【技术实现步骤摘要】
一种X射线探伤设备
本申请涉及无损检测的领域，尤其是涉及一种X射线探伤设备。
技术介绍
X射线探伤检测是一种无损检测方法，其原理是利用X射线穿透物质和在物质中有衰减的特性来发现其中缺陷；X射线可以检查金属与非金属材料及其制品的内部缺陷。相关技术的X射线探伤设备包括处理器、供电箱及发射探头，通过手持检测探头检测管道焊缝。针对上述中的相关技术，在管道焊缝的检测过程中，需要不断的移动X射线探伤设备的位置，存在有检测人员劳动强度大的缺陷。
技术实现思路
为了降低检测人员的劳动强度，本申请提供一种X射线探伤设备。本申请提供的一种X射线探伤设备采用如下的技术方案：一种X射线探伤设备，包括支架、供电箱、处理器、发射探头及滚动组件，所述支架包括底板和垂直固定于底板上的立柱，所述滚动组件包括滚轮、设置在支架上的固定板、设置在固定板与滚轮之间的铰接轴，所述供电箱和处理器设置在支架上，所述处理器上设置有显示屏。通过采用上述技术方案，将处理器和供电箱设置在支架上，支架上安装滚动组件，可以通过推...
【技术保护点】
1.一种X射线探伤设备，其特征在于：包括支架（1）、供电箱（2）、处理器（3）、发射探头（4）及滚动组件（6），所述支架（1）包括底板（11）和垂直固定于底板（11）上的立柱（12），所述滚动组件（6）包括滚轮（61）、设置在支架（1）上的固定板（62）、设置在固定板（62）与滚轮（61）之间的铰接轴（63），所述供电箱（2）和处理器（3）设置在支架（1）上，所述处理器（3）上设置有显示屏（31）；所述处理器（3）背离显示屏（31）侧面固定有套环（32），所述套环（32）滑动连接在立柱（12）上；所述立柱（12）自上而下垂直轴向开设有若干螺纹孔（121），所述套环（32）外...
【技术特征摘要】
1.一种X射线探伤设备，其特征在于：包括支架（1）、供电箱（2）、处理器（3）、发射探头（4）及滚动组件（6），所述支架（1）包括底板（11）和垂直固定于底板（11）上的立柱（12），所述滚动组件（6）包括滚轮（61）、设置在支架（1）上的固定板（62）、设置在固定板（62）与滚轮（61）之间的铰接轴（63），所述供电箱（2）和处理器（3）设置在支架（1）上，所述处理器（3）上设置有显示屏（31）；所述处理器（3）背离显示屏（31）侧面固定有套环（32），所述套环（32）滑动连接在立柱（12）上；所述立柱（12）自上而下垂直轴向开设有若干螺纹孔（121），所述套环（32）外侧设置有卡接件（5），所述卡接件（5）穿过套环（32）固定在立柱（12）上的螺纹孔（121）内。
2.根据权利要求1所述的一种X射线探伤设备，其特征在于：所述铰...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨宇翔，宋晓伟，王俊龙，赵晓宇，张峥，程晓涛，
申请(专利权)人：河北冀安华瑞无损检测技术有限公司，
类型：新型
国别省市：河北;13
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