X射线相位成像装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种X射线相位成像装置。该X射线相位成像装置具备图像处理部，该图像处理部基于在相位对比度图像中沿着从X射线的光轴方向看来与平移方向正交的正交方向产生的渐变的分布状态，来校正该渐变。

【技术实现步骤摘要】
X射线相位成像装置
本专利技术涉及一种X射线相位成像装置。
技术介绍
以往，已知一种一边使被摄体与摄像系统相对地平移一边拍摄被摄体的X射线相位成像装置。这种装置例如在日本特开2017-44603号公报中被公开。在上述日本特开2017-44603号公报中公开了一种用于拍摄试样(被摄体)的放射线检查装置(X射线相位成像装置)，其具备射线源部、光栅组、检测部、搬送部以及图像生成部。该放射线检查装置构成为：一边通过搬送部使试样相对于射线源部、光栅组以及检测部(摄像系统)平移一边拍摄试样。另外，该放射线检查装置构成为：通过图像生成部，基于一边通过搬送部使试样相对于射线源部、光栅组以及检测部平移一边获取到的多个强度分布图像来生成放射线图像(相位对比度图像)。在此，虽然在上述日本特开2017-44603号公报中没有明确记载，但本申请专利技术人得到以下新的发现：在如上述日本特开2017-44603号公报中记载的放射线检查装置那样基于一边使被摄体与摄像系统相对地平移一边获取到的多个图像来生成相位对比度图像的情况下，在相位对比度图像中沿着从X射线的光轴方向看来与平移方向正交的方向产生渐变(色调、明暗等的阶段性变化)，因此存在难以看到相位对比度图像这样的问题(课题)。
技术实现思路
本专利技术是为了解决本申请专利技术人新发现的如上所述的课题而完成的，本专利技术的一个目的在于提供一种能够抑制由于在相位对比度图像中产生的渐变而难以看到相位对比度图像的情况X射线相位成像装置。为了实现上述目的，本专利技术的一个方面的X射线相位成像装置具备：X射线源；检测器，其检测从X射线源照射出的X射线；多个光栅，所述多个光栅配置在X射线源与检测器之间；移动机构，其使被摄体与摄像系统相对地平移，该摄像系统由X射线源、检测器以及多个光栅构成；以及图像处理部，其基于一边通过移动机构使被摄体与摄像系统相对地平移一边获取到的多个图像来生成相位对比度图像，并且基于沿着从X射线的光轴方向看来与平移方向正交的正交方向产生的渐变的分布状态来校正该渐变。根据本专利技术，如上所述，基于一边通过移动机构使被摄体与摄像系统相对地平移一边获取到的多个图像来生成相位对比度图像，并且基于在相位对比度图像中沿着从X射线的光轴方向看来与平移方向正交的正交方向产生的渐变的分布状态来校正该渐变。由此，能够去除在相位对比度图像中沿着从X射线的光轴方向看来与平移方向正交的正交方向产生的渐变，因此能够抑制由于在相位对比度图像中产生的渐变而难以看到相位对比度图像的情况。附图说明图1是示出一个实施方式的X射线相位成像装置的整体结构的示意图。图2是用于说明一个实施方式的X射线相位成像装置中的多个光栅的配置和构造的示意图。图3是用于说明一个实施方式的光栅位置调整机构的结构的示意图。图4是示出一个实施方式的X射线相位成像装置获取的多个图像的示意图。图5是用于说明获取一个实施方式的X射线相位成像装置所获取的莫尔条纹的相位信息的结构的示意图。图6是示出一个实施方式的将多个图像的各像素的各相位值与各像素值以一对一的关系进行对应所得到的强度信号曲线的示意图。图7是示出一个实施方式的图像处理部生成的相位对比度图像的示意图。图8是用于说明在一个实施方式的图像处理部生成的相位对比度图像中产生的渐变的示意图。图9是用于说明一个实施方式的图像处理部获取的相位对比度图像的像素值的分布的示意图。图10是用于说明一个实施方式的图像处理部生成的相位对比度图像的校正对应图的示意图。图11是用于说明一个实施方式的图像处理部通过校正对应图来校正相位对比度图像的结构的示意图。图12是用于说明一个实施方式的图像处理部进行校正后的相位对比度图像的示意图。图13是用于说明在将一个实施方式的图像处理部生成的多个相位对比度图像接合而成的相位对比度图像中产生的渐变的示意图。图14是用于说明将一个实施方式的图像处理部获取的多个相位对比度图像接合而成的相位对比度图像的像素值的分布的示意图。图15是用于说明将一个实施方式的图像处理部生成的多个相位对比度图像接合而成的相位对比度图像的校正对应图的示意图。图16是用于说明一个实施方式的图像处理部通过校正对应图对将多个相位对比度图像接合而成的相位对比度图像进行校正的结构的示意图。图17是用于说明一个实施方式的将图像处理部进行校正后的多个相位对比度图像接合而成的相位对比度图像的示意图。图18是示出实际的相位对比度图像的一例的图，并且是示出实际的相位对比度图像的像素值的分布的一例的图。图19是示出图18所示的相位对比度图像的校正对应图的图。图20是示出通过图19所示的校正对应图对图18所示的相位对比度图像进行校正后的相位对比度图像的图。图21是用于说明一个实施方式的X射线相位成像装置的相位对比度图像生成处理的流程图。图22是用于说明一个实施方式的变形例的X射线相位成像装置的结构的示意图。具体实施方式下面，基于附图来说明将本专利技术具体化的实施方式。参照图1～图17来说明本专利技术的一个实施方式的X射线相位成像装置100的结构。(X射线相位成像装置的结构)首先，参照图1来说明本实施方式的X射线相位成像装置100的结构。如图1所示，X射线相位成像装置100是利用泰伯(Talbot)效应将被摄体200的内部进行图像化的装置。X射线相位成像装置100例如能够在无损检查用途中使用于将作为物体的被摄体200的内部进行图像化。图1是从Y方向观察X射线相位成像装置100得到的示意图。如图1所示，X射线相位成像装置100具备X射线源1、多个(三个)光栅2～4、检测器5、图像处理部6、控制部7、移动机构8以及光栅移动机构9。此外，在本说明书中，将与X射线的光轴方向平行的方向设为Z方向，将Z方向中的从X射线源1朝向检测器5的方向设为Z2方向，将其相反方向设为Z1方向。另外，将与Z方向正交的面内的上下方向设为X方向，将X方向中的上方向设为X1方向，将下方向设为X2方向。另外，将与Z方向正交的面内的左右方向设为Y方向，将Y方向中的朝向图1的纸面的里侧的方向设为Y2方向，将朝向图1的纸面的近前侧的方向设为Y1方向。X射线源1构成为通过被施加高电压而产生X射线。X射线源1构成为朝向Z2方向照射所产生的X射线。光栅2配置在X射线源1与光栅3之间，被照射来自X射线源1的X射线。设置光栅2，以通过泰伯效应来形成光栅2的自身像。当具有相干性的X射线通过形成有狭缝的光栅时，在与光栅分离规定距离(泰伯距离)的位置处形成光栅的像(自身像)。这被称为泰伯效应。光栅3配置在光栅2与检测器5之间，被照射通过光栅2后的X射线。另外，光栅3配置在与光栅2分离泰伯距离的位置。光栅3与光栅2的自身像发生干涉而形成莫尔条纹30(参照图4)。光栅4配置在X射线源1与光栅2之间，被照射来自X射线源1的X射线。检测器本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种X射线相位成像装置，具备：/nX射线源；/n检测器，其检测从所述X射线源照射出的X射线；/n多个光栅，所述多个光栅配置在所述X射线源与所述检测器之间；/n移动机构，其使被摄体与摄像系统相对地平移，所述摄像系统由所述X射线源、所述检测器以及所述多个光栅构成；以及/n图像处理部，其基于一边通过所述移动机构使所述被摄体与所述摄像系统相对地平移一边获取到的多个图像来生成相位对比度图像，并且基于在所述相位对比度图像中沿着从所述X射线的光轴方向看来与平移方向正交的正交方向产生的渐变的分布状态来校正所述渐变。/n

