一种图像解码性能测试方法及装置制造方法及图纸

技术编号:28745755 阅读:18 留言:0更新日期:2021-06-06 18:31
本发明专利技术实施例提供了一种图像解码性能测试方法及装置,涉及电子设备测试技术领域,应用于电子设备中的处理器,电子设备安装有用于进行图像解码的图像处理单元和内存,内存包括:输入缓冲区和输出缓冲区,上述方法包括:在图像处理单元处于运行状态、并以异步模式并行的对输入缓冲区中的图像进行图像解码的过程中,监测输出缓冲区是否存在图像。在监测到输出缓冲区中存在图像后,将输出缓冲区中的图像移出输出缓冲区。获得图像处理单元进行图像解码的累计时长,并获得向输出缓冲区输出解码后图像的累计数量。根据累计时长以及累计数量,获得电子设备的图像解码性能的测试结果。应用本发明专利技术实施例提供的方案能够测试电子设备的图像解码性能。图像解码性能。图像解码性能。

【技术实现步骤摘要】
一种图像解码性能测试方法及装置


[0001]本专利技术涉及电子设备测试
,特别是涉及一种图像解码性能测试方法及装置。

技术介绍

[0002]电子设备通过硬件的图像处理单元进行图像解码,被称为图像硬解码,例如,上述图像处理单元可以为:GPU(Graphics Processing Unit,图像处理器)、DSP(Digital Signal Processor,数字信号处理器)、ISP(Image Signal Processor,图像信号处理器)、FPGA(Field

Programmable Gate Array,现场可编程门阵列)、ASIC(Application Specific Integrated Circuit,专用集成电路)等。
[0003]不同图像处理单元的性能不同,使得安装不同图像处理单元的电子设备对图像进行硬解码的速度不同,为了使得用户能够直观的了解电子设备进行硬解码的性能,需要对电子设备的图像解码性能进行测试。

