一种激光三维焦平面读出电路制造技术

本发明专利技术公开了一种激光三维焦平面读出电路，包括光电探测器、脉冲检测电路、时间幅值转换电路与强度信息积分电路。光电探测器产生光电流，脉冲检测电路的输出信号控制时间幅值转换电路中的采样开关，时间幅值转换电路对外部斜坡信号采样得到时间幅值信号，光电流完全积分的幅值信号为强度信号。该结构实现对时间信号与强度信号的同时读出，与含有比较器的时刻鉴别电路结构相比，该结构具有低功耗、版图面积小的优点。积小的优点。积小的优点。

【技术实现步骤摘要】
一种激光三维焦平面读出电路


[0001]本专利技术属于激光三维成像
，具体涉及一种激光三维焦平面读出电路。

技术介绍

[0002]激光三维成像焦平面阵列技术预计在车载三维测量系统、无人机航测系统等领域中有着广阔的应用前景。线性模式APD的激光三维成像焦平面阵列读出电路，相比盖格模式探测器具有以下优势:具有多目标探测能力，对遮蔽目标有更好探测能力，可获取回波信号强度。
[0003]因此对于线性模式APD的激光三维成像焦平面阵列读出电路，需要同时读出时间信号与强度信号，同时对低功耗提出要求；然而现有的线性模式APD的激光三维成像焦平面阵列读出电路采用含有比较器的时刻鉴别电路结构，存在功耗大、体积大等缺点。

技术实现思路

[0004]本专利技术提出了一种激光三维焦平面读出电路，能够在同时读出时间信号与强度信号的同时满足低功耗的要求，提高了电路的整体性能。
[0005]本专利技术通过下述技术方案实现：
[0006]一种激光三维焦平面读出电路，本专利技术的电路包括光电探测器、脉冲检测电路、时间幅值转换电路和强本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种激光三维焦平面读出电路，其特征在于，该电路包括光电探测器(1)、脉冲检测电路(2)、时间幅值转换电路(3)和强度信息积分电路(4)；所述光电探测器(1)产生光电流；所述光电探测器(1)的输出端与所述脉冲检测电路(2)的选择开关S1连接；所述脉冲检测电路(2)输出信号Q控制所述选择开关S1选择将所述光电探测器(1)输出的光电流信号输入到所述脉冲检测电路(2)或输入到所述强度信息积分电路(4)；所述脉冲检测电路(2)输出的信号Q还用于控制所述时间幅值转换电路(3)的采样开关S2使得所述时间幅值转换电路(3)输入外部斜坡信号ramp进行采样并保持，并输出时间幅值信号V
out_3D
；所述强度信息积分电路(4)与所述脉冲检测电路(2)的选择开关S1选择输出端连接，对光电流完全积分，输出强度幅值信号V
out_2D
。2.根据权利要求1所述的一种激光三维焦平面读出电路，其特征在于，所述光电探测器(1)用于接收光脉冲信号并将其转换为电流信号；所述光电探测器(1)采用MOS管mp0传输电流信号；所述MOS管mp0的栅极接偏压Vdi，所述MOS管mp0的源极输入电流信号，所述MOS管mp0的漏极与所述脉冲检测电路的选择开关S1连接。3.根据权利要求1所述的一种激光三维焦平面读出电路，其特征在于，所述脉冲检测电路(2)包括选择开关S1、MOS管等效电容C
mos
和控制电路；所述选择开关S1的输入为所述光电探测器(1)输出的电流信号；所述选择开关S1的输出连接所述MOS管等效电容C
mos
和所述强度信息积分电路(4)的积分电容C
2D
；所述选择开关S1输出的选择由所述控制电路输出信号Q的电平控制；所述MOS管等效电容C
mos
用于检测所述光电探测器(1)输出的电流信号并为所述控制电路提供输入电平。4.根据权利要求3所述的一种激光三维焦平面读出电路，其特征在于，所述控制电路包括MOS管mp1、MOS管mp2、MOS管mn1和MOS管mn2；所述MOS管mp1的源极接电源，所述MOS管mp1的漏极与所述MOS管mp2的源极连接，所述MOS管mp1的栅极接控制信号pbias；所述MOS管mp2的漏极与所述MOS管mn1的漏极连接，所述MOS管mp2的栅极、所述MOS管mn1的栅极均与所述MOS管等效电容C
mos
连接；所述MOS管mn1的源极与所述MOS管mn2的漏极连接；所述MOS管mn2的源极接地，所述MOS管mn2的栅...

【专利技术属性】
技术研发人员：何少伟，鲁竞原，王振坤，李国栋，吕坚，
申请(专利权)人：电子科技大学，
类型：发明
国别省市：