【技术特征摘要】
20191129 JP 2019-2167501.一种X射线相位成像装置，具备：
X射线源；
检测器，其检测从所述X射线源照射出的X射线；
多个光栅，所述多个光栅配置在所述X射线源与所述检测器之间；
移动机构，其使被摄体与摄像系统相对地平移，所述摄像系统由所述X射线源、所述检测器以及所述多个光栅构成；以及
图像处理部，其基于一边通过所述移动机构使所述被摄体与所述摄像系统相对地平移一边获取到的多个图像来生成相位对比度图像，并且基于在所述相位对比度图像中沿着从所述X射线的光轴方向看来与平移方向正交的正交方向产生的渐变的分布状态来校正所述渐变。


2.根据权利要求1所述的X射线相位成像装置，其特征在于，
所述图像处理部构成为：基于所述相位对比度图像的沿着所述正交方向的像素值的分布，来校正所述渐变。


3.根据权利要求2所述的X射线相位成像装置，其特征在于，
所述图像处理部构成为：基于所述相位对比度图像的从所述正交方向上的一端部到另一端部的所述像素值的分布，来校正所述渐变。


4.根据权利要求2所述的X射线相位成像装置，其特征在于，
所述图像处理部构成为：基于所述相位对比度图像的不存在所述被摄体的区域的所述像素值的分布，来校正所述渐变。


5.根据权利要求4所述的X射线相位成像装置，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：佐野哲，田边晃一，和田幸久，德田敏，堀场日明，森本直树，
申请(专利权)人：株式会社岛津制作所，
类型：发明
国别省市：日本;JP