【技术实现步骤摘要】
一种改标的密封元器件可靠性评价方法
本申请涉及军用元器件可靠性分析
更具体地，涉及一种改标的密封元器件可靠性评价方法。
技术介绍
电子元器件作为装备的核心和基础，其质量的高低直接影响着装备系统的可靠性。与国外相比，我国的元器件设计、生产和工艺水平方面还存在一定的差距，导致DSP、FPGA等高端核心元器件仍严重依赖于国外进口。由于军用装备对质量一致性和稳定性的高要求，一般要求采购采购相同型号的元器件时，其生产批次也相同。然而，进口元器件受停产、断档、禁运等因素影响，很难采购到较大数量的同型号同批次器件。在巨大的经济利益驱动下，部分供应商会利用更改元器件外观标识的方法，把相同型号不同生产批次的元器件改成相同批次的(如图1所示)，然后供货给军用装备研制单位。对于密封器件，更改外观标识的程序一般是先把原厂的标识打磨掉，然后对打磨过的表面进行喷漆涂覆，再喷印新的标识，最后修整清洗。在这过程中，可能会造成元器件外部封装缺损或开裂、引脚损伤、密封区损伤、键合和芯片损伤等危害，影响元器件的可靠性。目前针对改标的元器件，用户方...
【技术保护点】
1.一种改标的密封元器件可靠性评价方法，其特征在于，所述方法包括：/nS10、对待测元器件进行质量一致性检验，剔除不合格元器件，其中，所述待测元器件数量为N，所述不合格元器件的数量为M；/nS20、判断质量一致性检验的PDA值是否小于30％，若是，执行S30；若否，检验合格的器件不可用，不再进行可靠性评价试验，其中，所述PDA＝M/N；/nS30、检验合格的元器件进行可靠性评价试验，按照预定标准评价可靠性。/n
【技术特征摘要】
1.一种改标的密封元器件可靠性评价方法，其特征在于，所述方法包括：
S10、对待测元器件进行质量一致性检验，剔除不合格元器件，其中，所述待测元器件数量为N，所述不合格元器件的数量为M；
S20、判断质量一致性检验的PDA值是否小于30％，若是，执行S30；若否，检验合格的器件不可用，不再进行可靠性评价试验，其中，所述PDA＝M/N；
S30、检验合格的元器件进行可靠性评价试验，按照预定标准评价可靠性。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述S10包括：
S100、外观检查，用于检查所述待测元器件外观是否符合第一预定不合格标准，若是，剔除第一不合格元器件；若否，执行S102；
S102、X射线检查，用于检查剩余外观检查合格的元器件是否符合第二预定不合格标准，若是，剔除第二不合格元器件；若否，执行S104；
S104、电测试，用于验证剩余X射线检查合格的元器件功能是否完好，若是，执行S106；若否，剔除第三不合格元器件；
S106、密封性检查，用于检查剩余电测试合格的元器件的密封区是否符合第三预定不合格标准，若是，剔除第四不合格元器件；若否，所述质量一致性检验完成，
其中，所述第一不合格元器件、第二不合格元器件、第三不合格元器件和第四不合格元器件的数量和为M，所述检验合格的元器件数量为N-M。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，
所述第一预定不合格标准为国军标GJB548B-2005方法2009.1条款3.3.2～3.3.7中的任何一种情况；
所述第二预定不合格标准为国军标GJB548B-2005方法2012.1条款3.10.2.2或3.11.2.2中的任何一种情况；
所述第三预定不合格标准为国军标GJB548B-2005方法1014.2条款中的任何一种情况。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述S30包括：
S300、在所述检验合格的元器件中，按照“最坏情况条件”原则，选取4只质量相对较差的器件平均分成第一分组和第二分组，每组的数量均为2只，进行可靠性评价试验；
S302、对所述第一分组进行引线牢固性检查、密封性检查、内部目检和钝化层完整性检查；
S304、对所述第二分组进行可焊性试验、内部目检、键合强度试验、剪切强度试验和钝化层完整性检查；
S306、判断所述第一分组和第二分组的试验是否全部合格，若是，则可靠性评价试验合格；若否，则可靠性评价试验不合格。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述S302包括：
S3020、引线牢固性检查，用于检查所述第一分组的任一元器件的引脚...
【专利技术属性】
技术研发人员：邝栗山，刘莉，曹庆，吴中祥，袁满，
申请(专利权)人：航天科工空间工程发展有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42
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