一种荧光定量分析装置及方法制造方法及图纸

技术编号:28832356 阅读:17 留言:0更新日期:2021-06-11 23:28
本申请提供了一种荧光定量分析装置,该装置包括:激发光源、接收器、激发光滤光片和发射滤光片;激发光滤光片位于激发光源与被检测目标物的运动轨迹之间,且激发光源所发射的激发光的经过激发光滤光片;发射滤光片位于接收器与被检测目标物的运动轨迹之间,且接收器所接收的发射光经过发射滤光片。这样,本申请的荧光定量分析装置可以有效避免二色镜反射和透射效率、被检测目标物的基板自荧光、被检测目标物中其他荧光物质干扰的问题,从而提高荧光定量检测的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种荧光定量分析装置及方法
本申请涉及荧光检验领域,尤其涉及一种荧光定量分析装置及方法。
技术介绍
当前荧光定量分析装置均采用激发光源照射在具有荧光素的被检测目标物上,荧光素产生和激发光源不同波长的发射光,经过发射光滤光片被接收器接收,由于发射光强弱与发射光强弱呈严格正相关,接收器根据对发射光的定量分析即可推导出被检测目标物的含量。如图1所示,这种传统方式激发光源和发射光呈垂直布局,经过二色镜半反射后垂直打在被检测目标物上,事实上形成激发光与发射光同轴的检测环境;发射光被检测到的时候,激发光与发射光同轴,利用滤光片将激发光和发射光区分开,并对发射光做定量分析。然而,这种传统方式存在二色镜对激发光的发射和对发射光的透过效率问题;也存在由于激发光与发射光同轴,激发光会干扰发射光检测的问题;更存在激发光因同轴打在被检测目标物时,目标物承载基板自发荧光和被检测目标物中其他物质荧光混杂在发射光中干扰定量检测的问题。故此,亟需一种能够降低荧光检测过程中本底及反应物中的其他发光物质对荧光定量分析的干扰,提升荧光定量分析的准确性的方案。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种荧光定量分析装置,其特征在于,所述装置包括:激发光源、接收器、激发光滤光片和发射滤光片;/n所述激发光滤光片位于所述激发光源与所述被检测目标物的运动轨迹之间,且所述激发光源所发射的激发光的经过所述激发光滤光片;/n所述发射滤光片位于所述接收器与所述被检测目标物的运动轨迹之间,且所述接收器所接收的发射光经过所述发射滤光片;/n所述激发光源,用于响应于发射指令,发射激发光;/n所述接收器,用于接收所述被检测目标物发射的发射光,并根据所述发射光对所述被检测目标物中的荧光素进行定量分析。/n

【技术特征摘要】
1.一种荧光定量分析装置,其特征在于,所述装置包括:激发光源、接收器、激发光滤光片和发射滤光片;
所述激发光滤光片位于所述激发光源与所述被检测目标物的运动轨迹之间,且所述激发光源所发射的激发光的经过所述激发光滤光片;
所述发射滤光片位于所述接收器与所述被检测目标物的运动轨迹之间,且所述接收器所接收的发射光经过所述发射滤光片;
所述激发光源,用于响应于发射指令,发射激发光;
所述接收器,用于接收所述被检测目标物发射的发射光,并根据所述发射光对所述被检测目标物中的荧光素进行定量分析。


2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述激发光源所发射的激发光的运动方向与所述被检测目标物的运动轨迹相垂直;和/或,所述接收器所接收的发射光的运动方向与所述被检测目标物的运动轨迹相垂直。


3.根据权利要求1或2所述的装置,其特征在于,所述激发光源与所述接收器设置在被检测目标物的运动轨迹的同一侧,且所述激发光源所发射的激发光与所述接收器所接收的发射光为平行的两束光线;和/或,所述激发光源与所述接收器为平行设置。


4.根据权利要求1或2所述的装置,其特征在于,所述激发光滤光片和所述发射滤光片为平行设置。


5.根据权利要求1或2所述的装置,其特征在于,所述激发光源所发射的激发光的运动方向与所述接收器所接收的发射光的运动方向相反。


6.根据权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘萍崔凯超
申请(专利权)人:广州市鹏达智能科技有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

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