一种运算性能测试方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供了一种运算性能测试方法、装置、电子设备及存储介质，通过生成随机数，对所生成的随机数进行判断，如果所生成的随机数为合数，则对该随机数进行分解处理，统计预设时长内完成分解处理的合数数量，基于该合数数量，确定运算性能测试结果。整数主要分为合数和质数，任何一个合数都可以被分解为多个质数的乘积，经过对随机生成的合数进行分解处理，并统计预设时长内完成分解处理的合数数量，能够测试出电子设备对合数进行分解处理的能力，即一段时长内能够对多少个合数完成分解处理，从而实现了对电子设备在整数运算方面的性能测试。

【技术实现步骤摘要】
一种运算性能测试方法、装置、电子设备及存储介质
本专利技术涉及计算机应用
，特别是涉及一种运算性能测试方法、装置、电子设备及存储介质。
技术介绍
随着科技的发展，手机、笔记本电脑、平板电脑等电子设备的功能日益强大。目前，各种应用软件的不断涌现，众多的程序、服务都对电子设备的运算性能提出了更高的要求。电子设备的运算性能越强，电子设备运行应用软件的速度就越快。目前，为了让用户更好的了解电子设备的运算性能，技术人员开发出了测评软件(也称为“跑分”软件)。这种测评软件在电子设备上运行时，可以通过一定的测试方法对电子设备的运算性能进行测试，并将测试结果告知用户，从而帮助用户了解电子设备的运算性能。当前的运算性能测试方法是对电子设备运行应用软件的性能进行测试，输出的是电子设备运行应用软件的性能测试结果，然而，电子设备在实际应用中，更主要的是进行数学运算，当前的运算性能测试方法无法衡量电子设备在数学运算，尤其是在整数运算方面的性能。
技术实现思路
本专利技术实施例的目的在于提供一种运算性能测试方法、装置、电子设备及存储介质，以实现对电子设备在整数运算方面的性能测试。具体技术方案如下：第一方面，本专利技术实施例提供了一种运算性能测试方法，该方法包括：生成随机数；若所生成的随机数为合数，则对该随机数进行分解处理；统计预设时长内完成分解处理的合数数量；基于合数数量，确定运算性能测试结果。可选的，生成随机数的步骤，包括：获取处理器性能参数；<br>根据处理器性能参数，确定随机种子及随机范围；基于随机种子，生成随机数；若所生成的随机数在随机范围内，则保留所生成的随机数。可选的，对该随机数进行分解处理的步骤，包括：以该随机数为搜索上限，遍历2至搜索上限之间的所有质数，如果当前质数可整除搜索上限，则确定当前质数为质数因子；将搜索上限除以当前质数的商值设置为更新的搜索上限，重新从2开始搜索质数因子，直至更新的搜索上限为1。可选的，在生成随机数的步骤之前，该方法还包括：在接收到测试开始指令时，启动计时器，并将计数器清零；统计预设时长内完成分解处理的合数数量的步骤，包括：在完成分解处理后，将计数器的数值累加1；若计时器的计时时长未达到预设时长，则返回执行生成随机数的步骤；若计时器的计时时长达到预设时长，则从计数器中读取出预设时长内完成分解处理的合数数量。可选的，基于合数数量，确定运算性能测试结果的步骤，包括：根据合数数量及预设时长，计算平均分解速度；基于平均分解速度，确定运算性能测试结果，其中，运算性能测试结果为测试评分，测试评分与平均分解速度成正比关系。可选的，在基于合数数量，确定运算性能测试结果的步骤之后，该方法还包括：将运算性能测试结果输出至测试界面。第二方面，本专利技术实施例提供了一种运算性能测试装置，该装置包括：生成模块，用于生成随机数；分解处理模块，用于若所生成的随机数为合数，则对该随机数进行分解处理；统计模块，用于统计预设时长内完成分解处理的合数数量；确定模块，用于基于合数数量，确定运算性能测试结果。可选的，生成模块，具体用于获取处理器性能参数；根据处理器性能参数，确定随机种子及随机范围；基于随机种子，生成随机数；若所生成的随机数在随机范围内，则保留所生成的随机数。可选的，分解处理模块，具体用于以该随机数为搜索上限，遍历2至搜索上限之间的所有质数，如果当前质数可整除搜索上限，则确定当前质数为质数因子；将搜索上限除以当前质数的商值设置为更新的搜索上限，重新从2开始搜索质数因子，直至更新的搜索上限为1。可选的，该装置还包括：启动模块，用于在接收到测试开始指令时，启动计时器，并将计数器清零；统计模块，具体用于在完成分解处理后，将计数器的数值累加1；若计时器的计时时长未达到预设时长，则返回执行生成随机数的步骤；若计时器的计时时长达到预设时长，则从计数器中读取出预设时长内完成分解处理的合数数量。可选的，确定模块，具体用于根据合数数量及预设时长，计算平均分解速度；基于平均分解速度，确定运算性能测试结果，其中，运算性能测试结果为测试评分，测试评分与平均分解速度成正比关系。可选的，该装置还包括：输出模块，用于将运算性能测试结果输出至测试界面。第三方面，本专利技术实施例提供了一种电子设备，包括处理器和存储器，其中，存储器，用于存放计算机程序；处理器，用于执行存储器上所存放的计算机程序时，实现本专利技术实施例第一方面所提供的方法。第四方面，本专利技术实施例提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质内存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现本专利技术实施例第一方面所提供的方法。第五方面，本专利技术实施例还提供了一种包含指令的计算机程序产品，当其在计算机上运行时，使得计算机执行本专利技术实施例第一方面所提供的方法。本专利技术实施例有益效果：本专利技术实施例提供的方案中，通过生成随机数，对所生成的随机数进行判断，如果所生成的随机数为合数，则对该随机数进行分解处理，统计预设时长内完成分解处理的合数数量，基于该合数数量，确定运算性能测试结果。整数主要分为合数和质数，任何一个合数都可以被分解为多个质数的乘积，经过对随机生成的合数进行分解处理，并统计预设时长内完成分解处理的合数数量，能够测试出电子设备对合数进行分解处理的能力，即一段时长内能够对多少个合数完成分解处理，从而实现了对电子设备在整数运算方面的性能测试。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的实施例。图1为本专利技术实施例的一种运算性能测试方法的流程示意图；图2为本专利技术实施例的另一种运算性能测试方法的流程示意图；图3为本专利技术实施例的再一种运算性能测试方法的流程示意图；图4为本专利技术实施例的又一种运算性能测试方法的流程示意图；图5为本专利技术实施例的运算性能测试装置的结构示意图；图6为本专利技术实施例的电子设备的结构示意图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。为了实现对电子设备在整数运算方面的性能测试，本专利技术实施例提供了一种运算性能测试方法、装置、电子设备及存储介质。下面，首先对本专利技术实施例所提供的运算性能测试方法进行介绍。本专利技术实施例所提供的运算性能测试方法的执行主体为：具本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种运算性能测试方法，其特征在于，所述方法包括：/n生成随机数；/n若所生成的随机数为合数，则对该随机数进行分解处理；/n统计预设时长内完成分解处理的合数数量；/n基于所述合数数量，确定运算性能测试结果。/n

