杂光检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质制造方法及图纸

本申请提供一种杂光检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质。所述杂光检测方法包括以下步骤：获取摄像模组在遮光处理后拍摄的图片，其中所述摄像模组内设有发光件；选取所述图片中的采样区域；基于所述发光件的不同发光状态分别测试所述采样区域的感度值；基于所述采样区域的所述感度值判断所述采样区域是否存在杂光；基于所述采样区域的杂光分布状况及相应位置判断杂光的产生位置。上述的杂光检测方法可确认采样区域是否存在杂光，进而基于采样区域的杂光分布状况及相应位置确认杂光的位置和路径，此方法检测效率高、检测准确率高，且操作简单。

【技术实现步骤摘要】
杂光检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质
本申请涉及摄像模组检测
，具体涉及一种杂光检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质。
技术介绍
随着数码设备的各种转换方式的发展，现在已经出现了很多类别的镜头组装体。目前，变焦镜头需要驱动马达驱动镜片沿光轴移动实现变焦，为了检测将驱动马达驱动后的镜片的位置，现有技术中通过OpticalSensor(传感器，例如光栅)进行感测。在实现本申请过程中，专利技术人发现现有技术中至少存在如下问题：光学传感器(OpticalSensor)例如光栅在使用过程中需要使用红外线光源，红外线光源照射到镜筒内的镜片上时会进行多次反射，从而在成像时产生眩光问题；而现有的通过外部光源确认眩光形状，并以此分析内部反射位置和路径的方式无法分析内部的微小光源导致的内部反射。
技术实现思路
鉴于以上问题，本申请提出一种杂光检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质，以解决上述问题。本申请第一方面提供一种杂光检测方法，包括以下步骤：获取摄像模组在遮光处理后拍摄的图片，其中所述本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种杂光检测方法，其特征在于，包括以下步骤：/n获取摄像模组在遮光处理后拍摄的图片，其中所述摄像模组内设有发光件；/n选取所述图片中的采样区域；/n基于所述发光件的不同发光状态分别测试所述采样区域的感度值；/n基于所述采样区域的所述感度值判断所述采样区域是否存在杂光；/n基于所述采样区域的杂光分布状况及相应位置判断杂光的产生位置。/n

【技术特征摘要】
1.一种杂光检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
获取摄像模组在遮光处理后拍摄的图片，其中所述摄像模组内设有发光件；
选取所述图片中的采样区域；
基于所述发光件的不同发光状态分别测试所述采样区域的感度值；
基于所述采样区域的所述感度值判断所述采样区域是否存在杂光；
基于所述采样区域的杂光分布状况及相应位置判断杂光的产生位置。


2.如权利要求1所述的杂光检测方法，其特征在于，所述获取摄像模组在遮光处理后拍摄的图片的步骤包括：
控制所述摄像模组内部的镜片沿光轴移动至不同位置并在相应位置拍摄一组第一图片；
获取所述摄像模组所拍摄的第一图片。


3.如权利要求1所述的杂光检测方法，其特征在于，所述获取摄像模组在遮光处理后拍摄的图片的步骤包括：
控制所述摄像模组内部的镜片沿光轴移动至不同位置并在相应位置分别拍摄多个第一图片；
筛选每一位置的所述第一图片，以获得具有最高分辨率的第二图片；
获取所述摄像模组在不同位置拍摄的第二图片。


4.如权利要求1所述的杂光检测方法，其特征在于，所述采样区域包括多个面积相等的采样区，其中一个所述采样区处于所述图片的中心，其他的所述采样区围绕处于所述图片的中心的所述采样区设置。


5.如权利要求1所述的杂光检测方法，其特征在于，所述发光件包括第一发光部，所述基于所述发光件的不同发光状态分别测试所述采样区域的感度值的步骤包括：
基于所述第一发光部的发光状态和不发光状态分别测试所述采样区域的感度值，以相应获得第一发光感度值和第一不发光感度值。


6.如权利要求5所述的杂光检测方法，其特征在于，所述发光件还包括第二发光部，所述基于所述发光件的不同发光状态分别测试所述采样区域的感度值的步骤进一步包括：
基于所述第二发光部的发光状态和不发光状态分别测试所述采样区域的感度值，以相应获得第二发光感度值和第二不发光感度值，所述第二发光感度值包括第一发...

【专利技术属性】
技术研发人员：文逸春，
申请(专利权)人：南昌欧菲光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：江西;36