技术实现思路

[0004]本专利技术实施例的目的在于提供一种图像解码性能测试方法及装置,以测试电子设备的图像解码性能。具体技术方案如下:
[0005]第一方面,本专利技术实施例提供了一种图像解码性能测试方法,应用于电子设备中的处理器,所述电子设备安装有用于进行图像解码的图像处理单元和内存,所述内存包括:输入缓冲区和输出缓冲区,所述输入缓冲区用于存储所述图像处理单元待解码的图像,所述输出缓冲区用于存储所述图像处理单元解码后的图像,所述方法包括:
[0006]在所述图像处理单元处于运行状态、并以异步模式并行的对所述输入缓冲区中的图像进行图像解码的过程中,监测所述输出缓冲区是否存在图像;
[0007]在监测到所述输出缓冲区中存在图像后,将所述输出缓冲区中的图像移出所述输出缓冲区;
[0008]获得所述图像处理单元进行图像解码的累计时长,并获得向所述输出缓冲区输出解码后图像的累计数量;
[0009]根据所述累计时长以及累计数量,获得所述电子设备的图像解码性能的测试结果。
[0010]本专利技术的一个实施例中,所述获得所述图像处理单元进行图像解码的累计时长,包括:
[0011]检测所述图像处理单元第一次从所述输入缓冲区中获取图像的时刻,并开始计时;
[0012]检测所述图像处理单元最后一次向所述输出缓冲区写入解码后图像的时刻,并结束计时;
[0013]根据计时时长获得所述图像处理单元进行图像解码的累计时长。
[0014]本专利技术的一个实施例中,所述方法还包括:
[0015]在所述图像处理单元对所述输入缓冲区中的图像进行图像解码之前,从所述输入缓冲区中的图像中选择校验图像;
[0016]获得对所述校验图像进行解码得到的校验解码图像;
[0017]在所述获得所述电子设备的图像解码性能的测试结果之后,还包括:
[0018]根据所述校验解码图像与所述解码后图像间的对比结果,验证所述测试结果是否有效。
[0019]本专利技术的一个实施例中,在所述获得对所述校验图像进行解码得到的校验解码图像之后,还包括:
[0020]获得所述校验解码图像的校验值,作为第一校验值;
[0021]所述根据所述校验解码图像与所述解码后图像间的对比结果,验证所述测试结果是否有效,包括:
[0022]获得所述解码后图像的校验值,作为第二校验值;
[0023]检测所述第一校验值与第二校验值间的差异是否小于预设差异值;
[0024]若为是,确定所述测试结果有效。
[0025]本专利技术的一个实施例中,通过以下方式获得所述校验值;
[0026]从图像中选择用于进行校验值计算的目标像素点;
[0027]计算所选择的目标像素点的像素值的平均值;
[0028]获得包括各目标像素点的校验子值、且各校验子值按照预设顺序排列的校验值,其中,像素值大于等于所述平均值的目标像素点的校验子值为第一预设值,像素值小于所述平均值的目标像素点的校验子值为第二预设值,所述预设顺序为:预先设定的针对目标像素点位置的排列顺序。
[0029]第二方面,本专利技术实施例提供了一种图像解码性能测试装置,应用于电子设备中的处理器,所述电子设备安装有用于进行图像解码的图像处理单元和内存,所述内存包括:输入缓冲区和输出缓冲区,所述输入缓冲区用于存储所述图像处理单元待解码的图像,所述输出缓冲区用于存储所述图像处理单元解码后的图像,所述装置包括:
[0030]图像监测模块,用于在所述图像处理单元处于运行状态、并以异步模式并行的对所述输入缓冲区中的图像进行图像解码的过程中,监测所述输出缓冲区是否存在图像;
[0031]图像移出模块,用于在监测到所述输出缓冲区中存在图像后,将所述输出缓冲区中的图像移出所述输出缓冲区;
[0032]时长数量获得模块,用于获得所述图像处理单元进行图像解码的累计时长,并获得向所述输出缓冲区输出解码后图像的累计数量;
[0033]结果获得模块,用于根据所述累计时长以及累计数量,获得所述电子设备的图像解码性能的测试结果。
[0034]本专利技术的一个实施例中,所述时长数量获得模块,具体用于:
[0035]检测所述图像处理单元第一次从所述输入缓冲区中获取图像的时刻,并开始计时;
[0036]检测所述图像处理单元最后一次向所述输出缓冲区写入解码后图像的时刻,并结束计时;
[0037]根据计时时长获得所述图像处理单元进行图像解码的累计时长;
[0038]获得向所述输出缓冲区输出解码后图像的累计数量。
[0039]本专利技术的一个实施例中,所述装置还包括:
[0040]图像选择模块,用于在所述图像处理单元对所述输入缓冲区中的图像进行图像解码之前,从所述输入缓冲区中的图像中选择校验图像;
[0041]解码图像获得模块,用于获得对所述校验图像进行解码得到的校验解码图像;
[0042]结果验证模块,用于在所述结果获得模块获得所述测试结果之后,根据所述校验解码图像与所述解码后图像间的对比结果,验证所述测试结果是否有效。
[0043]本专利技术的一个实施例中,所述装置还包括:
[0044]校验值获得模块,用于在所述解码图像获得模块获得所述校验解码图像之后,获得所述校验解码图像的校验值,作为第一校验值;
[0045]所述结果验证模块,具体用于:
[0046]获得所述解码后图像的校验值,作为第二校验值;
[0047]检测所述第一校验值与第二校验值间的差异是否小于预设差异值;
[0048]若为是,确定所述测试结果有效。
[0049]本专利技术的一个实施例中,通过校验值确定模块获得所述校验值;
[0050]所述校验值确定模块,具体用于:
[0051]从图像中选择用于进行校验值计算的目标像素点;
[0052]计算所选择的目标像素点的像素值的平均本文档来自技高网
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种图像解码性能测试方法,其特征在于,应用于电子设备中的处理器,所述电子设备安装有用于进行图像解码的图像处理单元和内存,所述内存包括:输入缓冲区和输出缓冲区,所述输入缓冲区用于存储所述图像处理单元待解码的图像,所述输出缓冲区用于存储所述图像处理单元解码后的图像,所述方法包括:在所述图像处理单元处于运行状态、并以异步模式并行的对所述输入缓冲区中的图像进行图像解码的过程中,监测所述输出缓冲区是否存在图像;在监测到所述输出缓冲区中存在图像后,将所述输出缓冲区中的图像移出所述输出缓冲区;获得所述图像处理单元进行图像解码的累计时长,并获得向所述输出缓冲区输出解码后图像的累计数量;根据所述累计时长以及累计数量,获得所述电子设备的图像解码性能的测试结果。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获得所述图像处理单元进行图像解码的累计时长,包括:检测所述图像处理单元第一次从所述输入缓冲区中获取图像的时刻,并开始计时;检测所述图像处理单元最后一次向所述输出缓冲区写入解码后图像的时刻,并结束计时;根据计时时长获得所述图像处理单元进行图像解码的累计时长。3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:在所述图像处理单元对所述输入缓冲区中的图像进行图像解码之前,从所述输入缓冲区中的图像中选择校验图像;获得对所述校验图像进行解码得到的校验解码图像;在所述获得所述电子设备的图像解码性能的测试结果之后,还包括:根据所述校验解码图像与所述解码后图像间的对比结果,验证所述测试结果是否有效。4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,在所述获得对所述校验图像进行解码得到的校验解码图像之后,还包括:获得所述校验解码图像的校验值,作为第一校验值;所述根据所述校验解码图像与所述解码后图像间的对比结果,验证所述测试结果是否有效,包括:获得所述解码后图像的校验值,作为第二校验值;检测所述第一校验值与第二校验值间的差异是否小于预设差异值;若为是,确定所述测试结果有效。5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,通过以下方式获得所述校验值;从图像中选择用于进行校验值计算的目标像素点;计算所选择的目标像素点的像素值的平均值;获得包括各目标像素点的校验子值、且各校验子值按照预设顺序排列的校验值,其中,像素值大于等于所述平均值的目标像素点的校验子值为第一预设值,像素值小于所述平均值的目标像素...

【专利技术属性】
技术研发人员:于振北
申请(专利权)人:北京安兔兔科技有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1