一种高电流测试探针制造技术

本实用新型专利技术公开了一种高电流测试探针，包括中空结构的壳体，所述壳体的下端设有与外部连通的连通孔，且连通孔内设有挡板，且挡板的两端均通过连接机构与壳体连接，所述壳体内设有探针主体，所述探针主体的一侧设有移动机构，且探针主体的另一侧设有缓冲机构，所述壳体的两侧侧壁均滑动连接有把手，且壳体的上端设有固定机构。本实用新型专利技术能够在非工作状态下将探针收入壳体中，便于对探针进行保护。

【技术实现步骤摘要】
一种高电流测试探针
本技术涉及探针
，尤其涉及一种高电流测试探针。
技术介绍
测试探针，K-50-QG无线路由器测试，是应用于电子测试中测试PCBA的一种测试连接电子元件，测试探针的种类有PCB探针、ICT功能测试探针(汽车线束测试探针、电池针、电流电压针、开关针、电容极性针、高频针)、BGA测试探针等，测试探针的质量主要体现在材质、镀层、弹簧、套管的直径精度及制作工艺上；现有的测试探针在非工作状态下大多裸露在外，探针易受损，为此我们提出一种高电流测试探针来解决上述问题。
技术实现思路
本技术的目的是为了解决现有技术中存在的测试探针在非工作状态下大多裸露在外，探针易受损的问题，而提出的一种高电流测试探针。为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：一种高电流测试探针，包括中空结构的壳体，所述壳体的下端设有与外部连通的连通孔，且连通孔内设有挡板，且挡板的两端均通过连接机构与壳体连接，所述壳体内设有探针主体，所述探针主体的一侧设有移动机构，且探针主体的另一侧设有缓冲机构，所述壳体的两侧侧壁均滑动连接有把本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种高电流测试探针，包括中空结构的壳体(1)，其特征在于，所述壳体(1)的下端设有与外部连通的连通孔，且连通孔内设有挡板(2)，且挡板(2)的两端均通过连接机构与壳体(1)连接，所述壳体(1)内设有探针主体(3)，所述探针主体(3)的一侧设有移动机构，且探针主体(3)的另一侧设有缓冲机构，所述壳体(1)的两侧侧壁均滑动连接有把手(4)，且壳体(1)的上端设有固定机构。/n

【技术特征摘要】
1.一种高电流测试探针，包括中空结构的壳体(1)，其特征在于，所述壳体(1)的下端设有与外部连通的连通孔，且连通孔内设有挡板(2)，且挡板(2)的两端均通过连接机构与壳体(1)连接，所述壳体(1)内设有探针主体(3)，所述探针主体(3)的一侧设有移动机构，且探针主体(3)的另一侧设有缓冲机构，所述壳体(1)的两侧侧壁均滑动连接有把手(4)，且壳体(1)的上端设有固定机构。


2.根据权利要求1所述的一种高电流测试探针，其特征在于，所述移动机构包括水平设置的第一移动板(5)，且壳体(1)的侧壁上设有与第一移动板(5)匹配设置的条形开口(6)，所述第一移动板(5)的上侧侧壁设有竖直设置的第二移动板(7)，所述壳体(1)的内壁上插设有第一转杆(8)，所述第一转杆(8)上套设有第一齿轮(9)，且第二移动板(7)的侧壁上设有与第一齿轮(9)啮合设置的第一齿槽，所述壳体(1)的侧壁上设有与第一转杆(8)匹配设置的第一滑动锁块(10)。


3.根据权利要求1所述的一种高电流测试探针，其特征在于，所述缓冲机构包括竖直设置的缓冲板(11)，所述缓冲板(11)上设有开口朝向探针主体(3)的滑槽(12)，所述探针主体(3)的侧壁上固定连接有水平设置的移动杆(13)，且移动杆(13)与滑槽(12)的底壁滑动连接，所述滑槽(12)内固定连接有竖直设...

【专利技术属性】
技术研发人员：李越，
申请(专利权)人：西安和光明宸科技有限公司，
类型：新型
国别省市：陕西;61