基于凸包分割的三角环标志符高精度检测定位算法制造技术

本发明专利技术提供了一种基于凸包分割的三角环标志符高精度检测定位算法，基于凸包分割生成三角环标志符图像外环的轮廓段集合；对轮廓段分别进行直线拟合及聚类，得到外环三条边的有效点集；构建偏离值直方图，剔除干扰像素点，获取用于拟合的原型边点集；基于最小距离直线拟合，高精度重构三角环外环直线边，求得外环的精确几何中心。类似地，获得内环的精确几何中心，通过数学平均求得三角环标志符的精确几何中心坐标，实现高精度检测定位。

【技术实现步骤摘要】
基于凸包分割的三角环标志符高精度检测定位算法
本专利技术涉及一种图像检测定位技术，尤其是面向三角环标志符的检测定位技术。
技术介绍
随着科学技术的不断发展，许多电子产品向小型化、轻便化、多功能化发展，这一发展趋势使得电子元器件尺寸越来越小，相应地对电子产品中电路板的集成度要求越来越高，电路板制造行业中，基于机器视觉的高精度检测定位技术的优势和重要性愈发凸显。在集成电路表面贴装设备中，标准工业标志符通常印制在印刷电路板和钢网模板上，通过对其几何中心进行检测定位，获得印刷电路板和钢网模板的空间位置信息，用于控制锡膏印刷装置的运动位置，因此标志符的定位精度对锡膏印刷的良品率将产生直接影响，是至关重要的指标。已有的标志符检测定位研究绝大多数针对圆形标志符，面向矩形、三角形、三角环等形状标志符的检测定位算法很少且复杂度较高，不能满足需求。常见的三角环中心检测法为重心法、模板匹配算法和基于边检测的算法等。重心法对三角环标志符进行图像分割后，求取三角环的重心，虽然检测速度快，但对图像质量要求高，而精度不高。模板匹配算法根据滑动窗口内的像素灰度特征或检本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于凸包分割的三角环标志符高精度检测定位算法，其特征在于，包括以下步骤：/n步骤一，对获取的原始图像I

【技术特征摘要】
1.一种基于凸包分割的三角环标志符高精度检测定位算法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤一，对获取的原始图像Io进行图像预处理，得到二值图像Ib＝f(x,y)，图像中1为背景像素，0为标志符图像；对二值图像进行边缘提取，获取三角环标志符的初始轮廓集T＝{Tk|k＝1,2}，式中，k＝1表示三角环标志符的外轮廓，k＝2表示三角环标志符的内轮廓；
步骤二，提取三角环标志符外环轮廓的凸点集合，利用凸点集合对外环轮廓进行分割，获得外环轮廓的轮廓段集合D；
步骤三，对集合D中的轮廓段进行基于距离的直线拟合，依据斜率特征，对拟合直线进行聚类，从而实现对应轮廓段的分类，得到三角环标志符外环三条边的三个有效点集S1、S2和S3；
步骤四，构建偏离值直方图，对外环三条边的有效点集S1、S2和S3进一步优化，去除凹凸和毛刺，获得用于直线拟合的原型边点集Sa、Sb和Sc；
步骤五，利用原型边点集Sa、Sb和Sc对三角环外环三条边分别进行最小距离直线拟合，得到三条边的拟合直线方程；三边直线方程两两相交，计算获得标志符三个拟合顶点的坐标A(xA，yB)、B(xB，yB)和C(xC，yC)，标志符外环的精确几何中心点坐标O1(X1，Y1)为
重复上述步骤二至五，对三角环标志符的内环进行处理，获得内环的精确几何中心O2(X2，Y2)；由内环和外环的几何中心坐标确定三角环标志符的精确几何中心坐标Oc(Xc，Yc)为


2.根据权利要求1所述的基于凸包分割的三角环标志符高精度检测定位算法，其特征在于，所述的步骤二在外环轮廓上的所有点中，寻找纵坐标y最小的点C0(x0,y0)，其余点记为Pi(xi,yi)，i为[1,Q-1]区间的整数，Q为外环轮廓上点的总数量；计算Pi与C0点的连线与x轴之间的幅角α，依照幅角α从小到大的顺序对各个点进行排序，当α相同时，距离点C0更近的点优先排序，即为P1,P2,P3,...,PQ-1；将点C0和P1放入外环轮廓凸点集合C中，从点P2(x2,y2)开始遍历，若当前遍历点Pi(xi,yi)与Clen(xlen,ylen)、Clen-1(xlen-1,ylen-1)满足(xlen-xlen-1)·(yi-ylen-1)-(ylen-ylen-1)·(xi-xlen-1)≥0，len为集合C中点的数目，则将点Pi放入凸点集合C中，len值加1；否则...

【专利技术属性】
技术研发人员：齐敏，陈延硕，程恭，许悦雷，李齐德，汤磊，王雅楠，谈欢，
申请(专利权)人：西北工业大学，
类型：发明
国别省市：陕西;61