【技术实现步骤摘要】
一种可保护探头的集成电路测试仪
本技术涉及集成电路测试仪
，具体为一种可保护探头的集成电路测试仪。
技术介绍
集成电路测试仪是对集成电路进行测试的专用仪器设备，集成电路测试是保证集成电路性能和质量的关键手段之一，集成电路测试技术是发展集成电路产业的三大支撑技术之一，因此，集成电路测试仪作为一个测试门类受到很多国家的高度重视。本申请人发现现有技术中至少存在以下技术问题：现有的集成电路测试仪不具备探头保护的能力，在出现碰撞和掉落时，容易造成其损坏，降低了探头的使用寿命，无法满足人们的使用需求，为此，我们提出一种可保护探头的集成电路测试仪。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种可保护探头的集成电路测试仪，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种可保护探头的集成电路测试仪，包括测试仪本体和探头本体，所述测试仪本体右侧的上端固定连接有放置槽，所述放置槽内腔的前后两端均固定连接有弹性卡板，所述弹性卡板的内表面开设有弹性卡槽，所述探头本体一端的外表面固定连接有外螺...
【技术保护点】
1.一种可保护探头的集成电路测试仪，包括测试仪本体（1）和探头本体（6），其特征在于：所述测试仪本体（1）右侧的上端固定连接有放置槽（2），所述放置槽（2）内腔的前后两端均固定连接有弹性卡板（9），所述弹性卡板（9）的内表面开设有弹性卡槽（10），所述探头本体（6）一端的外表面固定连接有外螺纹块（11），所述外螺纹块（11）的外表面螺纹连接有内螺纹护套（12），所述内螺纹护套（12）的外表面通过聚氨酯胶粘接有防护胶套（7）。/n
【技术特征摘要】
1.一种可保护探头的集成电路测试仪，包括测试仪本体（1）和探头本体（6），其特征在于：所述测试仪本体（1）右侧的上端固定连接有放置槽（2），所述放置槽（2）内腔的前后两端均固定连接有弹性卡板（9），所述弹性卡板（9）的内表面开设有弹性卡槽（10），所述探头本体（6）一端的外表面固定连接有外螺纹块（11），所述外螺纹块（11）的外表面螺纹连接有内螺纹护套（12），所述内螺纹护套（12）的外表面通过聚氨酯胶粘接有防护胶套（7）。
2.根据权利要求1所述的一种可保护探头的集成电路测试仪，其特征在于：所述放置槽（2）的前侧开设有卡线槽孔（3），所述卡线槽孔（3）的...
【专利技术属性】
技术研发人员：薛莱，
申请(专利权)人：西安市泰润电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：陕西;61
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