【技术特征摘要】
1.一种运算性能测试方法，其特征在于，所述方法包括：
生成随机数；
若所生成的随机数为合数，则对该随机数进行分解处理；
统计预设时长内完成分解处理的合数数量；
基于所述合数数量，确定运算性能测试结果。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述生成随机数的步骤，包括：
获取处理器性能参数；
根据所述处理器性能参数，确定随机种子及随机范围；
基于所述随机种子，生成随机数；
若所生成的随机数在所述随机范围内，则保留所生成的随机数。


3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对该随机数进行分解处理的步骤，包括：
以该随机数为搜索上限，遍历2至所述搜索上限之间的所有质数，如果当前质数可整除所述搜索上限，则确定所述当前质数为质数因子；
将所述搜索上限除以所述当前质数的商值设置为更新的搜索上限，重新从2开始搜索质数因子，直至更新的搜索上限为1。


4.根据权利要求1或3所述的方法，其特征在于，在所述生成随机数的步骤之前，所述方法还包括：
在接收到测试开始指令时，启动计时器，并将计数器清零；
所述统计预设时长内完成分解处理的合数数量的步骤，包括：
在完成分解处理后，将所述计数器的数值累加1；
若所述计时器的计时时长未达到预设时长，则返回执行所述生成随机数的步骤；
若所述计时器的计时时长达到所述预设时长，则从所述计数器中读取出所述预设时长内完成分解处理的合数数量。


5.根据权利要求1所述的方...

【专利技术属性】
技术研发人员：闫亚闯，
申请(专利权)人：北京安兔兔科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11