【技术实现步骤摘要】
一种IGBT模块高温反偏实验系统
本专利技术涉及一种IGBT模块高温反偏实验系统。
技术介绍
为保证器件的可靠性，在器件出厂前都会采用一系列可靠性试验进行考核、筛选。针对器件不同的使用环境，采用的可靠性试验的种类、条件也会有差异。对于高压器件来说，HTRB试验是器件出厂前必做的试验之一。根据国际电工委员会(IEC)的标准，该试验的条件为：试验过程中结温优选器件所能承受的最高结温，施加的电压优选最大反偏电压的80％，考核时长根据器件不同的应用环境而不同，在电力系统中的应用一般要达到1000h。器件内部仅有很小的反向漏电流通过，几乎不消耗功率。该试验对剔除具有表面效应缺陷的早期失效器件特别有效，这些器件的失效与时间和应力有关，如未经此试验，这些器件在正常的使用条件下会发生早期失效。该试验还能揭示与时间和应力有关的电气失效模式。但是IGBT模块的高温反偏试验更希望通过采用以实际壳温的方式，如果放到试验箱环境下试验箱的温度本身存在误差，再加上高温高压下有漏电流的存在，器件实际壳温和结温不受控制，不利于判断具体的失效原因。
【技术保护点】
1.一种IGBT模块高温反偏实验系统，包括反偏实验装置和上位机软件，上位机软件集成在工业控制计算机中，工业控制计算机安装在反偏实验装置上，反偏实验系统依据上位机软件运行并通过反偏实验装置来执行，其特征在于：反偏试验系统采用加热盘控制壳温，并且实时监控上桥和下桥的漏电，所述加热盘上装有两个温度传感器，温度传感器采用高精度、高温屏蔽铂热电阻PT100，工作时，上位机软件基于增量式PID并结合实际温度模型实现定值加热控制，利用分段加热模式，以满足定值加热下的过冲要求，所述反偏实验装置包括机箱一、机箱二、设置在机箱一上的显示屏、键盘鼠标放置台、电源及设置在机箱二上的实验单元箱，所述...
【技术特征摘要】
1.一种IGBT模块高温反偏实验系统，包括反偏实验装置和上位机软件，上位机软件集成在工业控制计算机中，工业控制计算机安装在反偏实验装置上，反偏实验系统依据上位机软件运行并通过反偏实验装置来执行，其特征在于：反偏试验系统采用加热盘控制壳温，并且实时监控上桥和下桥的漏电，所述加热盘上装有两个温度传感器，温度传感器采用高精度、高温屏蔽铂热电阻PT100，工作时，上位机软件基于增量式PID并结合实际温度模型实现定值加热控制，利用分段加热模式，以满足定值加热下的过冲要求，所述反偏实验装置包括机箱一、机箱二、设置在机箱一上的显示屏、键盘鼠标放置台、电源及设置在机箱二上的实验单元箱，所述机箱二为两个，并分别设置在机箱一的两侧，所述实验单元箱为八个，四个为一组设置在机箱二上，所述实验单元箱的内部设有底板，底板的两侧设有导轨，加热盘固定在底板上，所述实验单元箱的内部设有夹具，所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：胡久恒，代凯旋，胡久旺，安浙文，
申请(专利权)人：杭州高坤电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33
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