像素点在图像坐标系中的纵坐标，fc(x,y)为所述关键区域中的像素点的单通道亮度值，M为所述关键区域在图像坐标系的横轴方向的像素数，N为所述关键区域在图像坐标系的纵轴方向的像素数，μc为所述关键区域的单通道亮度平均值。


3.如权利要求1所述的检测仪表设备是否存在异物遮挡的方法，其特征在于，若所述关键区域为红绿蓝三通道图像，则根据标准差算法确定所述关键区域的标准差包括：
获取所述关键区域的红色通道r的亮度信息，根据所述红色通道r的亮度信息、第三式子以及第四式子确定出第一标准差的值；
获取所述关键区域的绿色通道g的亮度信息，根据所述绿色通道g的亮度信息、第五式子以及第六式子确定出第二标准差的值；
获取所述关键区域的蓝色通道b的亮度信息，根据所述蓝色通道b的亮度信息、第七式子以及第八式子确定出第三标准差的值；以及
确定所述第一标准差、所述第二标准差以及所述第三标准差的平均值，其中，所述平均值为所述关键区域的标准差，
其中，所述第三式子为：所述第四式子为：其中，Vr为所述第一标准差，x为所述关键区域中的像素点在图像坐标系中的横坐标，y为所述关键区域中的像素点在图像坐标系中的纵坐标，fr(x,y)为所述关键区域中的像素点的红色通道亮度值，M为所述关键区域在图像坐标系的横轴方向的像素数，N为所述关键区域在图像坐标系的纵轴方向的像素数，μr为所述关键区域的红色通道亮度平均值，
所述第五式子为：所述第六式子为：其中，Vg为所述第二标准差，fg(x，y)为所述关键区域中的像素点的绿色通道亮度值，μg为所述关键区域的绿色通道亮度平均值，
所述第七式子为：所述第八式子为：其中，Vb为所述第三标准差，fb(x,y)为所述关键区域中的像素点的蓝色通道亮度值，μb为所述关键区域的蓝色通道亮度平均值。


4.如权利要求1所述的检测仪表设备是否存在异物遮挡的方法，其特征在于，所述第一阈值为所述仪表设备模板图像中的关键区域的标准差的值与第一预设值的差，所述第二阈值为所述仪表设备模板图像中的关键区域的标准差与第二预设值的和。


5.如权利要求1所述的检测仪表设备是否存在异物遮挡的方法，其特征在于，所述方法还包括：
若所述待测仪表设备的关键区域的标准差的值大于等于所述第一阈值且小于等于所述第二阈值，则根据第九式子和第十式子分别确定所述待测仪表设备的关键区域的亮度直方图的有效亮度等级数量以及确定所述仪表设备模板图像中的关键区域的亮度直方图的有效亮度等级数量；
将所述待测仪表设备的关键区域的亮度直方图的有效亮度等级数量的值与第三阈值以及第四阈值进行比较，其中，所述第三阈值与所述仪...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱杰，王库，冯文澜，
申请(专利权)人：随锐科技集团股份有限公司，随锐科技天津有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11