【技术实现步骤摘要】
用于联接色度范围传感器光学探针与坐标测量机的配置
本公开总体上涉及精密测量仪器，更具体地，涉及色度范围传感器光学探针，例如可以与坐标测量机一起用于测量工件。
技术介绍
在一种坐标测量机中，用探针扫描工件表面。扫描后，提供工件的三维分布。在一种类型的扫描探针中，通过将探针的机械接触部接触沿工件表面的不同点来直接测量工件。在某些情况下，机械接触部是球。在另一坐标测量机中，使用光学探针来测量工件，而不与表面发生物理接触。某些光学探针(例如，三角测量探针)利用光来测量工件表面点，并且一些光学探针包括用于对工件表面的2D部分成像的摄像机(例如，立体视觉系统或结构光系统)。在一些系统中，工件几何要素的坐标通过图像处理软件来确定。使用光学和机械测量传感器的某些“组合式”坐标测量机也是已知的。一种这样的装置在美国专利No.4，908，951中被描述，其全部内容通过引用结合于此。所描述的设备具有两个主轴，一个承载机械探针，另一个支撑具有光束路径的摄像机，激光探针同时反射到该光束路径中，用于在Z坐标中进行测量，即沿着摄像机的光轴...
【技术保护点】
1.一种系统，包括：/n坐标测量机CMM，包括：/n光产生电路；/n波长检测电路；/nCMM控制电路；/n具有自动更换接头连接部的探针头部；和/n安装到探针头部的自由空间光纤联接部的第一联接元件；和/n色度范围传感器CRS光学探针，包括：/n具有共焦光路的光笔，所述共焦光路至少包括共焦孔和色散光学部分，所述光笔被配置为在待测量工件表面附近将不同波长聚焦在沿测量轴的不同距离处；/n自由空间光纤联接部的第二联接元件，安装到CRS光学探针；和/n自动更换接头元件，其能通过自动更换接头连接部附接到CMM，其中，自由空间光纤联接部的第一和第二联接元件中的一个包括具有一对透镜的自由空间...
【技术特征摘要】
20191127 US 16/698,0781.一种系统，包括：
坐标测量机CMM，包括：
光产生电路；
波长检测电路；
CMM控制电路；
具有自动更换接头连接部的探针头部；和
安装到探针头部的自由空间光纤联接部的第一联接元件；和
色度范围传感器CRS光学探针，包括：
具有共焦光路的光笔，所述共焦光路至少包括共焦孔和色散光学部分，所述光笔被配置为在待测量工件表面附近将不同波长聚焦在沿测量轴的不同距离处；
自由空间光纤联接部的第二联接元件，安装到CRS光学探针；和
自动更换接头元件，其能通过自动更换接头连接部附接到CMM，其中，自由空间光纤联接部的第一和第二联接元件中的一个包括具有一对透镜的自由空间透镜系统，自由空间光纤联接部的第一和第二联接元件中的另一个被配置为接收由所述一对透镜在自由空间中传输的聚焦光。
2.根据权利要求1所述的系统，其中，所述第一联接元件包括第一运动联接部，所述第二联接元件包括被配置成与所述第一运动联接部配合的第二运动联接部。
3.根据权利要求2所述的系统，其中，所述第一联接元件包括所述透镜系统，并且，所述第一联接元件的端平面或所述第一和第二运动联接部的运动联接平面中的至少一个位于所述透镜系统和所述第二联接元件的光纤之间。
4.根据权利要求2所述的系统，其中，所述第二联接元件包括被配置为保护光纤的玻璃窗。
5.根据权利要求4所述的系统，其中，所述玻璃窗包括抗反射涂层。
6.根据权利要求1所述的系统，其中，所述第一联接元件和所述第二联接元件包括光纤套管连接器。
7.根据权利要求6所述的系统，其中，光纤套管连接器是角抛光连接器。
8.根据权利要求1所述的系统，其中，所述透镜系统包括色差校正透镜系统。
9.根据权利要求1所述的系统，其中，所述第一联接元件包括所述透镜系统，并且所述透镜系统被配置为保护所述第一光纤线缆的光纤。
10.根据权利要求1所述的系统，其中，所述透镜系统被配置为将经由所述CRS光学探针的光纤线缆的光纤接收的反射光准直，并将准直的反射光聚焦到所述CMM的光纤线缆的光纤中。
11.一种自由空间光纤联接部，包括：
第一联接元件，其具有第一光纤连接器，所述第一光纤连接器被配置为通过第一光纤线缆的光纤联接到坐标测量机CMM的波长检测器和光源元件，所述第一联接元件被配置为安装到CMM的探针头部；和
第二联接元件，其具有第二光纤连接器，所述第二光纤连接器被配置为通过第二光纤线缆的光纤联接到色度范围传感器CRS光学探针的光笔，所述第二联接元件被配置为安装到CRS光学探针，其中，所述第一和第二联接元件被配置为可拆卸地联接在一起，并且第一和第二联接元件...
【专利技术属性】
技术研发人员：DW塞斯科，I弗里尔科森，
申请(专利权)人：株式会社三丰，
类型：发明
国别省市：日本;JP
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