镜头状态的检测方法及装置、电子设备、存储介质制造方法及图纸

本申请实施例公开了一种镜头状态的检测方法及装置、电子设备、存储介质，该方法应用于电子设备，该电子设备包括摄像模组，以及与摄像模组可拆卸设置的凸透镜模组，该凸透镜模组用于使得待拍摄物体在摄像模组中的成像放大，该方法包括：获取摄像模组在电子设备装配凸透镜模组时采集的，被凸透镜模组放大的第一图像；获取摄像模组在电子设备未装配凸透镜模组时，采集的第二图像；根据第一图像和第二图像，确定出摄像模组的第一镜头状态，和凸透镜模组的第二镜头状态并输出。实施本申请实施例，能够确定出电子设备的成像模组的镜头状态。够确定出电子设备的成像模组的镜头状态。够确定出电子设备的成像模组的镜头状态。

【技术实现步骤摘要】
镜头状态的检测方法及装置、电子设备、存储介质


[0001]本申请涉及电子设备
，具体涉及一种镜头状态的检测方法及装置、电子设备、存储介质。

技术介绍

[0002]随着电子设备技术的快速发展，越来越多的电子设备内置有各种成像模组，以方便用户随时随地通过电子设备来进行拍摄。
[0003]在实践中发现，电子设备的成像模组在使用过程中，难免会沾上灰尘或者污渍，从而导致拍摄到图像存在污点。而且这些灰尘或者污渍通常较小，肉眼难以发现，所以如何确定成像模组的镜头状态成了亟需解决的问题。

技术实现思路

[0004]本申请实施例公开了一种镜头状态的检测方法及装置、电子设备、存储介质，能够确定出电子设备的成像模组的镜头状态。
[0005]本申请实施例第一方面公开一种镜头状态的检测方法，所述方法应用于电子设备，所述电子设备包括摄像模组，以及与所述摄像模组可拆卸设置的凸透镜模组，所述凸透镜模组用于使得待拍摄物体在所述摄像模组中的成像放大，所述方法包括：
[0006]获取所述摄像模组在所述电子设备装配所述凸透镜模组时采集的，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种镜头状态的检测方法，其特征在于，所述方法应用于电子设备，所述电子设备包括摄像模组，以及与所述摄像模组可拆卸设置的凸透镜模组，所述凸透镜模组用于使得待拍摄物体在所述摄像模组中的成像放大，所述方法包括：获取所述摄像模组在所述电子设备装配所述凸透镜模组时采集的，被所述凸透镜模组放大的第一图像；获取所述摄像模组在所述电子设备未装配所述凸透镜模组时，采集的第二图像；根据所述第一图像和所述第二图像，确定出所述摄像模组的第一镜头状态，和所述凸透镜模组的第二镜头状态；输出所述第一镜头状态和所述第二镜头状态。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一图像和所述第二图像，确定出所述摄像模组的第一镜头状态，和所述凸透镜模组的第二镜头状态，包括：提取所述第一图像的第一图像特征，并根据所述第一图像特征确定所述第一图像的第一污点信息；提取所述第二图像的第二图像特征，并根据所述第二图像特征确定所述第二图像的第二污点信息；根据所述第一污点信息和所述第二污点信息，确定所述摄像模组的第一镜头状态，和所述凸透镜模组的第二镜头状态。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一图像特征确定所述第一图像的第一污点信息，包括：若所述第一图像特征与污点图像特征相匹配，则确定所述第一图像中存在污点，以及若所述第一图像特征与污点图像特征不匹配，则确定所述第一图像中不存在污点；以及，所述根据所述第二图像特征确定所述第二图像的第二污点信息，包括：若所述第二图像特征与污点图像特征相匹配，则确定所述第二图像中存在污点，以及若所述第二图像特征与污点特征不匹配，则确定所述第二图像中不存在污点。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一污点信息和所述第二污点信息，确定所述摄像模组的第一镜头状态，和所述凸透镜模组的第二镜头状态，包括：若所述第一图像中不存在污点，且所述第二图像中不存在污点，则确定所述凸透镜模组的镜头和所述摄像模组的镜头都处于洁净状态；若所述第一图像中存在污点，且所述第二图像中不存在污点，则确定所述凸透镜模组的镜头处于污染状态，所述摄像模组的镜头处于洁净状态。5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一污点信息和所述第二污点信息，确定所述摄像模组的第一镜头状态，和所述凸透镜模组的第二镜...

【专利技术属性】
技术研发人员：李滨何，
申请(专利权)人：广东小天才科技有限公司，
类型：发明
国别省市：